Soquete de teste para TO (Transistor Outline) B1506A-TO-252-6599
para dispositivo ICpara transistor de potência

Soquete de teste para TO (Transistor Outline) - B1506A-TO-252-6599 - JC CHERRY INC. - para dispositivo IC / para transistor de potência
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Características

Aplicações
para transistor de potência, para TO (Transistor Outline), para dispositivo IC

Descrição

- Compatível com o analisador de dispositivos de potência Keysight B1506A Capaz de medir as caraterísticas IV e CV de dispositivos de potência - Conceção e fabrico de tomadas de teste, placas de circuito impresso e dispositivos fictícios de calibração - Compatível com vários formatos de dispositivos, incluindo SMD (dispositivos montados na superfície) Esta é uma solução para módulos de tomada montados no B1506A. Suporta correntes elevadas de impulso: 400A / DC: 100A. Com corrente de fuga minimizada, permite medições altamente precisas. O "B1506A" é um dispositivo concebido para uma medição fácil e altamente precisa das caraterísticas dos dispositivos de potência, de potência, tais como MOS-FETs e IGBTs. Estão disponíveis módulos padrão para dispositivos do tipo DIP comuns, como TO-220 e TO-3P, são necessários módulos de tomada personalizados para a medição de dispositivos com outros formatos de embalagem, como SMD (dispositivos montados à superfície). Para medições que requerem alta tensão ou alta resistência ao calor, é necessário considerar cuidadosamente o material da tomada de teste e o design da placa de circuito de acordo com as condições de utilização. Para além das tomadas de teste, temos um historial comprovado na conceção de placas de circuito impresso e dispositivos fictícios de calibração para ensaios de ABERTURA/CORTE, o que nos permite fornecer soluções adaptadas a vários dispositivos. Configuração de módulos de tomada personalizados 1. Módulo de soquete universal "B1506A" (Fabricado pela Keysight; por favor, prepare-o você mesmo) 2. Tomada de teste (fixa o dispositivo em teste) 3. Placa de circuito impresso (Placa personalizada que liga o soquete ao analisador)

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