Tescanの実験用顕微鏡

... タングステンフィラメント電子源を備えたTESCAN VEGAの第4世代走査型電子顕微鏡（SEM）は、TESCANのEssence™ソフトウェアの1つのウィンドウでSEMイメージングとライブ元素組成分析を組み合わせたものです。この組み合わせにより、サンプルからの形態学的データと元素データの両方の取得が大幅に簡素化され、ベガSEMは品質管理、故障解析、研究室でのルーチン材料検査のための効率的な分析ソリューションとなっています。 - ...

... サブミクロンスケールでのルーチン材料特性評価、研究、品質管理アプリケーション用の高分解能解析SEM TESCAN MIRAの第4世代FEGショットキー電子放出源付き走査型電子顕微鏡（SEM）は、TESCANのEssence™ソフトウェアの単一ウィンドウでSEMイメージングとライブ元素組成分析を組み合わせたものです。この組み合わせにより、試料からの形態学的データと元素データの両方の取得が大幅に簡素化され、MIRA SEM は品質管理、故障解析、研究室での日常的な材料検査のための効率的な分析ソリューション ...

... TESCAN TIMAは、地球科学研究および工業的鉱物処理における自動鉱物学的分析に必要な専用ソリューションです。第4世代となるTESCAN TIMAは、使いやすさを向上させ、信頼性の高い再現性のあるデータを得るまでの時間を短縮するために超高速分析を実現しました。最大4台のEDS検出器が同時に動作し、サンプル処理のスループットを向上させるとともに、TESCAN独自の高感度スペクトルサミングアルゴリズムにより、低アバンダンス元素の正確な定量を保証します。また、TIMAデータは、鉱物の特性評価のための他の手法と容易に相関させることができます。 - ...

... マルチスケール材料特性評価のためのプラズマFIBとフィールドフリーUHR FE-SEMのユニークな組み合わせ - 1mmまでの大面積FIBを高スループットで処理 - Gaフリーのマイクロサンプル調製 - 超高分解能、フィールドフリーのFEG-SEMイメージングと解析 - レンズ内SEとBSE検出 - ハイスループット・マルチモーダルFIB-SEMトモグラフィーのための解像度最適化 - ナビゲーションを容易にするための優れた視野 - Essence™ 使いやすいモジュール式のグラフィカル・ユーザー・インターフェース ...

... 材料研究の能力を拡張する多用途なナノ分析FIB-SEM - 高精度マイクロサンプル前処理 - 超高分解能フィールドフリーSEMイメージングとナノ分析 - 拡張された視野と簡単なナビゲーション - マルチサイトプロセスオートメーション - マルチモーダルFIB-SEMトモグラフィー - 使いやすいモジュール式のソフトウェア・ユーザー・インターフェース - 様々な用途に対応する魅力的なオプションパッケージ ...

... 研究室のための高度なナノ加工ワークベンチ - 優れた超高分解能SEMイメージング - 最高分解能のGa FIBカラム - 電子・イオンビーム用高精度ナノパターニングエンジン - 様々な前駆体ガスを使用したマルチガスインジェクションシステム - 使いやすいモジュール式のソフトウェア・ユーザー・インターフェース ...

... TEM用のクライオ・ラメラを準備するための代替ソリューション - 極低温環境下での最も要求の厳しいアプリケーションに対応した柔軟なクライオFIB-SEMワークステーション - プランジ凍結標本からのアーテファクトのない平面上の格子状ラメラのための最適化されたクライオ-TEMラメラワークフロー - 市場に出回っているすべてのクライオTEMとの互換性のあるソリューション - 超低KVでの優れたSEMイメージング性能 - お客様のクライオ操作のために定義されたDrawBeam™プロジェクトを持つクライオユーザーアカウント - ...

... パッケージレベルの故障解析のための深部切片化と最高分解能のエンドポインティングのためのプラズマFIB-SEMプラットフォーム - 先端パッケージング技術の物理的故障解析のためのカーテンレス大面積断面検査 - 1mm幅までの大面積FIB断面を用意します。 - 試料が傾いた状態でFIB-SEMを用いて、低ノイズ、高分解能の画像を短時間で低keVで取得 - FIB加工中のライブSEMモニタリングによる正確なエンドポインティング - 低keVsの超高分解能で表面感度と材料コントラストを向上させ、最もビームに敏感な材料を観察することができます。 - ...