ウェハー用検査機

11 社 | 20
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.defLight}}
{{#if product.requestButtonsVisibility.requestButtonQuestion == "ACTIVE" || product.requestButtonsVisibility.requestButtonWhereToBuy == "ACTIVE"}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.defLight}}
{{#if product.requestButtonsVisibility.requestButtonQuestion == "ACTIVE" || product.requestButtonsVisibility.requestButtonWhereToBuy == "ACTIVE"}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
CD-SEM検査機 / ウェハー用 / 測定用 / 高解像度
CD-SEM検査機
CD-SEM CG5000

... 22nm 以下の技術ノード向けに設計された新しい CD-SEMです。 高度なCD 測定 SEM CG5000 (HITACHI CD-SEM) は、電子光学の改良、高度な画像処理、新しいウエハ転送システムを利用して、高解像度、高スループット、高い繰り返し性を実現します。 CG5000はまた、強化された自動校正が可能で、長期的な安定性を提供します。 さらに、CD-SEM CG5000は、1Xnmプロセス開発のための新しいプロセスと新材料の測定の課題に対応するための新しいアプリケーションと測定技術を備えています。 ...

ウェハー用検査機
ウェハー用検査機
2 - 5 mm

... ウェーハエッジ検査システムは、3 台の画像処理カメラを使用して、ウェーハの表面を高精度に測定します。 したがって、300nmを超える欠陥が確実に検出されます。 欠陥のあるウェーハは、後のプロセスステップに大きな影響を与え、生産の停止につながる可能性があります。 詳細 • 信頼性の高い欠陥検出 • 2 ~ 5 mmのウェハエッジ • 高解像度画像処理システム • 粒子、ひび割れ、傷、点形状および平坦な欠陥、エッチング欠陥、結晶成長、汚染、幾何学的偏差を検出 ...

自動検査機 / ウェハー用 / 欠陥用
自動検査機
SEM CR6300

光学検査機 / ウェハー用 / 欠陥用 / 高速
光学検査機
IS Series

... LSI 生産ラインでは、DOI(関心欠陥)を逃さずに高周波で生産ウェーハの欠陥を検査することにより、高速欠陥モニタリングを重視しています。 ISシリーズは、量産工程において、パターン化されたウェーハ上で発生した欠陥を高速・高感度で監視することができます。 さらに、レシピ作成の使いやすい操作性と、200mmおよび300mmウエハの高周波・高速検査機能を備えています。 ISシリーズは、パターン化されたウェーハの欠陥管理と欠陥検査のコスト最適化に貢献します。 ...

自動検査機 / CD-SEM / ウェハー用 / 測定用
自動検査機
SEM CS4800

... Advanced CD 測定 SEM CS4800は、既存の製造ラインの生産性と運用効率を向上させ、お客様のプロセス制御能力を向上させるために設計された高品質のSEMイメージング、測定精度の向上、高速な自動操作を提供します。 さらに、CD-SEM: CS4800は、お客様が新しいウェーハ転送システムに切り替えることができる2つの異なるウェーハサイズを扱うように構成することができます。 日立ハイテクは、新しい半導体や電子デバイスに対するお客様の多様なニーズに応えるために、炭化ケイ素(SiC)や窒化ガリウム(GaN)などの各種ウェーハ材料のサポートを拡大する計画です。 ...

半自動検査機 / エレクトロニクス産業用 / ウェハー用 / 半導体用
半自動検査機
Proforma 300SA

... Proforma 300iSAは、半導電材料および半絶縁材料用のベンチトップ/デスクトップ半自動ウェハ測定システムです。 Proforma 300iSAは、MTII独自のプッシュプル容量技術をベースに、厚さ、厚さの変化、弓、反り、ソリ、サイトおよびグローバル平坦性の全ウエハ表面スキャンを提供します。 ユーザー定義およびASTM/SEMI準拠のスキャンパターンを使用して、完全な3次元(3D)ウェハ画像を生成します。 カスタマイズされたデータレポートを使用して、測定した各ウェハの表形式のデータを表形式で表示し、スプレッドシートプログラムにすばやく簡単にエクスポートできます。 ...

