アドバンスト型プローブカードは、半導体のウエハテストに欠かせない検査治具です。ICチップが基板に実装される前の段階で、回路の動作確認や品質チェックを行います。プローブカードの役割は、ウエハ上の各ICチップのピンに微小な電気信号を送受信し、テストデータを収集することです。これにより、各チップが正常に動作しているかを迅速かつ正確に判定できます。製造プロセスの初期で不良を見極める重要な役割を果たします。
アドバンスト型(垂直型)プローブカードは、従来のカンチレバー型では難しかった多数個同時測定やウエハ一括測定を可能にし、テスト効率を飛躍的に向上させます。さらに、高精度なコンタクト技術により、高周波測定や大電流測定にも対応可能です。
このプローブカードは、ハイスループットを実現し、測定効率を飛躍的に向上させるだけでなく、メンテナンスのしやすさにも優れています。お客様のニーズに合わせた最適なソリューションを提供し、スムーズで効率的なウエハテストを実現します。
用途例
- ウエハテスト
- IC設計
- デバッグ など
構成
アドバンスト型プローブカードは、「プローブヘッド(ハウジング)」と「プローブカード基板」で構成される検査治具です。精研では、プローブヘッドを自社製作し、高精度なコンタクトプローブと加工技術を活かして、お客様のニーズに柔軟に対応可能です。
- プローブヘッド(ハウジング)の特長
- エンジニアリングプラスチックまたはセラミックスを使用し、用途に合わせた形状で切削加工。
- 選定可能な材料例
- 樹脂材料:スミカスーパー、トップファインなど
- セラミックス:ホトベールⅡなど
- コンタクトプローブを確実に固定し、最適なテスト環境を提供。
- プローブカード基板の種類
- 専用基板(量産・電気特性重視):各ユーザーの用途に合わせて設計・製作。カスタマイズ性が高く、最適なテスト環境を実現。
- 汎用基板:一般的なテスターメーカーの規格に準拠し、柔軟なテスト環境を構築可能。ピンブロックからジャンパー配線を通じて接続し、さまざまなテストに対応。
- プローブヘッドと基板の接続方法
- 専用基板(配線レス・高精度):プローブヘッドと基板が直接ドッキングし、配線不要。量産時のランニングコスト削減。特定のデバイスレイアウトに依存し、汎用性はない。
- 汎用基板(柔軟対応・高互換性):基板中央に開口部を設け、プローブヘッドを固定。デバイスのレイアウト変更に対応可能。配線抵抗が高く、高周波・微小電流テストには不向き。
特長と強み
- 精密な位置決めと個片測定が可能:ダイシングされたチップをマニュアルで測定可能。ガイド枠や蓋の追加オプションあり。個片測定・検査にも対応。
- プローブ交換で治具全体のメンテナンスが簡単:プローブ部分の交換のみで治具全体のメンテナンスが可能。ランニングコスト削減。
- お客様の検査条件に最適なソリューションを提供:1台からの試作・開発にも対応。
特徴・仕様(Characteristics / Specifications)
- 用途:半導体ウエハテスト、IC設計、デバッグ
- 構成:プローブヘッド(ハウジング)、プローブカード基板(専用基板・汎用基板)
- 材料:エンジニアリングプラスチック(スミカスーパー、トップファイン等)、セラミックス(ホトベールⅡ等)
- 接続方法:配線レスドッキングまたはジャンパー配線
- 特長:高精度コンタクト、高周波・大電流対応、メンテナンス容易、カスタマイズ対応