平坦度測定用プロフィロメータ

最も要求の厳しいアプリケーション向けに設計されたNexview™ NX2 白色干渉計は、超高精度、高度なアルゴリズム、汎用性、および自動化を1つのパッケージに組み合わせて、ZYGOの最先端の垂直走査低コヒーレンス干渉計 (CSI) プロファイラです。 この非接触のテクノロジーは、すべての倍率でサブナノメートルの精度を提供し、他のテクノロジーよりも高速かつ正確に広範囲の表面を測定することができます。Nexview NX2は、ほぼすべての表面と材料の、平坦度、粗さ、うねり、薄膜、ステップ高さなど、さまざまな用途に対応できる、完成されたプロファイラです。 資料請求

生産現場で使える白色干渉計 ZeGage™ ProとZeGage™ Pro HR 白色干渉計は、製造現場での品質管理とプロセス管理を保証する、さまざまな種類の表面のマイクロスケールとナノスケールの非接触表面測定と特性評価を提供します。 当社の業界をリードするZeGage Proシリーズは、ベンチトップクラスの産業用白色干渉計の性能、使いやすさ、柔軟性と精度を保証します。ZYGO独自のCSIテクノロジーに基づいて構築されたZeGage Proは、正確で信頼性の高い、シンプルな表面測定を可能にする革新的なテクノロジーを提供します。 その独自の機能には、耐振動性測定のためのSureScan™テクノロジー、パーツファインダー、部品のセットアップを容易にし、測定を最適化するためのスマートセットアップなどがあります。 ...

NewView™ 9000 白色干渉計は、非接触式光学表面プロファイリングに力強い汎用性をもたらします。このシステムは鏡面、粗面、平面、傾斜、階段状など、さまざまな種類の表面を簡単に素早く測定できます。測定はすべて非破壊かつ高速で、試料の前処理は不要です。 システムの中核を成すのは、ZYGOのコヒーレンススキャン干渉測定 (CSI) テクノロジーです。これにより、すべての倍率でサブナノメートルの精度を実現し、他のテクノロジーよりも高速でより正確に、より広い範囲の表面を測定することができます。 性能、汎用性 汎用性が、ZYGOのNewView製品の特長です。NewView ...

フォームパラメータとサーフェス・トポグラフィの3D・面的評価 TopMap Pro.Surf は、形状偏差や表面形状を高速に、3Dで大面積に、そして究極の精度で測定します。TopMap Pro.Surf は、ハイエンドの光学式表面形状測定システムであり、精密機械の製造工程における品質管理に最適です。TopMap Pro.Surf は、平面度、段差、平行度などの表面パラメータの評価が重要な場合に、あらゆる表面特性評価タスクに対してカスタマイズされたソリューションを提供します。高い空間分解能とテレセントリックな光学コンセプト、そして優れた測定速度により、生産レベルでの信頼性の高い非接触センサーソリューションを提供します。 平坦度、うねり、段差高さなどの形状公差の測定 ポリテックの白色光干渉計は、ワンショットで表面のあらゆるディテールを収集し、面的な ...

微細構造・粗さ測定用コンパクト光学式プロファイラ TopMap Micro.View®は、白色光干渉計TopMapシリーズのコンパクトな測定システムで、表面構造、表面テクスチャ、表面粗さのパラメータを繰り返し高精度で検査・評価することができます。CSTコンティニュアス・スキャニング・テクノロジーを搭載し、100mmのZ軸移動により、100mmの測定範囲とナノメートル範囲の垂直分解能を提供します。この光学式プロフィロメーターは、エレクトロニクスを統合したコンパクトな設計が特徴で、自動フォーカスファインダー機能などにより、生産環境やテストラボで迅速かつ効率的に測定できる使い勝手の良さが印象的な製品です。 + ...

表面の詳細、形状パラメータ、および粗さの複合的な光学3D測定 TopMap Pro.Surf+は、平面度、段差、平行度、表面粗さなどの形状パラメータを評価し、あらゆる表面特性の要求に応えるカスタマイズされたソリューションを提供します。その空間分解能とテレセントリックな光学系は、深部まで到達し、他に類を見ない測定速度とともに、この生産計測ツールの高性能を証明しています。 TopMap Pro.Surf +は優れた空間分解能と、テレセントリックレンズを有するため、あらゆるアプリケーションにおいて、平坦度、段差、平行度などのパラメータを正確に測定できます。 クロマティック共焦点センサと白色光干渉計を組み合わせることによって重要な表面情報の見落としがありません。。測定範囲は44×33 ...

