自動標本準備システム EM-09100IS Ion Slicer™

走査型電子顕微鏡用

透過電子顕微鏡用の薄膜試料が簡便に作製できる画期的な装置です。 特長 厚さ100µmの試料から簡便な手順で電子顕微鏡用の薄膜試料が作製できます。 鏡面研磨やディンプルグラインダ処理をする必要がありません。 矩冊状に試料を加工するだけでイオン研磨処理が行えます。 柔らかい金属材料などでも歪が入りにくく、研磨時の破損も少ないので、効率よく試料作製が行えます。 硬度差の大きい試料や複合材料、脆い試料の薄膜作製も行えます。