卓上プロフィロメータ

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光学式プロフィロメータ
光学式プロフィロメータ
ContourX-100

粗さの測定のための合理化され、現実的なベンチトップ ContourX-100光学プロフィロメータは、クラス最高の価格帯で正確で再現可能な非接触表面計測のための新しいベンチマークを設定します。小型フットプリントシステムは、数十年にわたる独自のブルーカーホワイトライト干渉法(WLI)イノベーションを取り入れた合理化されたパッケージで、妥協のない2D/3D高解像度測定機能を提供します。次世代の機能強化には、新しい5 MPカメラと、より大きなステッチ機能のための更新されたステージ、精密加工面、厚いフィルム、トライボロジーアプリケーションに対する利便性と柔軟性をさらに高める新しい測定モードUSIが含まれます。ContourX-100よりも優れた値を持つベンチトップシステムは見つかりません。

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Bruker Handheld XRF Spectrometry
光学式プロフィロメータ
光学式プロフィロメータ
ContourX-200

表面テクスチャ計測のための柔軟なベンチトップ ContourX-200光学式プロファイラー(3次元白色干渉型顕微鏡・表面形状粗さ計)は、高度な特性評価、カスタマイズ可能なオプション、使いやすさを完璧に融合させ、クラス最高の高速、高精度、再現性のある非接触3次元表面形状測定を実現します。ゲージ対応でフットプリントの小さいこのシステムは、より大きなFOVを持つ5MPデジタルカメラと新しい電動XYステージにより、妥協のない2D/3Dの高解像度測定機能を提供します。ContourX-200は、従来のコンフォーカル(共焦点)顕微鏡や光学式プロファイラーのような制限を受けることなく、ブルカー独自の白色光干渉技術(WLI)によるZ軸の分解能と精度を提供します。 ContourX-200光学式プロファイロメータは、40年以上にわたるWLI独自の技術革新により、定量的な計測に必要な低ノイズ、高速、高精度を実現しています。複数の対物レンズと統合された特徴認識機能により、様々な視野とサブナノメートルの垂直分解能で特徴を追跡することができ、様々な業界の品質管理やプロセスモニタリングのアプリケーションにスケールに依存しない結果を提供します。ContourX-200は、反射率0.05%から100%まで、あらゆる表面状況に対応します。また、革新的なステージデザインを採用し、より大きなスティッチング能力を実現したほか、1200x1000の計測アレイを備えた5MPカメラを搭載し、低ノイズ、広い視野、高い横方向の解像度を実現しています。

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Bruker Handheld XRF Spectrometry
光学式プロフィロメータ
光学式プロフィロメータ
ContourX-500

ContourX-500光学式プロファイラー(三次元白色干渉型顕微鏡・表面形状粗さ計)は、高速で非接触の3次元表面形状測定を可能にする、世界で最も包括的なベンチトップ型自動測定システムです。ゲージ対応のContourX-500は、卓越したZ軸の分解能と精度を誇り、ブルカーの白色光干渉計(WLI)のフロアスタンド型モデルの利点をすべて備えていますが、設置面積ははるかに小さくなっています。このプロファイラは、精密加工された表面や半導体プロセスのQA/QC計測から、眼科やMEMSデバイスの研究開発における特性評価まで、幅広い複雑なアプリケーションのために簡単にカスタマイズすることができます。 ブルカー独自のベンチトップ型設計 ブルカー独自のティップ/チルト機能を搭載した顕微鏡ヘッドは、生産現場でのセットアップや検査において、比類ない柔軟性を提供します。顕微鏡ヘッドの光路にチップ/チルト機能を組み合わせることで、ブルカーは検査ポイントをチルトとは無関係に視線に結合します。これにより、オペレーターの介入が少なくなり、最大限の再現性を得ることができます。その他のハードウェアの特徴としては、革新的なステージデザインにより、より大きなスティッチング能力を実現し、1200x1000の測定アレイを備えた5MPカメラにより、低ノイズ、広い視野、高い横方向の解像度を実現しています。これらの機能と自動ステージングおよび対物レンズの組み合わせにより、ContourX-500は、コンパクトな設置面積でありながら、研究開発や産業用計測に理想的な環境を実現しています。

