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... 自動化されたフリーフォーム光学測定システム。高精度フリーフォーム光学部品を素早く正確に測定。 Taylor Hobson のフォーム タリサーフ PGI (Phase Grating Interferometer：位相格子干渉計) は、多用途の高精密のフリーフォーム光学測定用高分解能 3D フリーフォームプロフィロメータです。表面仕上げおよびフリーフォーム光学レンズの形状分析を行います。 概要 自由曲面の光学部品を高速に、 かつ高精度に測定する自動化システム 新フォーム タリサーフ® ...
TAYLOR HOBSON
... 超高速非接触式3Dレンズ形状測定装置 LUPHOScan SLは、超高速度測定やレンズの幾何学的特徴の測定能力など、システムの主な利点により、小型レンズの大量生産に最適です。光学面、およびインターロック表面の真円度、フラットレンズ表面の平坦度などの幾何学的特徴、これらの特徴に対する光学表面の位置を測定することができます。 スマートフォン用レンズの非接触式3D計測のための、世界最速で最も精度の高いシステム。 LUPHOScan SLは、超高速度測定やレンズの幾何学的特徴 (インターロック面の真円度、フラットレンズ面の平坦度、これらの特徴に対する光学面の位置など) ...
TAYLOR HOBSON
... 非球面、自由曲面光学部品・レンズ成形測定用の非接触式3D形状測定装置 The LUPHOScan HD 非接触式3D光学プロフィロメータ / 形状測定装置は、逸脱の大きい非球面や自由曲面など、困難な表面の半径や不規則性の、最も精度の高い非接触式3D形状測定を提供します。その優れた安定性が、最も困難な環境でも精度を保証し、精度を損なうことなく、高速の測定サイクル時間を実現します。新世代の3Dプロフィロメータ / 形状測定装置は、90°までの試料勾配で、業界初の±50 nm (3σ) を超える機器精度を提供します。 ...
TAYLOR HOBSON
... HRP®-260は、カセット間の高分解能スタイラス・プロファイラです。 HRPは、半導体、化合物半導体、高輝度 LED、データストレージおよび関連産業に対応する自動ウェハハンドリング機能により、生産実績のある性能を提供します。 P-260 構成は、ステッチなしで最大 200mmのスキャンに対して、ステップ高さ、粗さ、弓、および応力の2Dおよび3D 測定をサポートします。 HRP®-260 構成は、P-260 と同じ機能に加え、高分解能ステージで小さな機能を高分解能かつ高速なスループットで測定します。 ...
... 広い視野で形状パラメータと3Dトポグラフィを測定 TopMap Pro.Surfは、大面積の表面形状を高速かつ効率的に測定できる光学式3D表面形状測定機です。 Pro.Surfは、インライン、アットライン、ラボを問わず、生産現場で信頼性の高い品質管理を実現するハイエンドの非接触プロファイラです。 Pro.Surfは、44x33 mmの大視野（FoV）で平坦度、段差高さ、平行度などを測定し、高度な試験効率を実現します。 白色光干渉計が大面積の高さデータをスキャンするため、1回のショットであらゆる表面の詳細を捉えることができます。 ...
Polytec
... 形状や粗さ、テクスチャー、傷や欠陥、微細構造、MEMSや半導体をサブnmの分解能で分析しませんか Micro.View+は、最高の再現性と測定精度を備えた表面形状測定機です。 nm粗さ・微細構造用モジュール型光学式表面形状測定機 TopMap Micro.View+ は、ポリテックの新世代光学式表面形状測定機です。モジュラー設計により、精密加工部品やマイクロシステムのテクスチャ、微細構造、形状、粗さなど、お客様の表面検査タスクに合わせたさまざまな構成が可能です。Micro.View+は、測定や研究室向けに設計されていますが、純粋なセンサーを統合することで、インラインアプリケーションにも適しています。 3Dトポグラフィを視覚化し、カラーモードを使用して、表面欠陥や文書化など、より意味のある視覚化と差別化を行うことができます。オプションで5MPカメラを使用できます。 包括的なアクセサリーパッケージは、測定を簡素化し、スピードアップします。フォーカス・ファインダーと革新的なフォーカス・トラッカーは、どのような状況下でも、また再ポジショニングの最中でも、常に試験片にピントを合わせます。完全モーター駆動のポジショニング・テーブルは、先端/傾斜を自動的に調整しながら、自動スティッチングと試験をサポートします。 + ...
Polytec
... TopMap Micro.View®は、白色光干渉計TopMapシリーズのコンパクトな表面形状測定装置で、微細構造、テクスチャ、仕上げ、面粗さパラメータ（Sa、Sz、...）の再現性の高い高解像度の表面検査を可能にします。 nm以下の分解能で高速に表面をスキャンします！ 。 100 ミリメートルの z 方向測定レンジを持つ Continuous Scanning Technology(CST) は、複雑な形状をナノメートルの分解能で測定することを可能にします。この便利な卓上型のセットアップは、測定を容易にして、かつ高速化する高性能のフォーカスファインダを含むエレクトロニクスを持っていることを特徴としています。 拡張された機能を持つコンパクトなフットプリント ノイズが大きく測定が難しい製造ラインの環境などにおいても、オプションの ...
Polytec
... SJ5720-OPTシリーズは、1回のスキャンで表面粗さとプロファイルの両方を測定することができます。また、大型非球面の測定・解析のための専用ソフトウェアモジュールも搭載しており、光学レンズ業界にとって理想的な測定ソリューションです。 また、ベアリング、人工関節、精密金型、歯車、ブレードなどの大型曲面のプロファイルと粗さ測定にも使用できます。その結果、精密機械加工、自動車、ベアリング、工作機械、金型、精密ハードウェアなどの産業で広く使用されています。 特徴 1.一度のスキャンでプロファイルと粗さパラメータを同時に評価 2.高精度、高安定性、高再現性 3.非球面光学ソフトウェアモジュール 4.インテリジェントな管理と高度なソフトウェア分析システム 5.スキャン中のインテリジェント保護システム 6.柔軟な手動制御 7.安定性の高い防振システム ...
