光学式マイクロメーター Z-Mike Pro series

レーザー電子外部

概要
Z-Mike Pro は、工場フロアおよび計測ラボ向けの非接触レーザーマイクロメーターです。直径、楕円度、有効切断直径、テーパー、TIR（全振れ）を非接触で測定し、部品の機械的歪みやオペレーター影響を回避します。モデルにより最大で ±0.5 µm の精度を実現し、再現性は下記仕様をご参照ください。測定値は国家標準（NIST）にトレーサブルです。

特徴 & 利点

• 特許取得済みの光学設計と電子回路により、安定した精度と再現性を確保。
• 自動較正と温度補償により生産環境での安定測定を実現。
• 表面仕上げ（光沢、マット、色）や外来の迷光に影響されにくい測定精度。
• 非接触技術によりオペレーター起因の測定誤差を排除し、部品の変形を防止。
• 厳密なワーク中心合わせを必要とせず、幅広いサイズの部品を最小限のセットアップで測定可能。
• 工場環境向けに粉塵・湿気から保護する密封鋳造ハウジングを採用。
• 大型高解像度タッチスクリーンによる直感的な操作。複数の製品プログラムを保存・呼び出し可能。
• 統合I/Oにより自動化された部品ハンドリングやモーション制御と容易に統合。

2つの機種
測定 | Z-Mike Pro 25 | Z-Mike Pro 50
測定範囲 | 0.100–25.4 mm（0.004–1.0 in.） | 0.254–50 mm（0.010–2.0 in.）
再現性 | ±0.13 µm | ±0.25 µm
精度 | ±0.5 µm | ±0.76 µm
被写界深度 | ±0.75 x 25 mm | ±1.5 x 50 mm
レーザービーム速度 | 50 m/sec | 100 m/sec
温度係数 | <0.2 µm/°C | <0.2 µm/°C
較正 | 工場校正（NISTトレーサブル） | 工場校正（NISTトレーサブル）

用途

• カムシャフト、クランクシャフト、切削工具のブランクなどの回転・円筒形精密部品の検査。
• 研究室計測や製造ラインのインライン検査など、高精度な非接触測定が必要な用途。

技術仕様

• モデル：Z-Mike Pro 25、Z-Mike Pro 50
• 測定項目：直径、楕円度、有効切断直径、テーパー、TIR
• 再現性：±0.13 µm（Pro 25）；±0.25 µm（Pro 50）
• 精度：±0.5 µm（Pro 25）；±0.76 µm（Pro 50）
• 測定範囲：0.100–25.4 mm（Pro 25）；0.254–50 mm（Pro 50）
• 被写界深度/測定領域：±0.75 x 25 mm（Pro 25）；±1.5 x 50 mm（Pro 50）
• レーザービーム速度：50 m/s（Pro 25）；100 m/s（Pro 50）
• 温度係数：<0.2 µm/°C
• 較正：工場校正、NISTトレーサブル
• 構造：工場環境向けの密封鋳造ハウジング
• ユーザーインターフェース：大型タッチスクリーン；複数プログラム保存可能
• 統合：自動化およびモーション制御のための統合I/O