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Bruker Handheld XRF Spectrometry
表面粗さ測定用プロフィロメータ
表面粗さ測定用プロフィロメータ
MarSurf CD 140

MarSurf CDシリーズの測定ステーションは、輪郭テストの新 しいスタンダードとなるものです。測定時間 の短縮、柔軟なアプリケーション、 簡単な取り扱いにより、 品質保証の効率化を実現します。 スピーディな測定と切り替え • 高速の位置決めと測定により測定時間を短縮 • 自動運転のためのフルCNC対応のZ軸 • 磁気マウントにより、 工具なしでプローブシステムを素早く交換 – 再校正が不要 • 自動プローブアーム検出により、 ...

光学式プロフィロメータ
光学式プロフィロメータ
TopMap Pro.Surf

フォームパラメータとサーフェス・トポグラフィの3D・面的評価 TopMap Pro.Surf は、形状偏差や表面形状を高速に、3Dで大面積に、そして究極の精度で測定します。TopMap Pro.Surf は、ハイエンドの光学式表面形状測定システムであり、精密機械の製造工程における品質管理に最適です。TopMap Pro.Surf は、平面度、段差、平行度などの表面パラメータの評価が重要な場合に、あらゆる表面特性評価タスクに対してカスタマイズされたソリューションを提供します。高い空間分解能とテレセントリックな光学コンセプト、そして優れた測定速度により、生産レベルでの信頼性の高い非接触センサーソリューションを提供します。 平坦度、うねり、段差高さなどの形状公差の測定 ポリテックの白色光干渉計は、ワンショットで表面のあらゆるディテールを収集し、面的な ...

光学式プロフィロメータ
光学式プロフィロメータ
TopMap Micro.View

微細構造・粗さ測定用コンパクト光学式プロファイラ TopMap Micro.View®は、白色光干渉計TopMapシリーズのコンパクトな測定システムで、表面構造、表面テクスチャ、表面粗さのパラメータを繰り返し高精度で検査・評価することができます。CSTコンティニュアス・スキャニング・テクノロジーを搭載し、100mmのZ軸移動により、100mmの測定範囲とナノメートル範囲の垂直分解能を提供します。この光学式プロフィロメーターは、エレクトロニクスを統合したコンパクトな設計が特徴で、自動フォーカスファインダー機能などにより、生産環境やテストラボで迅速かつ効率的に測定できる使い勝手の良さが印象的な製品です。 + ...

3Dプロフィロメータ
3Dプロフィロメータ
TopMap Pro.Surf+

表面の詳細、形状パラメータ、および粗さの複合的な光学3D測定 TopMap Pro.Surf+は、平面度、段差、平行度、表面粗さなどの形状パラメータを評価し、あらゆる表面特性の要求に応えるカスタマイズされたソリューションを提供します。その空間分解能とテレセントリックな光学系は、深部まで到達し、他に類を見ない測定速度とともに、この生産計測ツールの高性能を証明しています。 TopMap Pro.Surf +は優れた空間分解能と、テレセントリックレンズを有するため、あらゆるアプリケーションにおいて、平坦度、段差、平行度などのパラメータを正確に測定できます。 クロマティック共焦点センサと白色光干渉計を組み合わせることによって重要な表面情報の見落としがありません。。測定範囲は44×33 ...

光学式プロフィロメータ
光学式プロフィロメータ
Nexview™ NX2

最も要求の厳しいアプリケーション向けに設計されたNexview™ NX2 白色干渉計は、超高精度、高度なアルゴリズム、汎用性、および自動化を1つのパッケージに組み合わせて、ZYGOの最先端の垂直走査低コヒーレンス干渉計 (CSI) プロファイラです。 この非接触のテクノロジーは、すべての倍率でサブナノメートルの精度を提供し、他のテクノロジーよりも高速かつ正確に広範囲の表面を測定することができます。Nexview NX2は、ほぼすべての表面と材料の、平坦度、粗さ、うねり、薄膜、ステップ高さなど、さまざまな用途に対応できる、完成されたプロファイラです。 資料請求

