フィルム用厚さ計 thicknessGAUGE O.IMS
薄物用据え置き型非接触式

フィルム用厚さ計 - thicknessGAUGE O.IMS - MICRO-EPSILON - 薄物用 / 据え置き型 / 非接触式
フィルム用厚さ計 - thicknessGAUGE O.IMS - MICRO-EPSILON - 薄物用 / 据え置き型 / 非接触式
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特徴

応用
薄物用, フィルム用
タイプ
据え置き型
技術
非接触式, 光学
校正
自動校正
その他の特徴
精密, コンパクト, 高解像度, 非接触, インライン, コンピュータ化された, プロセス監視用, ロール付
測定精度

最少: 0.2 µm

最大: 0.2 µm

測定幅

最少: 0 mm
(0 in)

最大: 1,250 mm
(49.2 in)

詳細

概要
thicknessGAUGE O.IMSは、セパレータ箔および電池被覆のインライン厚さ測定のためのコンパクトなセンサシステムです。システムはコンパクトなOフレーム構造で、フィルムを透過して測定する白色光干渉計を使用し、片側からの非接触測定を実現します。2本の搬送ローラがストリップを安定化して信頼性の高い測定を可能にします。

測定モードと用途
本システムは、トラバース(走査)測定または固定トラック測定(例:中心線測定、エッジ測定)で動作します。間欠フィルムや縦方向に被覆されたフィルムに適しており、固定位置での測定や縦方向の厚みプロファイルの取得が可能です。

ソフトウェアと統合
本コンパクトユニットは、モータ制御を含む一体型リニアユニット、コンパクトなバス端子箱、自動キャリブレーション装置、プリインストール済みソフトウェアを搭載したマルチタッチPCを含みます。付属ソフトウェアはデータ収集、信号処理および自動化をサポートします。対応モードには、固定トラック測定、プロファイル測定、複数の縦方向傾向測定、SPCパッケージおよび測定システム能力の自動監視が含まれます。

用途
  • 被覆有り/無しの電池箔およびセパレータ箔の高分解能厚さ測定
  • 固定トラック測定(例:中心線)およびトラバースによるプロファイル測定
  • インライン品質管理のための間欠フィルムおよび縦方向被覆フィルムへの適用

特性 / 技術仕様
  • モデル: thicknessGAUGE O.IMS
  • センサ技術: 白色光干渉計(片側非接触測定)
  • インライン厚さ測定のためのコンパクトなオールインワンソリューション
  • 被覆有り/無しの電池箔およびセパレータ箔に適合
  • 最大材料幅: 1250 mm
  • システム精度: ±0.2 µm
  • 測定モード: トラバース(走査)または固定トラック測定
  • ストリップ安定化: 2本の搬送ローラ
  • 全自動キャリブレーション
  • データ収集、信号処理、自動化のためのソフトウェアを同梱

カタログ

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。