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測定可能範囲: 10 mm - 40 mm
分解能: 10 nm
... 高い要求に応える高性能マイクロメータ optoCONTROL 2700は、直径、ギャップ、エッジ、セグメントを正確に測定するためのコンパクトなLEDマイクロメータです。このマイクロメータは、非常に高い精度と測定速度が特徴です。コントローラがレシーバに内蔵されているため、ケーブル配線や取り付け作業が最小限に抑えられます。 測定範囲10mmと40mmの2つのモデルにより、オートメーションや品質保証の分野で数多くの応用が可能です。アクティブな傾き補正機能により、45°まで傾いた対象物も極めて正確に検出します。設定はウェブインターフェースを介して簡単に行うことができ、ビデオ信号、フィルタ、各種測定モードのパラメータ設定が可能です。セットアップモードでは、影像を使用して測定対象物の位置合わせを簡単に行うことができます。優れた価格性能比が、性能パッケージの最後を締めくくります。 ...
MICRO-EPSILON
測定可能範囲: 46 mm - 95 mm
分解能: 1 µm - 2 µm
... optoCONTROL 2520 は、コントローラが統合されているコンパクトなレーザーマイクロメーターです。分解能が高く、測定範囲は 46 mm で取付け距離が可変式なので、品質モニタリングや生産チェックにおける使用領域が多岐に渡ります。測定対象物はライトカーテンの範囲内のどの位置にあってもよく、トランスミッターからレシーバーまでの距離も自由に選択いただけます。 "インターフェースには RS422 および Ethernet/EtherCAT が使用でき、 コンフィグレーションはウェブインターフェースを介して快適に行えるので、測定値や限界値の表示や、測定プログラムの選択、フィルタの適用といった作業を簡単に実行することができます。また、測定タスクもビデオ信号で難なくセットアップが可能です。" ...
MICRO-EPSILON
測定可能範囲: 10 mm - 40 mm
分解能: 10 nm
... 製品概要
profileGAUGE C.ODC は、極細ワイヤや小径丸棒のプロファイル、外径、位置を2軸でオンライン測定するための、事前組立て済みの高精度センサシステムです。2台の optoCONTROL ODC2700 光学マイクロメータをX配置で組み込み、2軸同時測定により高速プロセス下でも直径・輪郭・位置の信頼性あるデータを取得できます。
機能と統合
システムは最大5 kHzの測定出力を提供します。両軸の統計計算および後処理は、機械側の制御や上位評価システムで行うことが可能です。Industrial ...
MICRO-EPSILON
測定可能範囲: 10, 28 mm
分解能: 100, 10, 1,000, 1 µm
... 高精度な判別を実現 対象物の透過量の影響を受けない CCD透過型デジタルレーザセンサ ポジションモニタの搭載による抜群の使い勝手 受光素子にはL-CCDを採用しています。位置でワークを認識しますので、周囲環境の影響を受けづらく、安定した検出を行うことができます。 ※L-CCD:Line-Charge Coupled Device レーザ光の多波長化によって高い安定性と測定精度を実現 通常のレーザは投光スポットが右の図のように斑点状の模様のようになっています。これはレーザ特有の干渉による現象であり、レーザが単一波長であることが原因です。IGはレーザ光の多波長化によってこの問題を解決。CCDに写る影がより明確になりましたので、透明体などの難易度の高いワークでも高い安定性を実現します。 ...
Keyence
測定可能範囲: 0.1 mm - 50 mm
... 概要
Z-Mike Pro は、工場フロアおよび計測ラボ向けの非接触レーザーマイクロメーターです。直径、楕円度、有効切断直径、テーパー、TIR(全振れ)を非接触で測定し、部品の機械的歪みやオペレーター影響を回避します。モデルにより最大で ±0.5 µm の精度を実現し、再現性は下記仕様をご参照ください。測定値は国家標準(NIST)にトレーサブルです。
特徴 & 利点
- 特許取得済みの光学設計と電子回路により、安定した精度と再現性を確保。
- 自動較正と温度補償により生産環境での安定測定を実現。
- 表面仕上げ(光沢、マット、色)や外来の迷光に影響されにくい測定精度。
- 非接触技術によりオペレーター起因の測定誤差を排除し、部品の変形を防止。
- 厳密なワーク中心合わせを必要とせず、幅広いサイズの部品を最小限のセットアップで測定可能。
- 工場環境向けに粉塵・湿気から保護する密封鋳造ハウジングを採用。
- 大型高解像度タッチスクリーンによる直感的な操作。複数の製品プログラムを保存・呼び出し可能。
- 統合I/Oにより自動化された部品ハンドリングやモーション制御と容易に統合。
2つの機種
測定 ...
Nordson Measurement & Control
測定可能範囲: 25 mm - 100 mm
分解能: 0.5 µm - 3 µm
... 2次元光学マイクロメータ RF657R.2Dシリーズ 2次元光学マイクロメータは、直線寸法、直径、角度、ねじパラメータ、部品形状、振れなどの非接触インライン2次元一括測定用に設計されています。 光学式マイクロメータは「シャドー」測定原理を採用しており、平行化されたレーザー光が受光器に向かって照射されます。 ビームの経路上にある物体が落とす影のエッジは、レシーバーユニット内のディテクターアレイによって正確に測定されます。 ...