光学式プロフィロメータ
光学式プロフィロメータ
ZeGage™ Pro

生産現場で使える白色干渉計 ZeGage™ ProとZeGage™ Pro HR 白色干渉計は、製造現場での品質管理とプロセス管理を保証する、さまざまな種類の表面のマイクロスケールとナノスケールの非接触表面測定と特性評価を提供します。 当社の業界をリードするZeGage Proシリーズは、ベンチトップクラスの産業用白色干渉計の性能、使いやすさ、柔軟性と精度を保証します。ZYGO独自のCSIテクノロジーに基づいて構築されたZeGage Proは、正確で信頼性の高い、シンプルな表面測定を可能にする革新的なテクノロジーを提供します。 その独自の機能には、耐振動性測定のためのSureScan™テクノロジー、パーツファインダー、部品のセットアップを容易にし、測定を最適化するためのスマートセットアップなどがあります。 ...

光学式プロフィロメータ
光学式プロフィロメータ
NewView™ 9000

NewView™ 9000 白色干渉計は、非接触式光学表面プロファイリングに力強い汎用性をもたらします。このシステムは鏡面、粗面、平面、傾斜、階段状など、さまざまな種類の表面を簡単に素早く測定できます。測定はすべて非破壊かつ高速で、試料の前処理は不要です。 システムの中核を成すのは、ZYGOのコヒーレンススキャン干渉測定 (CSI) テクノロジーです。これにより、すべての倍率でサブナノメートルの精度を実現し、他のテクノロジーよりも高速でより正確に、より広い範囲の表面を測定することができます。 性能、汎用性 汎用性が、ZYGOのNewView製品の特長です。NewView ...

機械式プロフィロメータ
機械式プロフィロメータ
SJ5701

... 1.表面輪郭の評価。半径、角度、距離、座標、円、円形断面を評価し、点、各交点、座標軸、直線、垂直線、円、円形断面を決定し、輪郭の真直度、丸みを分析することができます。 より多くの機能。 (1)回帰直線と円を作成する。 (2)点、交点、自由点、中心点、最高点、最低点を設定する。 (3)座標系の設定 (半径、距離、角度、座標、直線偏差を計算する。 (5)実測値と公称値の比較 (6)測定プログラムの自動実行 2.SJ5701は、表面粗さの評価が可能です。Ra、Rz、Rt、RS、RSm、Rp、Rv、Rq、Rt、Rmax、D、Rmr曲線、Rdc、など。 3.CNC自動モード対応、SPC統計・分析対応 4.CADファイルのインポートとCADプロファイルの注釈をサポート。 5.PDFプロファイルデータのインポートに対応 6.テストデータのWord、Excel、AutoCADへのエクスポートが可能(オプション) 7.複数の種類のレポート形式を出力し、ユーザー定義のレポートをサポート、またはレポートをカスタマイズします(オプション)。 8.オブジェクトの種類、メーカー、製造番号、検査官、提出機関、機器番号、検査日または有効期限などに応じて、テストレコードを照会し、管理することができます。 9.データベースから選択した複数の試験記録や試験証明書を一度に印刷することができます。 10.ユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェイス 11.データのバックアップと復元 特徴 1.高精度、高安定性、高再現性:測定対象物の測定要求に十分応えられます。 ...

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Chotest Technology Inc.
光学式プロフィロメータ
光学式プロフィロメータ
SuperView W1-Pro

... SuperView W1 光学式三次元表面形状測定機は、様々な精密部品のサブナノメーター測定に最適な装置です。白色光干渉技術の原理に基づき、高精度Z方向スキャンモジュールと3Dモデリングアルゴリズムと組み合わせて、非接触で対象物の表面をスキャンし、表面の3D画像を作成することができます。XtremeVisionソフトウェアが3D画像を処理・解析した後、対象物の表面品質を反映する一連の2D、3Dパラメータが得られます。 SuperView W1は、あらゆる種類の表面形状・粗さパラメータの強力な分析機能を備えた、ユーザーフレンドリーな精密光学機器です。ユニークな光源により、滑らかな表面と粗い表面の両方を持つ様々な精密部品を測定することができます。 アプリケーション 半導体、3Cエレクトロニクス、超精密加工、光学加工、マイクロナノ材料、微小電気機械システムの産業から精密部品の表面粗さとプロファイルの測定と解析に使用されます。 平坦度、粗さ、うねり、外観、表面欠陥、摩耗、腐食、隙間、穴、段差、曲率、変形など、様々な製品、部品、材料の表面形状やプロファイル特性を測定・解析します。 ...

