概要Cu-AlN-Cuの三層構造を持つサブマウントで、高出力レーザーダイオード(LD)モジュールのヒートシンク用途を想定しています。Cu/AlN/Cuの複合構成により高い熱伝導性を確保しつつ、電気的絶縁性を保持します。Cuめっきや各層の厚みを制御することでLD素子との熱膨張係数(CTE)をマッチング可能とし、出力向上や寿命延長に寄与します。クリティカルエッジ部にプルバックが不要なため、パッケージや光学設計の自由度が高くなります。
特長- Cu + AlN複合により熱伝導性と電気絶縁性を両立
- CuおよびAlNの厚み調整によりLDとのCTEマッチングが可能
- マルチエミッターLD用途に適合
- クリティカルエッジ部でのプルバック不要
- AuSn / AuGe はんだ蒸着対応可能
- シャープエッジにより高精度なLDアライメントが可能
特性比較データ(参考)単位 / Cu-AlN-Cu / AlN / CuW(10/20)
材料特性 / − / 絶縁性 / 導電性
熱伝導率(W/m·K) / 190〜250※ / 170 / 180/200
CTE(ppm/℃) / 6〜10※ / 4.6 / 6.5/8.3
電気抵抗率(Ω·m) / − / − / 5.3/4.0 (×10-8)
使用電圧(V) / <200 / <200 / NA
比誘電率(@1 MHz) / − / 9 / NA
誘電体損失(Tan δ) / − / 5×10-4 / NA
(※設計により制御可能)
用途- 産業用レーザー:溶接、切断、マーキング、表面処理(焼鈍)など
- 医療用レーザー:眼科、脱毛、内視鏡用レーザーシステム
- 半導体装置:パワー素子やレーザー加工装置
- デジタル機器:レーザープリンター、複合機
特性・仕様(抜粋)- 製品種別:絶縁型 Cu-AlN-Cu 三層サブマウント(Cu / AlN / Cu)
- 機能:高出力LDモジュール向けのヒートシンク(熱伝導性と電気絶縁性の両立)
- 熱伝導率:190〜250 W/m·K(Cu-AlN-Cu、設計により制御可能)
- CTE:6〜10 ppm/℃(設計により制御可能)
- 電気抵抗率:Cu-AlN-Cuは未指定(導電性の値はCuWを参照)
- 使用電圧:<200 V
- 比誘電率(@1 MHz):9(参考値)
- 誘電体損失(Tan δ):5×10-4(参考値)
- はんだ対応:AuSn / AuGe はんだ蒸着対応
- エッジ品質:エッジR < 20 μm(高精度アライメント)
- 設計メモ:Cuめっき厚の制御によるLDとの熱的整合;クリティカルエッジのプルバック不要;Cu/AlN厚の調整でCTEを最適化
- 推奨用途:マルチエミッターLD、Pサイドダウン構成