Märzhäuserの電動式ポジショニングステージ

ストローク: 0 mm - 100,000 mm
積載量: 0 g - 30,000 g

... 設計されたモータ駆動Z ステ ージ。反射光および透過光用途に対応します。

• 反射光および透過光顕微鏡観察
• 自動検査・イメージング装置への組込み
• 研究用ラボおよび産業用顕微鏡システム

• 全軸に組み込まれた光学式測定システムによる同期・高精度

ストローク: 85 mm - 130 mm

... 85：倒立顕微鏡用走査 ステ ージ — コンパクトで高精度なXY ステ ージ。品番：90-24-651-0000。

主な特長

• 倒立顕微鏡プラットフォーム向けに設計された走査ステージ
• 走行範囲：130 x 85 mm
• ボールねじピッチ：4

ストローク: 100 mm - 200 mm

... MT mot 200 x 100

追加情報

• モータ駆動測定テーブル
• 硬さ試験用（最大3000 N）
• 測定範囲：200 x 100 mm
• ねじピッチ：2 mm
• 取り付け：T溝によるフレキシブルな固定
• モーターケーブル接続：右側後方

• 00-34-109-0000_MT_mot_200_100_DE.pdf

ストローク: 100 mm - 130 mm

... 品番
90-24-550-0000

主な特徴

• 連続可変の移動域制限によりサンプル位置決めの柔軟性を確保
• スキャニングステージとコントローラー間の固定・常設2 m接続ケーブル
• ETS（電子ステージ識別装置）を内蔵し、ステージの自動識別とコントローラーのパラメータ設定が可能
• Zeiss

ストローク: 50 mm - 75 mm

... li>統合リニア測定シ ステムによる高精度

ストローク: 205 mm - 270 mm

... 製品

• 倒立顕微鏡用走査ステージ
• 可動範囲: 270 x 205 mm
• ボールねじピッチ: 2 mm
• NIKON NWL200 または NWL860 用
• ウェハホルダー付属（注文番号: 45-5524-1106-0006）
• Nikon Eclipse L200 / L200N 向けアダプタ対応

ストローク: 85 mm - 130 mm

... Imager用アダプタ対応。

仕様

• タイプ: 倒立顕微鏡用スキャニングステージ
• 走行: 130 x 85 mm
• ステージ開口: 160 x 116 mm
• ボールねじピッチ: 4 mm
• 測定システム:

ストローク: 48 mm - 100 mm

... 倒置顕微鏡用スキャ ニン グス テージ、型式 SCAN IM 100 x 100

ストローク: 45 mm - 100 mm

... 製品
倒立顕微鏡用の高精度走査 ステ ージ SCAN IM 100 x 45。材料試料向けに設計され、Leica DMIシリーズと互換性があります。

追加情報

• 倒立顕微鏡用走査ステージ
• 材料用途向け
• ストローク: 100 x 45 mm
• ボールねじピッチ:

ストローク: 85 mm - 130 mm

... 製品説明

• 倒立顕微鏡用の走査ステージ（XY位置決めおよびサンプル走査用）
• 可動範囲：130 x 85 mm
• ボールねじピッチ：2 mm
• 平坦で人間工学に基づいたデザイン、角は丸められアクセスが確保される構造
• 品番：00-24-639-0000

• Nikon