... 検査技術 — 測定システムと試験プラント — すべての支店で 重要です検査技術は特別な役割を果たし、すべての支店で重要であり、複雑であり、品質管理とプロセスの保護に不可欠です。 各製品には、個別のテスト値と基準があります。 ここでの技術的要件は高いです。 SIM Automation GmbHは、当社のSIMコンセプトに沿って、お客様固有の測定および試験プラントを提供しています。 当社のポートフォリオは、手動組み立てが可能な単一測定システムから、ロボットを使用した完全統合型および完全自動試験プラントまで、多岐にわたります。 ...
... エボリューション測定システムは、この種のものとしては世界でも類を見ないものであり、未来のエンジニアリングを投影した電子システムです。キャリブレーションマシンの基本原理から生まれたこのシステムは、大きな発展の可能性を秘め、将来的な応用も期待されています。私たちは最近、メカニックが搭載された車両の外部パネル（床上の車輪！）の測定を可能にする機能を追加しました。洗練された高度なソフトウェアとハードウェアのおかげで、最大限の測定精度（長さ5.4メートルで±0.5ミリ）を保証することができます。 主な特長 - ...
... は、ベンチトップタイプのエントリーX線検査装置です。コンパクトなX線検査装置なので、机の上に直接置くことができ、小規模な工場やオフィスなどどこでも使用することができます。 また、検出器の位置を上下させることで、サンプルの幾何学的な拡大率を調整することができます。 ステージの大きさ、移動による撮影範囲 precision μB3200」は、小さな回路基板や小さな部品の撮影に最適です。例えば、モニター画像の最大倍率は125倍、検査領域は2.5×2.8mm、適用可能な撮影範囲は150×200mmです。 ポイント 精巧に作られた高電圧電源を使用 新設計による長寿命化 短いFOD 安全のために 当社が提供するX線リーク測定は、各ユニットの全方向から実施し、1μSv/hr以下であることを確認してから出荷しています。 X線遮蔽技術 安心して設置していただくために、放射線遮蔽の設計を入念に行っています。 一般的に、遮蔽物に使われる鉛は柔らかく変形しやすい素材ですが、鋼板と組み合わせた多層構造を採用することで、鉛が変形することなく長期間使用することができます。 日常生活での使用には全く影響のない極低レベルです。 ...
... FRTの光学式検査装置MicroProf DIは、構造化されたウェーハと非構造化ウェーハを製造工程全体で検査することが可能です。2次元検査と計測を組み合わせることで、マイクロバンプ、RDL、オーバーレイ、スルーシリコンビア（TSV）などの欠陥検査やウェーハレベル計測など、さまざまなアプリケーションに1台の計測装置で対応することが可能です。 MicroProf DIには複数のモジュールが含まれており、同じツールプラットフォーム上で柔軟に組み合わせることで、すべてのウェーハ表面を高いスループットでカバーし、効率的なプロセス制御を実現します。モジュールには、シングルショットおよびステップカメラモジュールによる光学検査と欠陥の分類、高精度マイクロスコープによる欠陥のレビュー、さまざまなトポグラフィーおよび層厚センサーによる総合マルチセンサー計測が含まれます。また、ウェハー上の隠れた構造や介在物を光学的、非接触、非破壊で解析するために、赤外線光源と赤外線顕微鏡を備えた干渉型層厚センサーも用意されています。 ...