光学式プロフィロメータ TopMap Pro.Surf
3D白色干渉法表面粗さ測定用

光学式プロフィロメータ - TopMap Pro.Surf - Polytec - 3D / 白色干渉法 / 表面粗さ測定用
光学式プロフィロメータ - TopMap Pro.Surf - Polytec - 3D / 白色干渉法 / 表面粗さ測定用
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特徴

技術
光学式, 3D, 白色干渉法
機能
表面粗さ測定用, 表面平坦性, 角度測定用, 形状測定用, 幾何学, 薄膜分析用, 変形監視
応用
制御用, 製造ライン用, ろくろ加工部品用, 大型部品用
特性
産業用, 実験用
設定
卓上, コンパクト, インライン
その他の特徴
非接触式, 非破壊式, 高速, 自動, 回転配置ステージ付き

詳細

広い視野で形状パラメータと3Dトポグラフィを測定 TopMap Pro.Surfは、大面積の表面形状を高速かつ効率的に測定できる光学式3D表面形状測定機です。 Pro.Surfは、インライン、アットライン、ラボを問わず、生産現場で信頼性の高い品質管理を実現するハイエンドの非接触プロファイラです。 Pro.Surfは、44x33 mmの大視野(FoV)で平坦度、段差高さ、平行度などを測定し、高度な試験効率を実現します。 白色光干渉計が大面積の高さデータをスキャンするため、1回のショットであらゆる表面の詳細を捉えることができます。 44x33mmの視野(FoV)で200万点以上の測定点を数秒で取得。 スティッチングにより230 x 220 mmまで視野を拡大し、70 mmの垂直測定範囲をフルに活用して凹面を測定し、倍率に依存しない卓越した垂直解像度の恩恵を受けることができます。 テレセントリック光学系は、届きにくい場所や深い穴もとらえます。 カスタムアドオンにより、Pro.Surfはアプリケーションに特化した表面検査システムになります: マルチセンサーシステムにアップグレードすれば、大型サンプルの形状分析に加え、粗さラインのプロファイリングも可能です。 統合ソフトウェア、カスタマイズ可能なデータ収集・評価ツール、独自パラメーターの作成、製造レベルでの1クリックソリューションとしての定義済み測定レシピの使用、バーコードスキャナーの統合などが可能です。 詳細はこちらまでお問い合わせください!

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。