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Chotest Technology Inc.
ダイレクト接触プロフィロメータ
ダイレクト接触プロフィロメータ
SJ5730

... 1.プロファイルとRaやPtなどの粗さパラメータの両方を一度スキャンする 2.表面粗さのRパラメータ、Pパラメータ、Wパラメータなど 3.表面形状評価。半径、角度、距離、座標、円、円断面を評価し、点、各交点、座標軸、直線、垂直線、円、円断面を決定し、輪郭の真直度、真円度を分析することができます。 4.形状誤差測定:非球面形状誤差測定、直線形状誤差測定、キャンバー形状誤差測定 5.CNC自動モード対応 6.SPC統計解析対応 7.CADファイルのインポートに対応 8.Word、Excel、AutoCADへのテストデータ出力が可能(オプション) 9.複数の種類のレポート形式を出力し、ユーザー定義のレポートをサポート、またはレポートをカスタマイズします(任意)。 10.オブジェクトの種類、メーカー、製造番号、検査官、提出機関、機器番号、検査日または有効期限などに応じてテストレコードを検索し、管理することができます。 特徴 1.プロファイル、ラフネスともに1回でスキャン可能 2.高精度、高安定性、高再現性。 3.インテリジェントな測定ソフトウェア 測定者は、使いやすいソフトウエア・インターフェースにより、機械の基本的な操作を把握することができます。 4.理性的な保護システム 測定プローブがテスト ...

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3Dプロフィロメータ
3Dプロフィロメータ
Talysurf PGI NOVUS

表面粗さ、輪郭形状、3D、直径の測定が可能な最先端の測定システム テーラーホブソン フォーム タリサーフ PGI NOVUS はこれまでのフォームタリサーフシリーズの速度と精度を保ったまま、下向きと上向き方向で、表面粗さや直径・角度の測定が可能になりました。NOVUSシステムが、ベアリング、インジェクター他の超精密部品の製造上の課題を解決します。 Taylor Hobson のフォームタリサーフ PGI NOVUS は表面仕上げ、3D および直径測定の最も高機能なシステムで、設計および生産の両方において特有の利点を提供します。この機器はクラス最高の ...

光学式プロフィロメータ
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S wide

S wideは、最大300×300mmの大面積サンプルでも素早く計測できる測定システムです。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備え、ボタンひとつでデータを取得できる非常に使い易いデザインになっています。 ソリューション ワンショット 光学式3D形状測定システム - 高度な製造・加工 - 考古学・古生物学研究 - 大衆消費電化製品(CE) - 医療機器 - モールディング - 光学 - 時計

光学式プロフィロメータ
光学式プロフィロメータ
S neox

新しい S neox は、性能、機能、効 率、デザインの全ての面で既存の 光学3Dプロファイリング顕微鏡を 凌駕する、クラス最高の面形状計 測システムです。 さらに速く スマートでユニークな新しいアル ゴリズムとカメラにより、全てをさ らに速く実行できます。データ取 得速度は 180fps で、標準測定 時間は5倍も短縮されました。新 しいS neoxは市場で最速の面形 状測定システムです。 使い易く Sensofarでは最高の性能・品質 を提供するため、継続的に製品改 ...

光学式プロフィロメータ
光学式プロフィロメータ
S neox Five Axis

... 完全なアクセシビリティ S neox 5 軸 3D 光学式プロファイラは、高精度の回転モジュールと S neox 3D 光学式プロファイラの高度な検査・解析機能を組み合わせたものです。これにより、定義された位置での自動3D表面測定が可能となり、これらを組み合わせて完全な3D体積測定を作成することができます。 ...

3Dプロフィロメータ
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Tencor™ P-7

... Tencor P-7 ベンチトップスタイラスプロファイラ は、市場をリードする Tencor P-17 ベンチトップスタイラスプロファイリングシステムの成功の上に構築されています。P-17の優れた測定性能を、卓上型スタイラスプロファイラとして優れた価格対機能比を実現するプラットフォームに搭載しました。Tencor P-7 スタイラスプロファイラでは、ステッチなしで最大150mmまでのスキャンで、段差、粗さ、反り、応力の2Dおよび3D測定が可能です。 特徴 ...

