Soquete de teste de altas frequências

para dispositivo ICpor solda de imersão

Soquetes de alta frequência para avaliação de implementação de LSI Ideal para análise de falhas, prototipagem e teste de sinais de alta velocidade em placas de avaliação LSI e PCBs de produção. Suporta PAM4, PCIe Gen5, DDR5, USB 3.0 e muito mais As sondas ultracurtas garantem um desempenho de alta frequência A montagem direta nas almofadas originais reproduz percursos de sinal reais Dois tipos disponíveis: - Montagem com parafusos: - Fácil instalação com modificação mínima da placa - Até 1000 pinos, corpo compacto de 14,5 mm - Opções de motor de ventilador e dissipador de calor disponíveis - Montagem em superfície: - Suporte de passo de 0,4 mm - Alavanca rotativa e dissipador de calor incluídos - Adequado para utilização direta em PCBs de produção Suporta gestão térmica, ESD e análise de emissões Opções de alojamento personalizadas disponíveis para placas sem orifícios de encaixe Ideal para substituição de dispositivos, desenvolvimento de software e avaliação