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... 2050は、単四重極のLC‑MS検出器で、LC検出器の操作性と質量分析の機能をコンパクトな設計で組み合わせ、LC/HPLC/UHPLCシステムへの直接統合を前提に設計されています。高・低極性の化合物を幅広く解析でき、高速スキャンと微量検出感度を備え、 自動性能チェック（Performance Concierge）、UVクロマトグラムに質量注記を追加するMass-it機能、解析を効率化するAnalytical Intelligenceを搭載しています。省エネ機能によりエネルギー消費と日常保守の負荷を低減 ...
Shimadzu France
... によりダウンタイムを低減し、メンテナンスを簡素化。
シリーズ構成
LCMS-8060RX — LCMS-8060NXの感度を継承し、堅牢性を強化。
LCMS-8050RX ...
Shimadzu France
... 向上：IonFocus™ の焦点電極によりマトリックス効果による感度低下を抑制し、汚染物質をより効率的に排出
動画
- LCMS8060NX
Shimadzu France
... （例：GI‑30）に対応
Videos
プロモーションおよび応用動画を用意しており、ハードウェアの信頼性、安定性、ソフトウェア 自動化の利点を紹介しています。
Downloads
製品ブローシャ（PDF）やアプリケーションノートがダウンロード可能で、機能・仕様・ ...
Shimadzu France
... な特徴
- デュアルモード（陽イオン/陰イオン）MALDI-TOF
- 200 Hz 固体レーザー、355 nm
- ロードロックチャンバーによる迅速なサンプル導入
- UVレーザーによる自動ソースクリーニング（TrueClean、特許）
- 広口イオンオプティクスでソース汚染を低減
- 卓上設置に適したコンパクト設計
- 静音動作（<55 dB）
性能と典型的な用途 ...
Shimadzu France
... Mini-Torch System によりサンプルあたりのアルゴン消費を低減。
ガス消費比較（表）
Instrument A | Instrument B | Shimadzu ...
Shimadzu France
幅: 71 cm
... 概要
ALTRACEは、最適化された光学系設計とShimadzuの高速信号処理技術を組み合わせたエネルギー分散型X線蛍光（EDX）
分光計です。化学的前処理なしで約0.1 ppmから数％の直接測定が可能で、高感度100 W X線源によりCdやPbのサブppm検出が可能です。連続運転に対応した
自動化機能によりルーチン分析に適します。
主な特長
- 超微量検出（0.1
Shimadzu France
... 表面や微量分析に適します。
Shimadzu France
... 概要
X線光電子
分光（XPS、ESCAとも呼ばれる）は、材料表面の特性評価に広く用いられる確立された表面分析手法です。XPSは試料表面上層およそ10 nmから元素および化学状態の定量情報を提供します。Kratos AXIS Novaは、超高真空条件下で安定な材料からXPSスペクトルおよびイメージを取得できます。
性能
ラボおよび生産環境での効率的な運用を念頭に設計されており、AXIS Novaは
自動試料搬送、迅速な試料位置決めのための直交カメラ ...
Shimadzu France
... 組み合わせることで、セットアップにかける時間を短縮し、各スキャンで優れた質量精度を提供。質量較正は完全 自動化可能。
波長: 200 nm - 1,000 nm
... フィルターホイール NIRのアップグレード性 最新の光源や検出器との互換性 世界中で直接1対1のサービスサポート システム初期化時の 自動校正 FLS1000は、人気の高いFLS980の後継機です。FLS1000は、基礎研究とルーチンラボの両方のアプリケーションのための完全に 自動化された、モジュール化された柔軟な蛍光 分光器です。その高い精度と感度は、発光 分光法の技術的性能の基準を設定するように設計されています。 ...
Edinburgh Instruments
波長: 230 nm - 1,700 nm
... Lifespec IIは、高繰り返し速度のパルスフェムト秒およびピコ秒レーザでの使用のために設計された、コンパクトで完全集積化された高性能の時間相関単一光子計数（TCSPC）蛍光寿命 分光器です。 このシステムは完全に 自動化されたソリューションで、ハードウェアとソフトウェアを単一のパッケージにまとめて、基礎研究や日常的なラボ用途に使用できます。 ゼロ時間分散光学系は、減算モードでダブルモノクロメーターが使用され、超高速減衰の測定における技術的性能の標準を設定します。 ...
Edinburgh Instruments
... 独自の光学設計により、直接イオン顕微鏡検査と走査型マイクロプローブイメージングの両方が可能です。 自動化と動作効率の向上 IMS 7f-Autoは、一次ビームのチューニングを容易かつ迅速に行えるように再設計されたインラインプライマリカラムを装備し、一次ビーム電流安定性を最適化します。 新しい 自動ルーチンは、オペレータ関連のバイアスを最小限に抑え、使いやすさを向上させます。 サンプルホルダーの 自動ロード/アンロードを備えた電動式貯蔵チャンバにより、解析連鎖およびリモート操作により高いスループットが ...
CAMECA
... 地球科学用大形状イオンマイクロプローブ IMS 1300-HR³ は、広範囲の地質科学アプリケーションで比類のない分析性能を提供する大形状イオンマイクロプローブです。安定した同位体を使用した地質プロセスの追跡、年代測定鉱物の有無と分布の決定要素にセットします。 その高い感度と高い横分解能はまた、核保護のためにウラン粒子を検索し、測定するための選択のツールとなっています。 高@@ 空間分解能と高質量分解能での高再現性のユニークな組み合わせ 新しいIMS 1300-HR³、CAMECA は、すでに市場リーダーである大形状SIMSの性能を大幅に向上させ、現在地地球科学コミュニティに高い再現性のユニークな組み合わせを提供しています高空間分解能と高質量分解能。このツールは、安定した同位体、ジオ年代学、微量元素から微量元素まで、幅広い研究方向を開いて、高精度と生産性で小規模なin ...
CAMECA
... 量産半導体製造のための完全 自動化SIMS AKONIS SIMSツールは、インプラントプロファイル、組成分析、界面データのための高スループット、高精度検出を提供し、大量生産を可能にすることで、半導体製造プロセスにおける重要なギャップを埋めます。AKONISは、ファブレベルのプロセス制御とツール間のマッチングのために、ツール間の再現性を保証する非常に高いレベルの 自動化を提供します。 IMS Wf/SC Ultraや、特性評価ラボで半導体業界をサポートするために使用されているSIMS ...
CAMECA
... 半導体の四重極SIMSドーパント深度プロファイリングおよび薄層解析 CAMECA SIMS 4550は、超浅深度プロファイリング、微量元素および組成測定のための拡張機能を提供し、Si、high-k、SiGeおよび光学デバイス用のIII-Vなどの化合物材料の薄層を測定します。 高奥行き分解能と高スループット デバイス寸法が縮小する中、今日の半導体のインプラントのプロファイルと層の厚さはしばしば1～10nmの範囲に収まっています。 SIMS 4550は、5keVから150eV未満までのインパクトエネルギーをプログラム可能な酸素とセシウムの高密度一次ビームを提供することにより、これらのアプリケーション分野に対応するように最適化されています。 ...
CAMECA
