Keller ITSのIP65温度計

温度域: 500 °C - 3,000 °C
スペクトル領域: 0.95, 1.05 µm
応答時間: 10, 20 ms

... Ø 65 mm × 220 mm（最大 277 mm）

温度域: 900 °C - 3,200 °C
分解能: 0.1 °C
スペクトル領域: 0.9 µm - 1.05 µm

... エミッシビティ・透過率

• 過温度信号：内部温度

温度域: 1,000 °C
精度: 0.35 %
分解能: 0.2 °C

... CellaCrystal PX 44 は、Si および SiC 結晶の製造における光学式 温度測定用に開発されました。校正は特に成長プロセスに合わせて調整されています。測定範囲全体にわたって常に 0.1 K 未満の高分解能を実現するハイブリッド信号評価と、均一光センサー技術による非常に高い長期安定性により、この装置は求められる測定精度に対する高い要求を満たします。 特集: PX 44 AF 4: シリコン結晶製造用の特殊校正 PX 44 AF 4: シリコンカーバイド製造用の特殊校正 ...

温度域: 500 °C - 1,400 °C
スペクトル領域: 1.5, 1.9 µm
応答時間: 30 ms

... フィルタ、メモリ動作およびホールド時間、放射率、透過率、アラーム限界とモード、ATDパラメータ、電流/ 温度シミュレーション、単位 °C/°F、測定チャネル選択（二色、単色1/2）、汚染監視閾値；カメラモデルでは追加で：TBC、ホワイトバランス、測定点番号

• ピロメータ

温度域: 750 °C - 2,400 °C
スペクトル領域: 0.95 µm - 1.05 µm
応答時間: 10 ms

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• 過温度信号：内部温度が 80 °C を超えるとアナログ出力が > 20.5 mA を示す
• サービス機能：測定値または電流信号のシミュレーション
• ATD（自動温度検出）：断続的プロセスの自動温度検出

• ピロメータ

温度域: 800 °C - 2,400 °C
スペクトル領域: 0.95, 1.05 µm
応答時間: 20 ms

... の状態および電流/ 温度のシミュレーション

• 過温度信号：内部温度が 80 °C を超えるとアナログ出力は > 20.5 mA を表示
• サービス機能：測定値または電流信号のシミュレーション
• ATD（自動温度検出）：断続的プロセスに対する自動温度検出
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温度域: 650 °C - 2,400 °C
スペクトル領域: 0.95, 1.05 µm
応答時間: 10 ms

... PA 83 放射 温度計は、自動鋳造機（塞・取鍋鋳造）上の溶融金属 温度測定向けに設計されています。長方形の測定フィールドにより、注湯流がフィールド内で変動しても信頼できる 温度値が得られます。

主な特長

• 測定範囲：650～1,700 °C（他セグメントで最大2,400 °Cまで対応）
• 摩耗・メンテナンス不要の光学式測定システム
• 注湯位置の変動に対応する長方形測定フィールド
• 各鋳込みの温度を自動記録・監視する

温度域: 400 °C - 2,000 °C
応答時間: 100 ms

... 8ピン

温度域: 500 °C - 2,500 °C
精度: 0.75 %
分解能: 1 °C

... ATD機能パラメータ（オプション）；線形化機能；LED状態表示；電流および 温度のシミュレーション； 温度単位 °C/°F；カメラ付モデルでは TBC 機能およびホワイトバランス

機能
過 温度信号：内部 温度が 80 °C を超えると、アナログ出力は > 20.5 mA を表示します
サービス機能：測定値または電流信号のシミュレーション
ATD（自動 温度検出）：断続的プロセスにおける自動 温度検出機能

付属品

• ピロメータ

温度域: 700 °C - 1,700 °C
スペクトル領域: 0.8, 1.05 µm
応答時間: 20, 10 ms

... 、煤係数、ATD（自動 温度検出）、測定値/電流のシミュレーション、内部 温度上昇時の挙動（内部 温度 > 80 °C時のアナログ出力挙動）

一般仕様
接続：M12、8ピン
周囲 温度：0 – 65 °C
保管 温度：-20 – +80 °C
許容湿度：最大 95 % r.H.（結露しないこと）
寸法：Ø ...