光学式マイクロメーター

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LEDマイクロメーター
LEDマイクロメーター
LS-9000 series

測定可能範囲: 0.01 mm - 30 mm

... 現場の測定で必要な性能を追求 LEDカメラ方式が実現する圧倒的な実力と耐久性。 : あらゆるシーンで抜群の対応力 圧倒的な速度、精度、耐久性により、シーン、素材を選ばず安定した測定を実現します。 ...

LEDマイクロメーター
LEDマイクロメーター
ZM10X series

測定可能範囲: 5 mm - 100 mm

... 光学マイクロメータは「シャドー」測定原理を採用しており、平行化されたレーザ光が受光器に向かって伝送されます。 ビームの経路上にある物体によって投影された影のエッジは、レシーバーユニット内のディテクターアレイによって正確に測定されます。 光学式マイクロメータは、非接触でワイヤーやロッドなどの円柱の直径を測定することができ、また、隙間やエッジの位置、幾何学的物体の寸法特性も測定することができます。 主な特長 2 最大±0.3 μmの精度 3. 最大10 000 Hzのサンプリングレート 4. ...

LEDマイクロメーター
LEDマイクロメーター
optoCONTROL 2700

測定可能範囲: 10 mm - 40 mm
分解能: 10 nm

... 高い要求に応える高性能マイクロメータ optoCONTROL 2700は、直径、ギャップ、エッジ、セグメントを正確に測定するためのコンパクトなLEDマイクロメータです。このマイクロメータは、非常に高い精度と測定速度が特徴です。コントローラがレシーバに内蔵されているため、ケーブル配線や取り付け作業が最小限に抑えられます。 測定範囲10mmと40mmの2つのモデルにより、オートメーションや品質保証の分野で数多くの応用が可能です。アクティブな傾き補正機能により、45°まで傾いた対象物も極めて正確に検出します。設定はウェブインターフェースを介して簡単に行うことができ、ビデオ信号、フィルタ、各種測定モードのパラメータ設定が可能です。セットアップモードでは、影像を使用して測定対象物の位置合わせを簡単に行うことができます。優れた価格性能比が、性能パッケージの最後を締めくくります。 ...

光学式マイクロメーター
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optoCONTROL 2520

測定可能範囲: 46 mm - 95 mm
分解能: 1 µm - 2 µm

... optoCONTROL 2520 は、コントローラが統合されているコンパクトなレーザーマイクロメーターです。分解能が高く、測定範囲は 46 mm で取付け距離が可変式なので、品質モニタリングや生産チェックにおける使用領域が多岐に渡ります。測定対象物はライトカーテンの範囲内のどの位置にあってもよく、トランスミッターからレシーバーまでの距離も自由に選択いただけます。 "インターフェースには RS422 および Ethernet/EtherCAT が使用でき、 コンフィグレーションはウェブインターフェースを介して快適に行えるので、測定値や限界値の表示や、測定プログラムの選択、フィルタの適用といった作業を簡単に実行することができます。また、測定タスクもビデオ信号で難なくセットアップが可能です。" ...

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optoCONTROL 1200

測定可能範囲: 2 mm - 30 mm
分解能: 8 µm - 70 µm

... optoCONTROL 1200 シリーズのレーザーマイクロメーターは光量測定の原則に基づいており、評価エレクトロニクスがケース内にすべて統合されているので、取り付け方法が非常に柔軟です。測定レートが最大 100 kHz と非常に高く、極めて動的な使用場面でも測定が可能です。マイクロエプシロン社による他の光学マイクロメーターすべてと同様、 optoCONTROL 1200 も非接触かつ非磨耗で作動します。 特徴 測定範囲(mm)2 | 5 | 10 | 16 | 20 | 30 直線性 ...

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光学式マイクロメーター
QUADRALINE

測定可能範囲: 0.1 mm - 30 mm
分解能: 0.01 µm

... QUADRALINE.XYは、長方形のような断面を有する押し出しまたは圧延成形品の2つの寸法をインラインで制御するように設計されたレーザーシステムです。Quadralineは、その特殊機能により、厳しい位置合わせも必要なく、信頼性の高い正確な測定を保証し、製品の振動やねじれも許容します。 QUADRALINEレーザーシステムは、ヘアピン用のフラットワイヤー、金属断面、プラスチック押し出し断面、超電導ワイヤー、エナメルストラップなど、長方形断面を有する圧延または押し出し成形品の2つの寸法をオンラインで監視するように特別に設計されています。 ...