Chotest Technology Inc.
... SuperView W1 光学式三次元表面形状測定機は、様々な精密部品のサブナノメーター測定に最適な装置です。白色光干渉技術の原理に基づき、高精度Z方向スキャンモジュールと3Dモデリングアルゴリズムと組み合わせて、非接触で対象物の表面をスキャンし、表面の3D画像を作成することができます。XtremeVisionソフトウェアが3D画像を処理・解析した後、対象物の表面品質を反映する一連の2D、3Dパラメータが得られます。 SuperView W1は、あらゆる種類の表面形状・粗さパラメータの強力な分析機能を備えた、ユーザーフレンドリーな精密光学機器です。ユニークな光源により、滑らかな表面と粗い表面の両方を持つ様々な精密部品を測定することができます。 用途 半導体、3Cエレクトロニクス、超精密加工、光学加工、マイクロナノ材料、微小電気機械システムの産業から精密部品の表面粗さとプロファイルの測定と解析に使用されます。 平坦度、粗さ、うねり、外観、表面欠陥、摩耗、腐食、隙間、穴、段差、曲率、変形など、様々な製品、部品、材料の表面形状やプロファイル特性を測定・解析します。 ...
Chotest Technology Inc.
... SuperView W1 光学式三次元表面形状測定機は、様々な精密部品のサブナノメーター測定に最適な装置です。白色光干渉技術の原理に基づき、高精度Z方向スキャンモジュールと3Dモデリングアルゴリズムと組み合わせて、非接触で対象物の表面をスキャンし、表面の3D画像を作成することができます。XtremeVisionソフトウェアが3D画像を処理・解析した後、対象物の表面品質を反映する一連の2D、3Dパラメータが得られます。 SuperView W1は、あらゆる種類の表面形状・粗さパラメータの強力な分析機能を備えた、ユーザーフレンドリーな精密光学機器です。ユニークな光源により、滑らかな表面と粗い表面の両方を持つ様々な精密部品を測定することができます。 アプリケーション 半導体、3Cエレクトロニクス、超精密加工、光学加工、マイクロナノ材料、微小電気機械システムの産業から精密部品の表面粗さとプロファイルの測定と解析に使用されます。 平坦度、粗さ、うねり、外観、表面欠陥、摩耗、腐食、隙間、穴、段差、曲率、変形など、様々な製品、部品、材料の表面形状やプロファイル特性を測定・解析します。 ...
Chotest Technology Inc.
... 最も要求の厳しいアプリケーション向けに設計されたNexview™ NX2 白色干渉計は、超高精度、高度なアルゴリズム、汎用性、および自動化を1つのパッケージに組み合わせて、ZYGOの最先端の垂直走査低コヒーレンス干渉計 (CSI) プロファイラです。 この非接触のテクノロジーは、すべての倍率でサブナノメートルの精度を提供し、他のテクノロジーよりも高速かつ正確に広範囲の表面を測定することができます。Nexview NX2は、ほぼすべての表面と材料の、平坦度、粗さ、うねり、薄膜、ステップ高さなど、さまざまな用途に対応できる、完成されたプロファイラです。 資料請求 ...
Zygo
... 生産現場で使える白色干渉計 ZeGage™ ProとZeGage™ Pro HR 白色干渉計は、製造現場での品質管理とプロセス管理を保証する、さまざまな種類の表面のマイクロスケールとナノスケールの非接触表面測定と特性評価を提供します。 当社の業界をリードするZeGage Proシリーズは、ベンチトップクラスの産業用白色干渉計の性能、使いやすさ、柔軟性と精度を保証します。ZYGO独自のCSIテクノロジーに基づいて構築されたZeGage Proは、正確で信頼性の高い、シンプルな表面測定を可能にする革新的なテクノロジーを提供します。 その独自の機能には、耐振動性測定のためのSureScan™テクノロジー、パーツファインダー、部品のセットアップを容易にし、測定を最適化するためのスマートセットアップなどがあります。 ...
Zygo
... NewView™ 9000 白色干渉計は、非接触式光学表面プロファイリングに力強い汎用性をもたらします。このシステムは鏡面、粗面、平面、傾斜、階段状など、さまざまな種類の表面を簡単に素早く測定できます。測定はすべて非破壊かつ高速で、試料の前処理は不要です。 システムの中核を成すのは、ZYGOのコヒーレンススキャン干渉測定 (CSI) テクノロジーです。これにより、すべての倍率でサブナノメートルの精度を実現し、他のテクノロジーよりも高速でより正確に、より広い範囲の表面を測定することができます。 性能、汎用性 汎用性が、ZYGOのNewView製品の特長です。NewView ...
Zygo
... 円筒度測定器 特徴・メリット 1.2軸の格子カウントが可能 2.多素子評価方式、モジュール評価方式が可能。 3.自己展開により、センタリング、レベリングを支援。 4.整流子評価機能により、1チップの振れ、隣接チップの振れ、カットオフ差の評価が可能。 5.円筒度をより正確に測定できるマルチセクション方式を採用。 使用方法 真円度、同軸度、同心度、平面度、半径方向片振れ、軸方向片振れ、平行度、直角度 測定範囲：1-15upr, l-50upr, l-150upr． 1-250upr,l-500upr,15-100upr,15-500upr,2-15upr，customized ...