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KLA - TENCOR
光学式プロフィロメータ
光学式プロフィロメータ
IMOS

... IMOSは、微細およびナノスケールの表面特徴の正確で定量的、ISO準拠の非接触表面測定および特性評価を可能にし、わずか数秒で最大200万個のデータポイントを取得できます。適切な光学プロファイルメータシステムの選択は、速度、精度、垂直範囲、自動化、柔軟性など、アプリケーションの要件によって異なります。 IMOS光学表面プロファイラは、非接触光学表面プロファイリングに強力な汎用性を提供します。このシステムにより、スムーズ、ラフ、フラット、傾斜および段差など、幅広い表面タイプを簡単かつ迅速に測定できます。すべての測定は非破壊で高速で、特別な試料調製は不要です。システムのコアには、サブナノメートルの精度を提供する部分的にコヒーレント光技術の干渉があり、他の市販技術よりもより正確に表面の広い範囲を測定し、投資収益率を最適化します。 ...

3Dプロフィロメータ
3Dプロフィロメータ
VOLSCAN VSP series

... 体積以上のものを測る 製品の迅速な3次元デジタル化により、固形製品の体積、密度、寸法の自動計算が標準装備されています。さらに、表面積、高さ、幅、長さ、重量などの測定も可能です。測定結果は数学的に処理され、即座に使用することも、将来さまざまなデータ形式で検索することもできます。 迅速で正確 わずか22秒で製品に関する正確なデータを取得し、生産を管理・監視することができます。 ワールドクラスのデータ分析ソフトウェア パワフルで機能豊富なソフトウェアが標準装備されています。さらに、装置の耐用期間中は無料アップデートが含まれています。詳細はこちら 旧式の種子変位法よりも高精度 伝統的に、焼き菓子の体積測定は、標準容器に入れたパンの周りに詰まったナタネやパール大麦の量を測定するシード・ディスプレースメント法で行われてきました。この方法は、何十年もの間、焼成品質を示すものとして普遍的に認識されてきたが、現在では原始的で不正確、退屈で手間のかかる方法と考えられている。校正の繰り返し、オペレーターの操作に依存すること、製品に種子がこぼれたり付着したり静電気による菜種の損失、吸湿による種子の固まり、食品くずを除去するための定期的な種子のふるい分け、柔らかい製品の破砕の可能性、測定結果の手作業による記録は、測定の効率と精度の両方に影響する共通の欠点です。 ...

光学式プロフィロメータ
光学式プロフィロメータ
TRACEiT®​

... モバイル3D光学式表面形状測定装置 3D表面形状は、製品の特徴を表す重要なパラメータであり、製品の総合的な性能に影響を与えます。光学式や触覚式の卓上型3Dプロファイラが広く普及していますが、携帯型の非接触式プロファイラにも独自の利点があります。これは主に品質管理の目的で使用され、特に工場の自動化に適しています。製品のフィンガープリントを内蔵したTRACEiT®は、製品の品質を示すグリーン/レッドライトを提供します。 TRACEiT®は、モバイル用光学式プロファイラとしては圧倒的に高速(測定時間15秒)です。三次元形状をリアルタイムで測定し、視覚的な印象を記録することができるため、Q&A(製造工程など)や設計・研究分野で広く使用されています。 トポグラフィー測定用の3つの白色光光学系を備えた測定ヘッド 見た目の印象を記録するための内蔵カメラを追加 X、Y方向ともに1500回の撮影が可能 5mm ...

卓上プロフィロメータ
卓上プロフィロメータ
PGS200

... PGS200プロファイロメータは、現代の「オールインワン」ロジックのおかげで、複雑な部分のプロファイルを特徴付けるために、いくつかの簡単な操作で、新世代の機器です。ほんの数回の操作で、すぐに測定を行うことができます。 PGS200にインストールされたProfile Studioソフトウェアは、非常にユーザーフレンドリーで、オペレータが使いやすいように考えられていました。 プロファイルの特徴付けに必要な機能は、カテゴリ (点、線、円弧、サイズ) にグループ化され、それぞれの色を簡単に識別できます。 ...

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