自動検査機 / ウェハー用 / 表面用 / 欠陥用
自動検査機
EB30™

... エッジ検査と背面検査を1つのモジュールにまとめる 製品概要 クラス1認定E30およびB30モジュール(別売、または1つのモジュールに組み合せて使用可能)は、ゾーン1から5までのエッジ全体および背面全体の欠陥を自動的に検出します。 裏面全体を検査できるため、ゾーン5の欠陥の根本原因を迅速に分析できます。このような欠陥はウエハ内部から移行する可能性があります。 EB30モジュールは、オンザフライで欠陥画像をキャプチャし、全体のウェハコンポジット画像を作成し、SEMベベルレビュー用に完全に統合されています。 ...

その他の製品を見る
Onto Innovation Inc.
自動検査機 / ウェハー用 / 欠陥用
自動検査機
Firefly® Series

... Firefly検査シリーズは、FPGA、CPU/GPU、ネットワーキングサーバなどの高性能アプリケーション向けに自動検査ソリューションを提供します。また、ICドライバ、RFトランシーバ、ワイヤレス接続、MEMSといったI/O数の少ないアプリケーションにも対応します。 製品概要 このプラットフォームは、ウェハ(円形)またはパネル(長方形)基板のいずれかに設定可能で、Onto Innovationの特許取得済みのClearfind® テクノロジーなど、複数のイメージングモードを提供します。このテクノロジーは、大きなプロセスウィンドウで金属および金属欠陥の残留欠陥を検出するための技術です。有機レイヤー。 ...

その他の製品を見る
Onto Innovation Inc.
3D検査機 / 自動 / ビジュアル / ウェハー用
3D検査機
Dragonfly® G2

... Dragonfly G2システムは、2Dと3Dテクノロジーを組み合わせて、収量強盗の欠陥を検出し、今日のパッケージング技術にとって重要な機能を測定することで、スループット、精度、信頼性に対する業界の期待を再現します。 製品概要 2Dイメージング技術は、1ミクロンまでの欠陥を迅速かつ信頼性の高い検査を提供します。 Onto Innovationの特許取得済みのTruebump® テクノロジーは、複数の3D測定技術を組み合わせて、100% バンプ高さを実現します。 ...

その他の製品を見る
Onto Innovation Inc.
ウェハー用検査機 / 選別用
ウェハー用検査機
XCEL for Die Inspection & Sorting

... 半導体上の圧力センサ用です。 機械は、シリコンウェーハの正確な光学検査(AOI)を行い、次に排出し、良品/悪いダイの選別を行います。 マシンには3つの高倍率カメラ(数ミクロンの解像度)が装備されており、そのうちの2つは異なる倍率でマイクロ回路の上部検査を実行し、第三は、ダイが排出され、底部のカメラ上で移動されると、底部の台座の品質をチェックします。 ツールの管理ソフトウェアは企業ネットワークに接続され、そこから実行されるレシピと検査パラメータをリアルタイムで受け取ります。 ...

X 線検査機 / ウェハー用 / 高解像度
X 線検査機
MFM310

光学検査機 / ウェハー用 / マクロ欠陥
光学検査機
CIRCL™

... 全表面ウエハ欠陥検査、計測、およびレビュークラスタシステム CIRCL™ クラスタツールには4つのモジュールがあり、すべてのウェハ表面をカバーし、効率的なプロセス制御のために高スループットで並列データ収集を提供します。 最新世代のCIRCL5システムを構成するモジュールには、フロントサイドウエハ欠陥検査、ウェハエッジ欠陥検査、プロファイル、測定およびレビュー、バックサイドウエハ欠陥検査およびレビュー、およびフロントサイド欠陥の光学検査と分類、などがあります。 データ収集は、DirectedSampling™ ...

その他の製品を見る
KLA - TENCOR
自動検査機 / ウェハー用 / 3D
自動検査機
Superfast 4G

Veeco Ultratech Superfast 4Gウエハ検査システム 3D処理および検査 半導体産業が、ムーアの法則に沿ってデバイスの寸法を縮小することにより、生産性と性能を追求し続けている中で、メーカーは基本的な材料特性とリソグラフ波長によって制限されるボトルネックに陥ろうとしています。業界は、これらの制限を回避するために3D統合スキームを選択しました(垂直型NAND、HAR DRAM、ロジックFinFETなど)。これらの3D方式の量産化では、低コストの高性能3Dウエハ検査システムが必要です。 Veecoは、光学技術、システム統合、材料物理学の広範な知識の中核技術を活用して、CGS(Coherent ...

その他の製品を見る
VEECO
ウェハー用検査機 / 光学顕微鏡付
ウェハー用検査機

ウェハー用検査機
ウェハー用検査機
F80-c series