Nikonの測定システム

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{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
臨界次元測定システム
臨界次元測定システム
NEXIV VMZ-S

... プローブや各種プロービングオプションにより、微細形状の 測定において低いプロービング誤差を実現。

コア機能

  • 高NA光学による広い倍率域での高精度・高速寸法測定
  • 多様な照明戦略と専用オプションにより難測定エッジや複雑形状の測定に対応。
  • 白黒/カラー1/3" CMOSカメラとシームレス光学ズームで観察から測定へスムーズに移行可能。
  • Nikon測定ソフトウェアおよびオプションのSDKと連携し、自動化
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ビデオ測定システム
ビデオ測定システム
iNEXIV VMA-2520

... 長作動距離で、高さや段差のあるサンプルの 測定に適したエントリーモデルです。 広視野による多彩な 測定用途 広視野 測定が可能な3つの ステージサイズをラインアップ。タッチプローブの装着も可能で、さまざまな検査や品質管理に威力を発揮します。 長作動距離と長Z軸ストローク 全倍率範囲で73.5mmの長作動距離と200mmのZ軸ストロークを実現。大きな段差や高さのある被検物 測定に適しています。 測定用途に応じたオプション レーザーAFやタッチプローブなど、 測定用途に応じたオプションを組み合わせてお ...

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位置測定システム
位置測定システム
APDIS

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  • 製品種別:車輪走行車両向けの非接触隙間・段差測定システム(インライン検査)。
  • 測定方式:APDIS Laser Radar 技術(絶対値・高速計測)。
  • 構成:マルチセンサー構成(一般的にLaser Radar 3台)による大きな計測ボリュームのカバー。
  • 同期:計測はコンベヤー/車両の動きと同期して行われるインライン動作。
  • スタンドオフ:大きな測定距離により接触リスクを低減。
  • 統合:リニア移動および
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協調型測定システム
協調型測定システム

... における正確かつ高速な 測定を製造現場にもたらし、Qualty 4.0の実現に向けた、自動車製造工程のプロセスコントロールを可能にします。 生産現場でのパラダイムシフト APDIS エンハンストタイプ(Eタイプ)は計測速度の高速化を実現し、ラインのタクト内での重要フィーチャーの全数検査を可能にします。 CAD比較 ロボットを用いたAPDIS自動 測定ソリューションは革新的なボディ計測を提供します。 ロボットに依存しない 測定精度 APDISを搭載したロボットは、 測定対象フィーチャーにレーザー ...

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直径測定システム
直径測定システム
NEXIV VMZ-NWL200

... 概要
VMZ-NWL200は、画像 測定装置NEXIVとウェハローダNWL200を統合した自動ウェハ 測定 シス テムです。高度な画像処理により、キャリアに収納された6インチおよび8インチのウェハを自動で高速かつ高精度に 測定し、半導体プロセス管理に適した 測定データを提供します。

信頼性、効率性、操作性

  • 高い信頼性:完全自動かつ再現性のある測定によりオペレータ差を低減。高性能光学によりエッジを正確に検出する鮮明な画像を生成します
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臨界次元測定システム
臨界次元測定システム
NEXIV VMF-K series

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  • プローブカード検査:単一 FOV での 2D/高さ同時取得、スループット向上、長尺測定対応。
  • ウェーハ検査および WLP:45× 対物で超微細特徴の測定を実現;共焦点は反射層や透明層の高さ測定に有効。
  • 基板製造および精密 QA:薄膜/透明材料の安定測定や長尺の座標測定


  • 光学と計測アプローチに関する注意
    シス テムは ...

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    ビデオ測定システム
    ビデオ測定システム
    iNEXIV VMA-4540

    ... 長作動距離で、高さや段差のあるサンプルの 測定に適したエントリーモデルです。 広視野による多彩な 測定用途 広視野 測定が可能な3つの ステージサイズをラインアップ。タッチプローブの装着も可能で、さまざまな検査や品質管理に威力を発揮します。 長作動距離と長Z軸ストローク 全倍率範囲で73.5mmの長作動距離と200mmのZ軸ストロークを実現。大きな段差や高さのある被検物 測定に適しています。 測定用途に応じたオプション レーザーAFやタッチプローブなど、 測定用途に応じたオプションを組み合わせてお ...

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    ビデオ測定システム
    ビデオ測定システム
    iNEXIV VMA-6555

    ... 長作動距離で、高さや段差のあるサンプルの 測定に適したエントリーモデルです。 広視野による多彩な 測定用途 広視野 測定が可能な3つの ステージサイズをラインアップ。タッチプローブの装着も可能で、さまざまな検査や品質管理に威力を発揮します。 長作動距離と長Z軸ストローク 全倍率範囲で73.5mmの長作動距離と200mmのZ軸ストロークを実現。大きな段差や高さのある被検物 測定に適しています。 測定用途に応じたオプション レーザーAFやタッチプローブなど、 測定用途に応じたオプションを組み合わせてお ...

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