蛍光X線分光器 JSX-1000S

実験用光学機器用SDD

JSX-1000Sは、タッチパネルを採用した簡単に元素分析ができる蛍光X線分析装置です。 一般的な定性定量分析（FP法・検量線法）や、RoHS元素のスクリーニング機能を備えています。　 ハードウェア・ソフトウェア両面の各種オプションにより、さらに幅広い分析が可能です。 特長 蛍光X線分析原理 試料にＸ線を照射すると、試料に含まれる元素特有のエネルギーを持つＸ線が発生します。 これを蛍光X線と呼びます。この蛍光Ｘ線を半導体検出器で検出し、エネルギー（横軸）から元素の種類をＸ線の強さ（縦軸）から元素の濃度を算出する分析法です。 ソリューションの提供 ソリューションアプリは、予め登録されたレシピに従い目的の測定分析を自動実行します。ソリューションアプリリストから目的のソリューションアイコンを選択するだけで簡単に分析結果が得られます。多種多様な分野において簡単分析を提供します。 新開発のスマートFP (ファンダメンタルパラメータ) 法 新開発のスマートFP (ファンダメンタルパラメータ) 法により、標準試料を準備することなく、かつ自動的に残成分および厚さの補正を行った高精度な定量結果が得られます。 （残成分補正および厚さ補正機能は、有機物試料のみに対応しています） 砂に含まれるZr ED XRF→SEM EDS (YOKOGUSHI提案) ジルコニウム(Zr)は海浜や河川の砂に含まれています。しかし、全ての砂にZrが含まれているわけではありません。 XRFを用いることで砂粒群にZrが含まれているかを迅速に判別することができます。また、SEM EDSを利用するとZrが存在する砂粒を特定することができます。 XRFとSEM EDSを併用することで、目的元素の所在を絞り込む事ができます。