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光学式マイクロメーター
DLAB

測定可能範囲: 0.5 mm - 8 mm
分解能: 0.1 µm

... D-Labは高性能で使いやすいダイスチェック装置です。絞りダイスの直径と楕円度を効率的かつ迅速に測定します。 オペレーターの技量に左右されることなく、再現性のある客観的な結果が得られます。 - 非接触測定 - テレセントリック光学系とLED平行光源を採用。 - 2D CMOSセンサーとサブピクセルエッジ検出アルゴリズムによる画像解析。 - 高い柔軟性:システムのリマスタリングなしで異なるダイの測定が可能。 - ワークショップ環境での使用に適した堅牢な構造。 - イタリア製の高信頼性マザーボードを使用したオールインワン組込みPC。 - ...

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IG series

測定可能範囲: 10, 28 mm
分解能: 100, 10, 1,000, 1 µm

... 高精度な判別を実現 対象物の透過量の影響を受けない CCD透過型デジタルレーザセンサ ポジションモニタの搭載による抜群の使い勝手 受光素子にはL-CCDを採用しています。位置でワークを認識しますので、周囲環境の影響を受けづらく、安定した検出を行うことができます。 ※L-CCD:Line-Charge Coupled Device レーザ光の多波長化によって高い安定性と測定精度を実現 通常のレーザは投光スポットが右の図のように斑点状の模様のようになっています。これはレーザ特有の干渉による現象であり、レーザが単一波長であることが原因です。IGはレーザ光の多波長化によってこの問題を解決。CCDに写る影がより明確になりましたので、透明体などの難易度の高いワークでも高い安定性を実現します。 ...

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Keyence
厚さマイクロメーター
厚さマイクロメーター
OptiMike™

... 高性能で使いやすいオンライン直接厚さ測定 OptiMike™ OM190光学マイクロメーターは、非金属シートおよび厚膜製品の正確な影の厚さを測定します。 • インテリジェントな非接触測定 — サブミクロン精度で高度な光学厚さ測定 • 柔軟性 — 製品の色、密度、光沢の影響を受け ない • 使いやすい — 製品の切り替え時に校正が不要 • 非核技術 — 特別な必要ないライセンスまたは保護 ガード • ギャップ変更またはロールランアウトの動的補償 — センシング技術は測定ギャップ距離の変化を補償;高精度リファレンスロールは低振れ特性を備え、正確で絶対的な測定性能 を実現 ...

光学式マイクロメーター
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RF651

測定可能範囲: 25, 50, 75, 100 mm
分解能: 5, 10, 15, 20 µm

... 1次元光学マイクロメータは、平行化されたレーザ光を受光器に向かって透過させる「シャドウ」測定原理を採用しています。ビームの経路上にある物体が落とす影のエッジは、レシーバーユニット内のディテクターアレイによって正確に測定されます。光学式マイクロメータは、非接触でワイヤーやロッドなどの円柱の直径を測定することができ、また、隙間やエッジの位置、幾何学的物体の寸法特性も測定することができます。 -ダイレクトスルービームマイクロメータ -送受信間の距離が長い ...

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RIFTEK EUROPE
LEDマイクロメーター
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RF657R.2D Series

測定可能範囲: 25 mm - 100 mm
分解能: 0.5 µm - 3 µm

... 2次元光学マイクロメータ RF657R.2Dシリーズ 2次元光学マイクロメータは、直線寸法、直径、角度、ねじパラメータ、部品形状、振れなどの非接触インライン2次元一括測定用に設計されています。 光学式マイクロメータは「シャドー」測定原理を採用しており、平行化されたレーザー光が受光器に向かって照射されます。 ビームの経路上にある物体が落とす影のエッジは、レシーバーユニット内のディテクターアレイによって正確に測定されます。 ...

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RF656

測定可能範囲: 5 mm - 100 mm
分解能: 0.3 µm - 5 µm

... 1次元光学マイクロメータは、平行化されたレーザ光を受光器に向かって透過させる「シャドウ」測定原理を採用しています。ビームの経路上にある物体が落とす影のエッジは、レシーバーユニット内のディテクターアレイによって正確に測定されます。光学式マイクロメータは、非接触でワイヤーやロッドなどの円柱の直径を測定することができ、また、隙間やエッジの位置、幾何学的物体の寸法特性も測定することができます。 -テレセントリックレンズ付き高精度マイクロメータ ...

