光学式検査機 TWE Tester

産業用エレクトロニクス産業用自動

製品名 TWE Tester（JPT）

概要 JPTのTWE Testerは、レーザーモジュールおよび高精度自動光学検査システム向けのモジュールテスターです。R&Dでの評価から量産時の品質管理まで、幅広い検査ニーズに対応します。

カテゴリ Intelligent Equipments / Module Tester

用途

• レーザーモジュールの試験・特性評価
• 高精度自動光学検査
• R&D検証および生産ラインでの品質管理

主な特長

• シャック・ハルトマン型センサーによる波面測定
• 高い位相分解能（<4 nm RMS）と絶対精度（約10 nm RMS）
• 広帯域試験に対応する波長範囲（400–1100 nm）
• 異なる部品に対応するクイックチェンジホルダーを備えたモジュール式コンパクト設計
• 非接触式の高速取得、再現性の高い結果、リアルタイム処理
• マルチバンド切替とカスタムレポート出力を備えた統合ソフトウェア

技術仕様

• 波長範囲: 400-1100 nm
• 測定開口: 5.02 mm × 3.75 mm
• 位相空間分解能: 27.6 μm – 77.28 μm（ビームエクスパンダによる）
• 位相分解能: <4 nm RMS
• 絶対精度: 10 nm RMS
• 取得周波数: 60 fps
• リアルタイム処理: 10 fps（フル解像度）
• インターフェース: ギガビットイーサネット
• 局所/部品重量: 約400 g
• 装置重量: 1000 kg
• 上/下料方式: 手動搬入/搬出；手動スライド＋クイックチェンジホルダーシステム
• 電源: AC 220 V、50 Hz；消費電力: 1.5 KW；定格電流: 6.8 A
• エア供給: φ10；0.5–0.7 MPa
• 外形寸法: 910 mm × 12500 mm × 2040 mm

利用シーン

• 民生用電子機器向け光学部品の画質評価および収差解析
• 平面部品やレンズ類の生産検査および品質管理
• マルチバンド光学特性の検証とカスタムレポート出力

参照

• ブランド: JPT
• 製品: TWE Tester
• 製品ファミリー: Module Tester
• ソースページ: https://en.jptoe.com/products/intelligent-equipments/module-tester/twe-tester