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... na concepção e fabrico de soluções para testes Package-on-Package (PoP). Complexo em seu projeto, o teste de PoP requer o acoplamento simultâneo da parte superior e inferior do IC. A solução Euclides ...
Smiths Interconnect
... O contato Celsius da Smiths Interconnect aproveita um caminho de sinal ligeiramente mais longo para oferecer vantagens significativas em conformidade, manuseio de temperatura e capacidade de carga de corrente. Um contacto autónomo, a Celsius utiliza um ...
Smiths Interconnect
... precisão única proporcionada pelos projetos de sonda de mola flutuante da Smiths Interconnect permite a implantação perfeita em testes de Pacotes de Escala de Chip de Nível Wafer. Trabalhamos em estreita colaboração com nossos clientes ...
Smiths Interconnect
... almofada do dispositivo -Percurso de sinal curto -Design de soquete Tri-Temp para suportar -55 °C a +150 °C -Flexibilidade de design configurável para integração em configurações de hardware existentes -Concebido para ...
Smiths Interconnect
... condutoras que garantem resultados de teste precisos e consistentes num espetro de dispositivos. As colunas condutoras na grelha elastomérica garantem resultados de teste precisos e consistentes para ...
Smiths Interconnect
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Smiths Interconnect
... Alojamento de alta coplanaridade Design de tomada tri-temperatura para suportar -55 °C a +150 °C Concebido para testes manuais, testes de bancada e testes de produção HVM utilizando a mesma tomada Novo ...
Smiths Interconnect
... Os soquetes IC não magnéticos da Seiken são projetados para oferecer testes estáveis e sem interferências em uma ampla variedade de pacotes de dispositivos, incluindo tipos com terminais ...
Seiken Co., Ltd.
... útil do soquete. Além disso, os designs de soquetes podem ser personalizados para permitir a extração de sinais individuais para os terminais emissores e de gate, mesmo com layouts complexos de eletrodos periféricos. - ...
Seiken Co., Ltd.
... e outros. Os soquetes IC são vitais para garantir a qualidade desses dispositivos embalados através de testes elétricos, mantendo o chip no lugar com pinos de sonda precisos. A Estrutura ...
Seiken Co., Ltd.
... mesmo nas aplicações mais exigentes dos ambientes de teste modernos. Nossos soquetes IC de passo fino são uma ferramenta essencial para o desenvolvimento e teste de eletrônicos de ponta. - ...
Seiken Co., Ltd.
... fabricação completa, garantindo integração absoluta no seu ambiente de teste. - Layout de pinos flexível para necessidades de teste complexas: Ao contrário dos soquetes tradicionais, os soquetes ...
Seiken Co., Ltd.
... HU3PAK Scokets + Conjunto de placas de teste de avaliação Poupe tempo eliminando a necessidade de conceber e adquirir tomadas e placas de circuito impresso separadamente - configure rapidamente o seu ambiente de avaliação. - Acelera ...
JC CHERRY INC.
... tempo. [Aplicação] - Montagem em PCB para produção em massa - Teste final e inspeção em ambiente real (ex. automóvel, robótica, dispositivos eléctricos para mobilidade) - Análise de falhas de IC ...
JC CHERRY INC.
... personalizados 1. Módulo de soquete universal "B1506A" (Fabricado pela Keysight; por favor, prepare-o você mesmo) 2. Tomada de teste (fixa o dispositivo em teste) 3. Placa de circuito ...
JC CHERRY INC.
... TO-263-7/D2-PAK Conjunto de placas de teste de avaliação Poupe tempo eliminando a necessidade de conceber e adquirir tomadas e placas de circuito impresso separadamente - configure rapidamente o seu ambiente de avaliação. - Acelera ...
JC CHERRY INC.
... superfície, a tomada de teste RF pode ser utilizada para uma variedade de dispositivos IC e até para localizações irregulares de pinos. Caraterísticas: - Para avaliação de dispositivos - ...
JC CHERRY INC.
... Tomada de teste e de gravação Tamanho Também pode ser usado como soquete de queima sondas de pinos M altamente fiáveis como peças de contacto ●Alta frequência Para dispositivo BGA, dispositivo ...
JC CHERRY INC.
... Soquetes de alta frequência para avaliação de implementação de LSI Ideal para análise de falhas, prototipagem e teste de sinais de alta velocidade em placas de avaliação LSI e PCBs de produção. Suporta PAM4, PCIe Gen5, ...
JC CHERRY INC.
... Tomada de teste Estrutura GU29 / QFN pkg Tamanho 29x30,6mm / 1,14 "x1,20" Também pode ser usado como soquete Burn in alta fiabilidade ●Custo competitivo ●Temperatura: Para dispositivos QFN Como encomendar ...
JC CHERRY INC.
... Os soquetes de teste de base não flutuante são comuns para testar QFN e outros dispositivos sem chumbo. Eles são um projeto de duas peças que suporta pinos de mola ou contatos elastoméricos entre uma ...
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