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光学式マイクロメーター
光学式マイクロメーター
966

測定可能範囲: 0.66, 0.26 in

... 光学マイクロメータは、曲面や平面を問わず、あらゆる表面を非接触で測定できます。 キズ、割れ、クレーズ、空洞の深さ、透明材料(ガラス、アクリルなど)の厚さの測定に便利です。また、傷、ひび割れ、腐食、くぼみ、傷跡、小さなへこみなどの欠陥も測定できます。 モデル966Aのオプションのレチクル接眼レンズを使用すると、0.040インチまでの幅測定が可能です。 このポータブル測定器は、フロントガラス、リーディングエッジ、機体フレーム、機体表皮、プロペラブレード、ローターブレード、タービンブレード、塗装面、その他多くのフィールドアプリケーションに最適です。 商品詳細 頑丈なハウジングと読みやすいバーニアスケールを備えた光学マイクロメータです。 ...

光学式マイクロメーター
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BMD

測定可能範囲: 2 mm - 270 mm
分解能: 0.1 µm

... 内径・外径測定用の使いやすい自己指示型ボアゲージ。 高精度の内径をØ2.0mm(T-BMD)~270mmまで連続生産する際に使用します。 プラグゲージBMDは、以下のことを可能にします。 - 静的および動的測定 - 寸法偏差や形状不良を検出する。 - 機械で直接ボア加工を行うハンドツールとして - 測定治具や機械でのフィッティング 標準プログラムでは、基本的なタイプを幅広く取り揃え、便利なアクセサリーを追加することで、現在の実務で遭遇するほぼすべてのボアを正確に測定することができます。フレキシブルなプラットフォームで、幅広い用途に対応します。 ...

光学式マイクロメーター
光学式マイクロメーター

測定可能範囲: 6 mm - 300 mm

... 270種類以上のモデルをご用意しており、生産環境で直接100%の部品を正確に測定するための理想的なソリューションがVEA光学マイクロメータです。これらのマイクロメータは、表面品質管理を同時に行うことができます。 VEAの光学式マイクロメータは、光学ユニットと照明器を結合する事前校正済みのサポートが不要なシンプルな校正システムを採用しているため、精度が低下するリスクを負うことなく、あらゆる種類の工場や生産ラインに取り付けることができます。 これらの機器のトップメーカーであるVEAの光学マイクロメータは、一連の独自技術により、工業環境での精度を保証しています。 • ...

レーザーマイクロメーター
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3iMicro1

測定可能範囲: 3 mm - 100 mm

... シャドウレーザーマイクロメーターは、ブレーキディスクの厚みやエンジンシリンダーの直径を測定する自動車産業、航空機部品の高さを測定する航空宇宙産業、人体組織の厚みを測定する医療産業、ガラスやプラスチック、金属板の厚みを測定する製造産業など、幅広い用途で使用されています。 シャドウレーザーマイクロメーターの大きな特長は、数ミクロンまでの分解能で測定できる高精度・高精度にあります。また、高速で使いやすく、非破壊であるため、幅広い産業分野の品質管理・検査に最適なツールです。 以上のように、シャドウレーザーマイクロメーターは、さまざまな用途で正確で精密な測定を行うために不可欠なツールであり、品質管理や検査に非接触・非破壊のソリューションを提供します。 ...

レーザーマイクロメーター
レーザーマイクロメーター
AN-21SM

測定可能範囲: 25 mm - 100 mm

... 光学マイクロメータAN-21SMは、高精度モードで幾何学的パラメータと物体の位置を測定し、断面における幾何学的寸法および物体の平均直径を測定することができる 要約 光学マイクロメータAN-21SMは、幾何学的パラメータおよび物体の位置を測定することができる高精度モードでは、オブジェクトの断面および平均直径の幾何学的寸法を測定し、完成した部品の制御およびトラブルシューティング、解体することなく詳細の制御。 マイクロメーターは1クラスのレーザー製品を指すので、絶対に安全です。 仕様 光学マイクロメータの基本仕様 ...

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