変形監視プロフィロメータ

... CFM3010測定システムは、クランクシャフト、ギアシャフト、カムシャフトの形状や寸法の狂いを確実に測定します。この完全自動測定装置は、0.3μmまでの繰り返し精度で値が一定に保たれた高解像度の結果を迅速に提供します。 この測定システムは、測定室と生産現場の両方での使用に適しています。防振対策を施した堅牢な構造により、製造現場の厳しい環境下でも正確な測定が可能です。磨耗のない測定スライドはエアベアリングに取り付けられており、メンテナンスは不要です。 クランクシャフトとカムシャフトの測定用に特別に開発された直感的なTURBO ...

... 広い視野で形状パラメータと3Dトポグラフィを測定 TopMap Pro.Surfは、大面積の表面形状を高速かつ効率的に測定できる光学式3D表面形状測定機です。 Pro.Surfは、インライン、アットライン、ラボを問わず、生産現場で信頼性の高い品質管理を実現するハイエンドの非接触プロファイラです。 Pro.Surfは、44x33 mmの大視野（FoV）で平坦度、段差高さ、平行度などを測定し、高度な試験効率を実現します。 白色光干渉計が大面積の高さデータをスキャンするため、1回のショットであらゆる表面の詳細を捉えることができます。 ...

... 形状や粗さ、テクスチャー、傷や欠陥、微細構造、MEMSや半導体をサブnmの分解能で分析しませんか Micro.View+は、最高の再現性と測定精度を備えた表面形状測定機です。 nm粗さ・微細構造用モジュール型光学式表面形状測定機 TopMap Micro.View+ は、ポリテックの新世代光学式表面形状測定機です。モジュラー設計により、精密加工部品やマイクロシステムのテクスチャ、微細構造、形状、粗さなど、お客様の表面検査タスクに合わせたさまざまな構成が可能です。Micro.View+は、測定や研究室向けに設計されていますが、純粋なセンサーを統合することで、インラインアプリケーションにも適しています。 3Dトポグラフィを視覚化し、カラーモードを使用して、表面欠陥や文書化など、より意味のある視覚化と差別化を行うことができます。オプションで5MPカメラを使用できます。 包括的なアクセサリーパッケージは、測定を簡素化し、スピードアップします。フォーカス・ファインダーと革新的なフォーカス・トラッカーは、どのような状況下でも、また再ポジショニングの最中でも、常に試験片にピントを合わせます。完全モーター駆動のポジショニング・テーブルは、先端/傾斜を自動的に調整しながら、自動スティッチングと試験をサポートします。 + ...

... TopMap Micro.View®は、白色光干渉計TopMapシリーズのコンパクトな表面形状測定装置で、微細構造、テクスチャ、仕上げ、面粗さパラメータ（Sa、Sz、...）の再現性の高い高解像度の表面検査を可能にします。 nm以下の分解能で高速に表面をスキャンします！ 。 100 ミリメートルの z 方向測定レンジを持つ Continuous Scanning Technology(CST) は、複雑な形状をナノメートルの分解能で測定することを可能にします。この便利な卓上型のセットアップは、測定を容易にして、かつ高速化する高性能のフォーカスファインダを含むエレクトロニクスを持っていることを特徴としています。 拡張された機能を持つコンパクトなフットプリント ノイズが大きく測定が難しい製造ラインの環境などにおいても、オプションの ...

... SJ5720-OPTシリーズは、1回のスキャンで表面粗さとプロファイルの両方を測定することができます。また、大型非球面の測定・解析のための専用ソフトウェアモジュールも搭載しており、光学レンズ業界にとって理想的な測定ソリューションです。 また、ベアリング、人工関節、精密金型、歯車、ブレードなどの大型曲面のプロファイルと粗さ測定にも使用できます。その結果、精密機械加工、自動車、ベアリング、工作機械、金型、精密ハードウェアなどの産業で広く使用されています。 特徴 1.一度のスキャンでプロファイルと粗さパラメータを同時に評価 2.高精度、高安定性、高再現性 3.非球面光学ソフトウェアモジュール 4.インテリジェントな管理と高度なソフトウェア分析システム 5.スキャン中のインテリジェント保護システム 6.柔軟な手動制御 7.安定性の高い防振システム ...