... SuperView W1 光学式三次元表面形状測定機は、様々な精密部品のサブナノメーター測定に最適な装置です。白色光干渉技術の原理に基づき、高精度Z方向スキャンモジュールと3Dモデリングアルゴリズムと組み合わせて、非接触で対象物の表面をスキャンし、表面の3D画像を作成することができます。XtremeVisionソフトウェアが3D画像を処理・解析した後、対象物の表面品質を反映する一連の2D、3Dパラメータが得られます。 SuperView W1は、あらゆる種類の表面形状・粗さパラメータの強力な分析機能を備えた、ユーザーフレンドリーな精密光学機器です。ユニークな光源により、滑らかな表面と粗い表面の両方を持つ様々な精密部品を測定することができます。 アプリケーション 半導体、3Cエレクトロニクス、超精密加工、光学加工、マイクロナノ材料、微小電気機械システムの産業から精密部品の表面粗さとプロファイルの測定と解析に使用されます。 平坦度、粗さ、うねり、外観、表面欠陥、摩耗、腐食、隙間、穴、段差、曲率、変形など、様々な製品、部品、材料の表面形状やプロファイル特性を測定・解析します。 ...

... SuperView W3 光学式三次元表面形状測定機は、様々な精密部品のサブナノメーター測定に最適な装置です。白色光干渉技術の原理に基づき、高精度Z方向スキャンモジュールと3Dモデリングアルゴリズムと組み合わせて、非接触で対象物の表面をスキャンし、表面の3D画像を確立することができます。XtremeVisionソフトウェアが3D画像を処理・解析した後、対象物の表面品質を反映する一連の2D、3Dパラメータが得られます。 SuperView W3は、あらゆる種類の表面形状・粗さパラメータの強力な分析機能を備えた、ユーザーフレンドリーな精密光学機器です。独自の光源により、平滑面と粗面を持つ様々な精密部品を測定することができます。 半導体、3Cエレクトロニクス、超精密加工、光学加工、マイクロナノ材料、微小電気機械システムの産業から精密部品の表面粗さとプロファイルの測定と分析に使用されます。 平坦度、粗さ、うねり、外観、表面欠陥、摩耗、腐食、隙間、穴、段差、曲率、変形など、様々な製品、部品、材料の表面形状やプロファイル特性を測定・解析します。 ...

自動化されたフリーフォーム光学測定システム。高精度フリーフォーム光学部品を素早く正確に測定。 Taylor Hobson のフォーム タリサーフ PGI (Phase Grating Interferometer：位相格子干渉計) は、多用途の高精密のフリーフォーム光学測定用高分解能 3D フリーフォームプロフィロメータです。表面仕上げおよびフリーフォーム光学レンズの形状分析を行います。 概要 自由曲面の光学部品を高速に、 かつ高精度に測定する自動化システム 新フォーム ...

超高速非接触式3Dレンズ形状測定装置 LUPHOScan SLは、超高速度測定やレンズの幾何学的特徴の測定能力など、システムの主な利点により、小型レンズの大量生産に最適です。光学面、およびインターロック表面の真円度、フラットレンズ表面の平坦度などの幾何学的特徴、これらの特徴に対する光学表面の位置を測定することができます。 スマートフォン用レンズの非接触式3D計測のための、世界最速で最も精度の高いシステム。 LUPHOScan SLは、超高速度測定やレンズの幾何学的特徴 ...

非球面、自由曲面光学部品・レンズ成形測定用の非接触式3D形状測定装置 The LUPHOScan HD 非接触式3D光学プロフィロメータ / 形状測定装置は、逸脱の大きい非球面や自由曲面など、困難な表面の半径や不規則性の、最も精度の高い非接触式3D形状測定を提供します。その優れた安定性が、最も困難な環境でも精度を保証し、精度を損なうことなく、高速の測定サイクル時間を実現します。新世代の3Dプロフィロメータ / 形状測定装置は、90°までの試料勾配で、業界初の±50 ...

インライン計測 ソリューション Sensofarのインライン計測センサーシステムは、表面計測システムの開発における14年以上にわたる経験を集結させたものです。 これらの製品は、過酷な製造環境に統合できるようにするため、すべての設計が一から見直されています。コンパクト、軽量、柔軟なマウンティングオプションを提供するS martおよびS onixセンサーは、お客様が必要とする高性能の表面計測を特定の用途で可能にします。 ロバスト性、耐久性 そして信頼性 生産環境が、必ずしも測定に適しているとは限りません ...