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... automotivo, com a otimização da sequência de inspeção permitindo uma velocidade de inspeção de defeitos de mais de quarenta folhas de wafer de 200 mm por hora. - Deteção de defeitos ...
... de memória e lógica. Maior rendimento e sensibilidade de deteção para produção de grandes volumes - Como sistemas de inspeção de defeitos de wafer de campo escuro, o DI4600 contribui ...
... Sistemas de inspecção de defeitos em bolachas com padrão de plasma de banda larga de super-resolução Os sistemas de inspecção de defeitos por plasma de banda larga da série 392x suportam a descoberta ...
KLA - TENCOR
... Capacidade média de até 8500 wafers/hora comprovada na produção real em massa Expansibilidade O sistema pode trabalhar com transportadores que carregam 25 a 150 wafers e pode ser integrado ...
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... O sistema GWI foi construído para detectar defeitos em wafers de vidro no início do ciclo de produção. O sistema é baseado em uma câmera inteligente de alta resolução ...
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... A ferramenta de inspecção óptica FRT MicroProf DI, permite a inspecção de bolachas estruturadas e não estruturadas durante todo o processo de fabrico. Ao combinar inspecção 2D e metrologia, a MicroProf DI fornece soluções de medição para ...
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