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... meio da cadeia e para as empresas de embalagem e ensaio a jusante na cadeia da indústria de semicondutores, é adotado um sistema de deteção paralelo multicanal de campo claro e escuro desenvolvido de forma independente para detetar os ...
... -Y: 0,1 µm
Funções de inspeção e metrologia
Wafers padronizados: resíduos, fissuras, riscos, partículas, anomalias de pad, descoloração, contaminação, destacamento, marcas de sonda, medição CD
Wafers ...
TRI Test Research Europe GmbH
... Sistemas de Inspeção de Bolacha Modelada de Elevada Produtividade de Ampla Gama Os sistemas de inspeção de bolachas com padrão da série 8 detectam uma grande variedade de tipos de defeitos ...
KLA Corporation
... Descrição
- Inspeção Óptica Automatizada (AOI) para substratos IC com resolução mínima linha/espaço até 4 µm.
- Galaxy 4Cχ é a geração mais recente de sistemas AOI da CIMS, equipado com câmara colorida
CIMS
... dosagem. Os fabricantes precisam de
inspeção fiável para verificar matrizes de micro‑furos, geometria dos furos, condição das arestas, acabamento superficial e contaminação dentro dos furos.
Desafios de inspeção: ...
... informações fornecidas pelo
sistema de
inspeção de
wafers.
Utilização
Gestão de defeitos no processo de fabricação de dispositivos semicondutores / dispositivos CMOS.
Descrição ...
... Com a sua tecnologia única de desenho óptico, o sistema Imperia detecta e classifica os defeitos de eliminação do campo com o benefício adicional de monitorização simultânea da produção de fotoluminescência (PL) de última geração Visão ...
Onto Innovation Inc.
... O sistema GWI foi construído para detectar defeitos em wafers de vidro no início do ciclo de produção. O sistema é baseado em uma câmera inteligente de alta resolução para atender à precisão ...
... classificação de wafers no mercado nacional Aproveitando o excelente desempenho de inspeção e a automação fiável, o sistema de inspeção ganhou boa reputação e tornou-se a primeira escolha ...
... A ferramenta de inspecção óptica FRT MicroProf DI, permite a inspecção de bolachas estruturadas e não estruturadas durante todo o processo de fabrico. Ao combinar inspecção 2D e metrologia, a MicroProf DI fornece soluções de medição para uma variedade ...
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