自動取付けシステム Z-Mike Pro

測定用モジュール式

概要
Z-Mike Proは、産業用途の寸法検査と工程管理向けに設計された非接触レーザーマイクロメーターです。柔らかい、繊細、脆い、高温または放射性の部品に対して絶対寸法を測定でき、研究室から生産ラインまで厳しい公差を満たすために使用されます。測定項目は直径、楕円度、有効切削直径、テーパー、TIRなどです。非接触レーザー方式により部品の変形やオペレーターの影響による誤差を排除し、測定値はNIST等へのトレーサビリティを確保できます。

特徴 / 利点

• 特許取得済みの光学設計および電子設計により高い精度と優れた再現性を実現（最大 ±0.13 µm）。
• 自動較正により測定範囲全体での精度維持と工場環境での温度変動補償が可能。
• 表面の種類（光沢、マット、色）や外部迷光に影響されない測定精度。
• NISTなどの国家標準へのトレーサビリティに対応した測定結果。
• 非接触方式によりオペレーター影響の測定誤差や部品の変形を防止。
• 厳密な中心合わせが不要で、幅広い部品サイズに対して最小限の調整で対応可能。
• 堅牢な鋳造ハウジングによりほこりや湿気から保護され、工場環境での使用に耐える。
• 大型高解像度タッチスクリーンにより迅速なセットアップと結果表示が可能。
• 複数製品のプロファイルを記憶・呼び出しでき、切替えが迅速。
• 統合I/Oにより自動化された部品搬送やモーションコントロールと容易に接続可能。

2機種のご案内
測定 | Z-Mike Pro 25 | Z-Mike Pro 50
測定範囲 | 0.100～25.4 mm（0.004～1.0インチ） | 0.254～50 mm（0.010～2.0インチ）
再現性 | ±0.13 µm（±0.000005インチ） | ±0.25 µm（±0.000010インチ）
精度 | ±0.5 µm（±0.000020インチ） | ±0.76 µm（±0.000030インチ）
測定領域 / 被写界深度 | ±0.75 x 25 mm（±0.030 x 1.0インチ） | ±1.5 x 50 mm（±0.060 x 2.0インチ）
レーザービーム速度 | 50 m/s（2,000 in/s） | 100 m/s（4,000 in/s）
温度係数 | <0.2 µm/°C | <0.2 µm/°C
較正 | 工場校正済み | 工場校正済み

用途と測定能力

• 軸、シャフト、ピンなどの直径・楕円度測定。
• 切削工具ブランクや加工部の有効切削直径・テーパーの検査。
• TIR（総指示偏差）や回転部品の幾何特性検査。
• 医療部品、カムシャフト、クランクシャフト等の品質管理。

技術仕様（要約）

• 測定方式：非接触レーザーマイクロメータ（プロファイル走査）。
• 機種：Z-Mike Pro 25 / Z-Mike Pro 50（用途により選択）。
• 自動較正および工場出荷時較正（NISTトレーサビリティ）。
• 環境耐性：鋳造ハウジングで防塵・防湿、工場使用に適合。
• 表示/操作：高解像度タッチスクリーン、プロファイル記憶と迅速呼出し。
• 接続性：統合I/Oで自動化システムおよびモーションコントロールと連携。
• 温度安定性：係数 <0.2 µm/°C、通常の工場環境変動に対する補償機能。