光学式マイクロメーター RF651
レーザー内側厚さ

光学式マイクロメーター - RF651 - RIFTEK EUROPE - レーザー / 内側 / 厚さ
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特徴

タイプ
レーザー, 光学式
測定対象
内側, 厚さ
応用
線径用
その他の特徴
無接触, CCD
測定可能範囲

25 mm, 50 mm, 75 mm, 100 mm
(0.984 in, 1.969 in, 2.953 in, 3.937 in)

分解能

5 µm, 10 µm, 15 µm, 20 µm

詳細

1次元光学マイクロメータは、平行化されたレーザ光を受光器に向かって透過させる「シャドウ」測定原理を採用しています。ビームの経路上にある物体が落とす影のエッジは、レシーバーユニット内のディテクターアレイによって正確に測定されます。光学式マイクロメータは、非接触でワイヤーやロッドなどの円柱の直径を測定することができ、また、隙間やエッジの位置、幾何学的物体の寸法特性も測定することができます。 -ダイレクトスルービームマイクロメータ -送受信間の距離が長い

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。