測定用タッチプローブ WCP
光学式走査磁気

測定用タッチプローブ
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特徴

タイプ
測定用
技術
光学式, 走査, 磁気
応用
3次元測定器

詳細

従来は輪郭測定器しか使えなかった作業も、マルチセンサー座標測定機上のWerth Contour Probeで解決できるようになりました。この触覚・光学式輪郭プローブは初めて、定義されたワーク座標での触覚輪郭計測を可能にしました。従来の輪郭形状測定機とは対照的に、WCPの特別なガイドウェイシステムは、優先的な方向なしに任意の断面でのスキャンを可能にします。 - また、CNC制御で粗さを測定することができ、ワークを再クランプすることなく、ワーク座標系で輪郭をスキャンすることができます。 - WinWerth®測定ソフトウェアに統合された粗さライブラリにより、規格に沿った粗さ値を算出することができます。 - センサーは交換ラックによりCNC制御で交換可能 精度 許容プロービングエラー:2μmまで 機能性 触覚・光学式輪郭検出器では、レーザー距離センサー a) (b) 磁気インターフェース、c) ミラー、d) ベアリングを使用して、ワーク表面 f) を走査しながら輪郭検出器先端 e) の変位を測定します。)

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カタログ

The Multisensor
The Multisensor
20 ページ
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。