Jeolの研究所用顕微鏡

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透過型電子顕微鏡顕微鏡
透過型電子顕微鏡顕微鏡
JEM-ARM300F2

重量: 100 kg

新型原子分解能電子顕微鏡 "GRAND ARM™2" 登場! 原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM300F "GRAND ARM™" を さらに進化させ、低加速から高加速までさまざまな加速電圧にて、超高空間分解能観察と高感度分析を両立させました。 新開発対物レンズFHP2 加速電圧300 kV対応の超高空間分解能観察用対物レンズポールピースFHPの性能はそのまま維持しつつ、大面積(158 ...

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電子顕微鏡
電子顕微鏡
JEM-Z300FSC

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)は、冷陰極電界放出形電子銃、インカラム形エネルギーフィルター(オメガフィルター)、サイドエントリー液体窒素冷却ステージ、ならびに自動試料交換機構を装備した生体高分子をクライオ温度で観察できる電子顕微鏡です。自動試料交換機構内に最大12個の試料を保管することができます。保管中の試料は1個、または複数個取り外しおよび交換ができるので、柔軟に測定のスケジューリングが行えます。また、新設計のオメガフィルターとホールフリー位相板を組み合わせて使用することにより ...

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透過型電子顕微鏡
透過型電子顕微鏡
JEM-ARM200F

分解能: 0.08 nm - 0.23 nm

"NEOARM"は、当社独自の技術で開発された冷陰極電界放出形電子銃(Cold-FEG)と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置(ASCOR)を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。 また、当社独自の収差補正アルゴリズムを開発し高速かつ正確な収差補正を自動的に行うシステムを搭載しました。これにより、ハイスループットな原子分解能観察を提供します。 さらに、加速電圧によらず高い軽元素のコントラストが得られる新型STEM検出器を搭載しました。これにより軽元素のコントラストを向上させゆく新たなSTEMイメージング手法(e-ABF法)が可能となり、軽元素を含む材料の明瞭なコントラスト観察が容易になります。 昨今、主流となっておりますリモート操作のご要求に応えるため、本体と操作卓を分離し当社の新しいコンセプトカラーであるピュアホワイトとJEOLシルバーを採用し、より洗練されたフォルムデザインに仕上がりました。

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透過型電子顕微鏡
透過型電子顕微鏡
JEM-F200

分解能: 0.19, 0.23 nm

... 空間分解能と分析性能を向上させるとともに、多目的な使い方における操作性を考慮した新しい操作システムを搭載し、電子顕微鏡の初心者から熟練者まで思わず使いたくなるようなスマートな外観を備え、省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡です。 Smart design JEM-F200 は『スマートさ』を追求した新たな装いになっています。 特に分析電子顕微鏡操作について、直感性を重視したユーザーインターフェースを新たに開発しました。 また、JEOL ...

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電子顕微鏡
電子顕微鏡
JEM-2200FS

倍率 : 2,000 unit - 800,000 unit
分解能: 0.1 nm - 0.31 nm

基礎から応用研究まで JEM-2200FS は、フィールドエミッション形電子銃を光源に持ちΩ形インカラム形エネルギーフィルタを搭載した分析電子顕微鏡です。 本装置のフィルタワークにより、試料中の元素分析はもちろん、その化学結合状態の分析もできます。ゼロロスフィルタ像や、エネルギー選択像からは観察の目的に応じた情報を得ることができます。 特長 インカラム形オメガフィルタ 最適化された光学系設計によりディストーションフリーを実現したインカラム形エネルギーフィルタにより高精度のエネルギーフィルタ ...

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透過型電子顕微鏡
透過型電子顕微鏡
JEM-2100Plus

分解能: 0.14 nm - 0.31 nm

特長 JEM-2100Plusは、定評のあるJEM-2100の光学系に最新の制御系をプラスし、操作性を大幅に向上した多目的の電子顕微鏡です。 JEM-2100Plusの優れた基本性能と簡単かつ分かりやすい操作性は、材料研究から医学・生物研究の幅広い分野で優れたソリューションを提供します。 操作性の向上 64 ビット版Windows® 上で動作する最新の操作ソフトウェア“TEM ...

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電子顕微鏡
電子顕微鏡
JEM-1400Flash

倍率 : 10 unit - 1,500,000 unit
分解能: 0.2, 0.14 nm

... をはじめ高分子材料研究、医薬品、病理切片、ウイルス、蛍光顕微鏡でマーキングを施した試料等では、まず低倍率観察で組織や構造、位置、視野の全体的な様子を確認し、その上で注目する微細な構造を高倍率で詳細に観察をしていくというフローが多く、近年この一連の観察フローをより簡単に、スループット良く、ハイスピードでデータを取得したいというニーズが高まっております。 JEM-1400Flashはこのニーズに応えるため、高感度sCMOSカメラや超広視野モンタージュシステム、さらには光学顕微鏡画像と電子顕微鏡のリンク機能 ...

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走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡
JSM-7900F

倍率 : 3,500 unit - 100,000 unit

特長 超高空間分解能、高い安定性、マルチパーパスといった従来の装置で高い評価をいただいてきた性能はそのままに、操作性を大きく向上させ、オペレーターのスキルに依存することなく、常に高いパフォーマンスを発揮するJEOLの新しいフラッグシップFE-SEMです。 Neo Engine(New Electron Optical Engine) レンズ制御システムと自動機能技術を統合させた新開発の次世代型電子光学制御システムNeo Engine(New Electron ...

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電界放出形走査電子顕微鏡
電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-F100

倍率 : 10 unit - 2,740,000 unit
分解能: 0.9, 1.3 nm

特長 JSM-F100は、定評のあるインレンズショットキーPlus 電界放出電子銃と電子光学系Neo Engineに加えて、新開発の操作GUI『SEM Center』とAI (人工知能) を応用した『LIVE-AIフィルター』を搭載し、高空間分解能観察と操作性の両立を実現しました。さらに自社製エネルギー分散形X線分析装置 (EDS) を標準搭載し、SEM Centerとフルインテグレーションすることにより、観察から元素分析まで、より楽にNonstopでデータを取得できます。高性能と使いやすさを進化・融合させたことにより作業効率50%以上の向上を実現し、日々の測定をハイスループット化します。 新機能 ...

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電界放出形走査電子顕微鏡
電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-7610F

倍率 : 25 unit - 1,000,000 unit
分解能: 1, 1.3, 3 nm

... JSM-7610Fは、セミインレンズ対物レンズを採用した超高分解能ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡です。高出力光学系により、ハイスループットで高性能な分析が可能です。また、高空間分解能の分析にも適しています。また、Gentle Beamモードでは、試料への入射電子の侵入を抑え、数百回の着弾エネルギーで試料最表面を観察することが可能です。 セミインレンズ対物レンズによる高解像度イメージングと高性能分析 JSM-7610Fは、低加速電圧で高分解能イメージングを実現するセミインレンズ対物レンズ付 ...

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