Soquete de teste para dispositivo IC
de altas frequências

Soquete de teste para dispositivo IC - Seiken Co., Ltd. - de altas frequências
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Características

Aplicações
para dispositivo IC
Outras características
de altas frequências

Descrição

À medida que os dispositivos continuam a encolher e a densidade de embalagem aumenta, a demanda por soluções de teste de passo fino de alto desempenho nunca foi tão grande. Os soquetes IC de passo fino da Seiken são construídos para enfrentar esse desafio, capacitando engenheiros e fabricantes a testar os dispositivos mais compactos e complexos com confiança. No coração da nossa solução está a tecnologia de sonda sem tubo da Seiken, projetada para suportar passos tão finos quanto 130μm. Este design inovador oferece contato robusto e confiável, mantendo uma resistência mecânica excepcional, mesmo nas aplicações mais exigentes dos ambientes de teste modernos. Nossos soquetes IC de passo fino são uma ferramenta essencial para o desenvolvimento e teste de eletrônicos de ponta. - Nossos soquetes são totalmente personalizáveis para atender a requisitos não magnéticos, mecânicos personalizados e outros requisitos específicos, garantindo desempenho consistente em uma ampla gama de condições especializadas. - Fabricação flexível e de baixo volume a partir de apenas uma unidade. As equipes internas de engenharia e produção oferecem soluções personalizadas com rapidez e precisão. Exemplos de aplicação: - Chips de passo fino - Componentes discretos, entre outros Principais características e vantagens: - Projetado para desempenho de passo fino: Personalizável para requisitos não magnéticos, mecânicos personalizados e outros. - Suporta passos tão finos quanto 130μm com tecnologia de sonda sem tubo. - Contato robusto e confiável e resistência mecânica excepcional. - Produção flexível a partir de uma unidade: Adequado para prototipagem e fabricação de baixo volume. Produtos relacionados: - Tecnologia de passo fino: As sondas de passo fino da Seiken fornecem testes confiáveis para dispositivos semicondutores avançados, suportando passos tão pequenos quanto 130µm. - Cartão de sonda de passo fino: Projetado para layouts desafiadores como dispositivos WL-CSP e de pilar de cobre, capaz de lidar com passos tão pequenos quanto 130µm. - Suportes de sonda (fixações de teste personalizadas): Essenciais para sondagem de precisão em testes de componentes eletrônicos, garantindo alinhamento perfeito e contato estável. Especificações técnicas / Características: - Passo suportado: tão fino quanto 130μm - Personalizável para requisitos não magnéticos e mecânicos - Produção flexível: a partir de uma unidade - Contato robusto e confiável - Adequado para chips de passo fino e componentes discretos

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.