Sistema de teste para ciclo de calor SM-ZOV665-W5K

segurança funcionalde envelhecimentode performance

Sistema de teste dinâmico de burn-in e HTOL de circuitos integrados SANWOOD de porta única O SANWOOD SM-ZOV665-W5K combina uma câmara com temperatura controlada com padrões de teste elétricos programáveis para testes dinâmicos de burn-in e de vida útil em alta temperatura (HTOL). Este sistema testa circuitos integrados (IC) alimentados em placas de burn-in (BIBs) a temperaturas elevadas, permitindo aos engenheiros monitorizar o comportamento dos dispositivos durante o stress térmico e elétrico. Características principais Vectores de teste programáveis para testar a lógica e a memória dos circuitos integrados durante o burn-in Isolamento de alimentação ao nível do slot e limites de corrente programáveis Registo de tensão, corrente e temperatura por slot para análise de falhas Especificações técnicas Modelo — SM-ZOV665-W5K, configuração de porta única Intervalo de temperatura da câmara — Temperatura ambiente +10 °C a +150 °C Capacidade da placa de burn-in — 16 slots Dimensões da placa de burn-in — 450 × 570 mm Canais de sinal — 184 no total, com 160 canais de controlador comuns e 24 canais de E/S Taxa máxima de repetição do sistema — 20 MHz Memória vetorial — 64 milhões de palavras Capacidade do registo de erros — 2 mil por E/S Fonte de alimentação do dispositivo — 8 canais por BIB na configuração predefinida Dimensões internas (L × A × P) — 800 × 1 320 × 630 mm Dimensões externas (L × A × P) — 1 920 × 2 287 × 1 600 mm Personalização As dimensões interiores da câmara e as configurações do rack de teste podem ser personalizadas para se adaptarem às dimensões do seu BIB, ao espaçamento entre placas e aos requisitos de carregamento. Aplicações e referências de teste Adequado para triagem por burn-in e avaliação da vida útil de SoCs automóveis, microcontroladores, aceleradores de IA, circuitos integrados de memória e circuitos integrados de gestão de energia. Dependendo do dispositivo e do plano de teste, as referências relevantes incluem a norma JEDEC JESD22-A108 para HTOL, o Teste B1 da norma AEC-Q100 para HTOL de circuitos integrados automóveis e o Método 1015 da norma MIL-STD-883 para burn-in de microcircuitos. Para obter uma proposta de configuração, indique o tipo de dispositivo, os desenhos BIB, a carga elétrica e o perfil de teste pretendido. Página do produto — https://www.sanwood.us/products/189.html E-mail — [email protected]