変形監視プロフィロメータ

... CFM3010測定システムは、クランクシャフト、ギアシャフト、カムシャフトの形状や寸法の狂いを確実に測定します。この完全自動測定装置は、0.3μmまでの繰り返し精度で値が一定に保たれた高解像度の結果を迅速に提供します。 この測定システムは、測定室と生産現場の両方での使用に適しています。防振対策を施した堅牢な構造により、製造現場の厳しい環境下でも正確な測定が可能です。磨耗のない測定スライドはエアベアリングに取り付けられており、メンテナンスは不要です。 クランクシャフトとカムシャフトの測定用に特別に開発された直感的なTURBO ...

フォームパラメータとサーフェス・トポグラフィの3D・面的評価 TopMap Pro.Surf は、形状偏差や表面形状を高速に、3Dで大面積に、そして究極の精度で測定します。TopMap Pro.Surf は、ハイエンドの光学式表面形状測定システムであり、精密機械の製造工程における品質管理に最適です。TopMap Pro.Surf は、平面度、段差、平行度などの表面パラメータの評価が重要な場合に、あらゆる表面特性評価タスクに対してカスタマイズされたソリューションを提供します。高い空間分解能とテレセントリックな光学コンセプト、そして優れた測定速度により、生産レベルでの信頼性の高い非接触センサーソリューションを提供します。 平坦度、うねり、段差高さなどの形状公差の測定 ポリテックの白色光干渉計は、ワンショットで表面のあらゆるディテールを収集し、面的な ...

微細構造・粗さ測定用コンパクト光学式プロファイラ TopMap Micro.View®は、白色光干渉計TopMapシリーズのコンパクトな測定システムで、表面構造、表面テクスチャ、表面粗さのパラメータを繰り返し高精度で検査・評価することができます。CSTコンティニュアス・スキャニング・テクノロジーを搭載し、100mmのZ軸移動により、100mmの測定範囲とナノメートル範囲の垂直分解能を提供します。この光学式プロフィロメーターは、エレクトロニクスを統合したコンパクトな設計が特徴で、自動フォーカスファインダー機能などにより、生産環境やテストラボで迅速かつ効率的に測定できる使い勝手の良さが印象的な製品です。 + ...

あらたな次元の光学式三次元形状測定器 TopMap Micro.View +は、次世代の光学式形状測定器です。この総合的なワークステーションは、モジュール方式のデザインによって、それぞれのアプリケーションの要求に合わせた特有の構成を可能にします。Micro.View +は、表面粗さ、表面の詳細、および微細構造の形状測定について、詳細な分析を提供します。3D データをカラー情報と組み合わせて、欠陥を詳細に記録するなどの見事な視覚化や広範囲の分析を実現します。高解像度カメラは、非常に詳細な設計表面の ...