Sistema de teste para ciclo de calor SC-588-CD-F
segurança funcionalde envelhecimentode performance

Sistema de teste para ciclo de calor - SC-588-CD-F - Sanwood Technology - segurança funcional / de envelhecimento / de performance
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Características

Tipo de teste
de performance, térmico, segurança funcional, para ciclo de calor, de envelhecimento
Área
para a indústria eletrônica
Aplicações
para semicondutores, de circuitos integrados, PCB, memória
Formato
in situ
Outras características
automático, de transdutor múltiplo

Descrição

Sistema de Teste de Burn-in de Memória eMMC da SANWOOD O Sistema de Teste de Burn-in de Memória eMMC da SANWOOD combina temperaturas controladas na câmara com sequências programáveis de leitura, escrita e apagamento. Mantém os dispositivos eMMC ativos durante o stress térmico e testa vários dispositivos em paralelo para triagem de produção, testes de resistência e avaliação da retenção de dados. Características principais Testes em paralelo de dispositivos eMMC em placas de teste de alta densidade Fontes de alimentação VCC e VCCQ programáveis de forma independente para testes de margem de tensão em cada ranhura Padrões configuráveis de leitura, escrita e apagamento para testar o controlador flash incorporado durante o burn-in Monitorização ao nível do slot para ajudar a identificar dispositivos com falhas durante os testes em paralelo Modelos e Especificações Intervalo de controlo da temperatura da câmara — −70 °C a +150 °C SC-588-CD-F — câmara única de 588 L Dimensões internas do SC-588-CD-F (L × A × P) — 800 × 1 050 × 700 mm Dimensões externas do SC-588-CD-F (L × A × P) — 1 890 × 1 925 × 1 520 mm LS407H — Configuração de câmara dupla Dimensões externas do LS407H (L × A × P) — 4 000 × 2 120 × 1 520 mm Personalização As dimensões interiores das câmaras e as configurações das prateleiras de teste podem ser personalizadas para se adequarem às dimensões da sua placa de teste, ao espaçamento necessário entre placas e ao número pretendido de ranhuras. Aplicações e referências de teste Concebido para armazenamento incorporado utilizado em eletrónica automóvel, controladores industriais, equipamento de rede e dispositivos IoT. Os planos de teste podem basear-se na norma JEDEC JESD84-B51 para a interface eMMC 5.1 e, quando aplicável, na JESD22-A117 ou na AEC-Q100-005 para a avaliação da resistência e da retenção de dados. Para obter uma proposta de configuração, indique o tipo de pacote eMMC, os desenhos da placa de teste, o número de ranhuras pretendido e o perfil de temperatura. Página do produto — https://www.sanwood.us/products/190.html E-mail — [email protected]

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