RIFTEK EUROPE
測定可能範囲: 5 mm - 100 mm
分解能: 0.3 µm - 5,000 µm
... RF656XYシリーズ - 高精度2軸マイクロメータ 1次元光学式マイクロメータは、平行化されたレーザ光を受光器に向かって透過させる「シャドウ」測定原理を採用しています。ビームの経路上にある物体が落とす影のエッジは、レシーバーユニット内のディテクターアレイによって正確に測定されます。光学式マイクロメータは、非接触でワイヤーやロッドなどの円柱の直径を測定することができ、また、隙間やエッジの位置、幾何学的物体の寸法特性も測定することができます。 ...
RIFTEK EUROPE
測定可能範囲: 15 mm - 60 mm
分解能: 0.5 µm - 3 µm
... 2次元光学マイクロメータRF657.2Dシリーズ 2次元光学式マイクロメータは、線径、直径、角度、ねじパラメータ、部品形状、振れなどの非接触インライン2次元一括測定用に設計されています。 光学式マイクロメータは「シャドー」測定原理を採用しており、平行化されたレーザー光が受光器に向かって照射されます。 ビームの経路上にある物体が落とす影のエッジは、レシーバーユニット内のディテクターアレイによって正確に測定されます。 ...
RIFTEK EUROPE
測定可能範囲: 0 mm - 12.7 mm
分解能: 0.001 mm
... 説明
WiMER1+ は WiMER1 の長距離モデルです。Mitutoyo のデジタルマイクロメーター、ダイヤルインジケーター、キャリパーのデジタル出力を読み取り、Bluetooth Low Energy(BLE)で iPhone / iPad に無線送信します。iOS デバイス上でリアルタイムの数値表示やプロットを確認できます。送信距離は開けた視線で最大164 ft / 50 m まで拡張されています。コンパクトで充電式バッテリーを搭載しており、携帯型の計測ワークフローに適しています。
主な用途
- クランクシャフトのたわみ試験
- ローターのランアウト測定
- ボア(孔)測定
- 表面プロファイル検査
対応 ...
測定可能範囲: 0 mm - 1,000 mm
分解能: 0.0001 mm
... サブミクロン万能コンピュータマイクロメータワイヤレスMICROTECH、ワイヤレス&USBデータ転送でインダストリー4.0採用 7組の交換可能なアンビルを備えたユニバーサルマイクロメータ:フラット、球面、ディスク、ブレード、ポイント、スプライン、ナイフエッジ。 MICROTECHサブミクロンマイクロメータは、スピンドルが回転しないフリクションシンブルを採用しています。 マイクロメータのコンピュータ化されたMICS測定システムには次のような機能があります: -統計モード付き内部メモリ -カラーGo/NoGo表示(リミット) -ピーク機能(最小/最大) -タイマー(メモリへの読み込みまたはデータ転送) -計算式表示 ...
測定可能範囲: 30 mm
分解能: 1 µm - 10 µm
... 直接測定範囲30mm、スピンドルねじピッチ2mmの歯車歯幅測定用デジタルマイクロメーターです。 アプリケーション - 外歯車の測定に必要な歯幅を測定するため 技術データ - 分解能10μm、1μm、0.5μm、0.0005インチ、0.00005インチ、0.00002インチの切り替えが可能 - スピンドルピッチ2.0mm - スピンドルタイプは非回転式 - ラチェットによる測定力 約7N - ディスク径25mm - 高さ7セグメントディスプレイ12mm - インターフェース近接(Sylvac製) - ...
測定可能範囲: 6 mm - 300 mm
... 270種類以上のモデルをご用意しており、生産環境で直接100%の部品を正確に測定するための理想的なソリューションがVEA光学マイクロメータです。これらのマイクロメータは、表面品質管理を同時に行うことができます。 VEAの光学式マイクロメータは、光学ユニットと照明器を結合する事前校正済みのサポートが不要なシンプルな校正システムを採用しているため、精度が低下するリスクを負うことなく、あらゆる種類の工場や生産ラインに取り付けることができます。 これらの機器のトップメーカーであるVEAの光学マイクロメータは、一連の独自技術により、工業環境での精度を保証しています。 • ...
測定可能範囲: 25 mm - 100 mm
... 光学マイクロメータAN-21SMは、高精度モードで幾何学的パラメータと物体の位置を測定し、断面における幾何学的寸法および物体の平均直径を測定することができる 要約 光学マイクロメータAN-21SMは、幾何学的パラメータおよび物体の位置を測定することができる高精度モードでは、オブジェクトの断面および平均直径の幾何学的寸法を測定し、完成した部品の制御およびトラブルシューティング、解体することなく詳細の制御。 マイクロメーターは1クラスのレーザー製品を指すので、絶対に安全です。 仕様 光学マイクロメータの基本仕様 ...
測定可能範囲: 175 mm
... ねじ山プラグゲージとタップの効果的な校正を提供します。 ねじの大径、小径の校正を行います。 機械/電子モデル 範囲:0-100ミリメートル/0-4と0-175ミリメートル/0-7。 分解能:0.0002mm / 0.0001mm 繰り返し性:0.002mm/0 .0002mm 精度:0.004mm / 0.002mm P10プローブ 付属品:ねじ測定ワイヤー、プリズム、円筒マスター、テーパスレッドプラグアタッチメント。 ...