光学式マイクロメーター RF657.2D Series
走査電子厚さ

光学式マイクロメーター - RF657.2D Series - RIFTEK EUROPE - 走査 / 電子 / 厚さ
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特徴

タイプ
電子, 光学式, 走査
測定対象
厚さ, 深層, 多機能
応用
大径用, 業務用, 穴直径用, 線径用, ケーブル直径, 板金用
ディスプレイ
デジタル
その他の特徴
高精度, 高速, マイクロ, 手動式, 2軸
測定可能範囲

最少: 15 mm
(0.591 in)

最大: 60 mm
(2.362 in)

分解能

最少: 0.5 µm

最大: 3 µm

詳細

2次元光学マイクロメータRF657.2Dシリーズ 2次元光学式マイクロメータは、線径、直径、角度、ねじパラメータ、部品形状、振れなどの非接触インライン2次元一括測定用に設計されています。 光学式マイクロメータは「シャドー」測定原理を採用しており、平行化されたレーザー光が受光器に向かって照射されます。 ビームの経路上にある物体が落とす影のエッジは、レシーバーユニット内のディテクターアレイによって正確に測定されます。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。