Máquinas de inspeção KLA

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máquina de inspeção óptica
máquina de inspeção óptica
39 series

... Os sistemas de inspeção de defeitos por plasma de banda larga 3935 e 3920 EP suportam a descoberta de defeitos ao nível da bolacha, a aprendizagem de rendimento e a monitorização em linha para nós de conceção de memória de ponta e lógica ...

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máquina de inspeção óptica
máquina de inspeção óptica
29 series

... >: Revisão ótica, clusters modulares e soluções integradas de inspeção + metrologia 3D para revisão face frontal/traseira/borda e coleta paralela de dados.

  • Surfscan®: Inspeção de wafers não patternados
  • ...

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    máquina de inspeção óptica
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    C30x

    ... capturar defeitos críticos em uma variedade de camadas de processo e tipos de dispositivos. A tecnologia NanoPoint™ concentra a inspeção em áreas de padrões com elevado risco de falhas de fiabilidade, fornecendo dados de defeitos acionáveis ...

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    máquina de inspeção óptica
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    Puma™

    ... O sistema de inspeção por varrimento a laser Puma™ 9980 incorpora múltiplas melhorias de sensibilidade e velocidade que permitem a captura de defeitos críticos de interesse (DOI) com os rendimentos necessários para o fabrico de grandes ...

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    máquina de inspeção óptica
    máquina de inspeção óptica
    CIRCL™

    ... módulos que compõem o sistema CIRCL5 de última geração incluem: inspeção de defeitos da bolacha do lado frontal; inspeção, perfil, metrologia e análise de defeitos da extremidade da bolacha; inspeção ...

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    máquina de inspeção óptica
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    Surfscan®

    ... dentro das fábricas. Sistema de inspeção da superfície de bolachas sem padrão com sensibilidade DUV e elevado rendimento para o fabrico de CI, substratos e equipamento nos nós de conceção inferiores a 1Xnm. Sistema de inspeção ...

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    máquina de inspeção óptica
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    eDR7380™

    ... sistemas de revisão e classificação de defeitos em pastilhas de feixe eletrónico O sistema de revisão e classificação de defeitos de bolachas por feixe de electrões (e-beam) eDR7380™ suporta o fabrico de bolachas e pastilhas para semicondutores de banda ...

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    máquina de inspeção óptica
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    Archer™

    ... O sistema de metrologia de sobreposição Archer™ 800 fornece um feedback exato do erro de sobreposição no produto para rampas tecnológicas rápidas e produção estável de dispositivos lógicos e de memória de ponta. A capacidade de sintonização e otimização ...

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    máquina de inspeção óptica
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    Candela® 8420

    ... cobertura total da superfície é conseguida em minutos, com o sistema de inspeção de defeitos de superfície Candela 8420 para produzir imagens de alta resolução e relatórios de inspeção automatizados com classificação ...

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    máquina de inspeção óptica
    Candela® 8520

    ... permite a inspeção de defeitos de superfície e de fotoluminescência em bolachas de GaN, detectando e classificando deslocamentos, buracos e orifícios de GaN para o controlo de defeitos em reactores de GaN. As aplicações de energia incluem ...

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