研磨サンプル用顕微鏡

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検査用顕微鏡
検査用顕微鏡
DM8000 M

... 最新の光学技術で、生産性改善に貢献。 新しいアイデアにより装備されたUV斜め観察法及びマクロ観察法は、より高い解像力を実現しているだけでなく試料の観察及び検査のスピードアップを可能にします。全ての観察法に対応する本体に内蔵されたLED照明は、顕微鏡回りに理想的なエアーフローを可能にするだけでなく、省スペース・省電力などエコに大いに貢献します。 マクロモードで快適・正確な外観検査 ライカ DM8000 M  光学検査用顕微鏡はマクロモードを組み込み、標準的な 対物レンズの最大 4 ...

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Leica Microsystems GmbH/ライカ
実験用顕微鏡
実験用顕微鏡
DM series

... 偏光顕微鏡は、複屈折物質の光学的性質を観察するため、金属顕微鏡に偏光レンズや偏光板などを組み合わせた顕微鏡です。 岩石・鉱物はもちろん、ガラス、プラスチック、ポリマー、医薬品やその原材料、織物および繊維などの観察・分析に最適です。 アプリケーションに応じて、3つのモデルから最適な機種を選択いただけます。 › ライカ DM4 P:電動制御モデル › ライカ DM2700 P:マニュアルモデル › ライカ DM750 P:大学その他における教育向け 正確な結果 難しいと言われている偏光観察は、シンプルなステップで最適な結果を得ることが重要です。 • ...

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Leica Microsystems GmbH/ライカ
光デジタル顕微鏡
光デジタル顕微鏡
DVM6

... 故障解析、品質保証・管理、研究開発、フォレンジックに最適なデジタルマイクロスコープです。優れた光学系、直感的な操作性、インテリジェントなソフトウェアにより、ユーザーは信頼性の高い結果を得ることができます。 大きなズームレンジ(16:1)により、倍率を素早く変更することができます。0.18mmから35mmまで、リフォーカスすることなく被写界深度を変更することができます。チルトスタンド(-/+ 60°、アダプター使用で最大90°)と回転サンプルステージ(-/+180°)は、片手だけで簡単に操作することができます。高解像度1000万画素カメラと高速ライブ画像表示(30枚/秒)。2Dおよび3D測定、再現性のある結果、レポート作成が数クリックでできるインテリジェントなソフトウェア。 ...

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Leica Microsystems GmbH/ライカ
走査型透過電子顕微鏡
走査型透過電子顕微鏡
SU9000 II

倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.8, 0.4, 1.2 nm

... 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 SU9000II コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。 SU9000IIは日立FE-SEMの最上位機種です。 低収差レンズの最高峰であるインレンズ型対物レンズを搭載したSU9000IIは、世界最高分解能 ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡
SU3800/3900 Family

倍率 : 5 unit - 800,000 unit
分解能: 15, 4, 3 nm

... 高性能を、ここまで使いやすく、ここまで多用途に 日立ハイテクの走査電子顕微鏡 SU3800/SU3900は、操作性と拡張性を両立させました。 数々の操作もオート化し、高性能を効率的に活用することができます。 多目的大型試料室を搭載し、In-Situ解析にも対応しました。 ①大型試料に対応 ■大型/重量試料対応ステージ • リスクを低減する試料交換シーケンス • スループットを向上する試料交換室 • 自由度を高める、ステージ移動制限解除機能* • ステージ移動の安全性を高める、チャンバスコープ* ■可動範囲を全域サポート、大型試料の全域観察を実現したSEM ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡
FlexSEM II

倍率 : 6 unit - 800,000 unit
分解能: 4, 15 nm

... 「先進のSEMをよりコンパクトに」 わずか45 cm幅のコンパクト設計ながら、4.0 nmの像分解能を実現。 新開発のユーザーインターフェース、電子光学系が高性能をさらに身近にします。 価格:お問い合わせください 取扱会社:株式会社 日立ハイテク FlexSEM 1000 IIは、新設計の電子光学系と高感度検出器により、加速電圧20 kVで像分解能 4.0 nmを実現しています。新開発のユーザーインターフェースは、明るさやフォーカスの自動調整機能の高速化により、短時間で多彩な観察を可能にします。また、電子顕微鏡の欠点であった視野探しの困難さを容易にする新ナビゲーション機能「SEM ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
光学顕微鏡
光学顕微鏡
Eclipse LV100ND

重量: 9.5 kg
長さ: 657 mm
: 251 mm

... 多彩な反射・透過照明観察に対応した正立顕微鏡シリーズ。電子部品や材料の検査をはじめ、幅広い分野でお使いいただける工業用顕微鏡です。 汎用性の高い反射/透過照明併用正立顕微鏡 ニコンCFI60-2の優れた光学系により、目視観察とデジタルイメージングのどちらにおいても優れた画像を提供。 さまざまな産業分野向けの工業顕微鏡の用途に合わせ、観察方法/目的に応じたスタンド部や照明部の選択を可能にし、多彩な観察方法に対応します。 ECLIPSE LV100NDA / LV100ND 電子部品、素材‧材料、光学部品などさまざまな用途でお使いいただける、反射‧透過照明を備えた工業顕微鏡です。 CFI60-2対物レンズ ニコンの革新的な設計により、高NAと長作動距離を両立。クリアな明視野、暗視野、簡易偏光、微分干渉、位相差観察を高い操作性で行えます。 顕微鏡デジタルカメラ ...

光デジタル顕微鏡
光デジタル顕微鏡
MVM

... 新しい「マシンビジョン顕微鏡」(MVM)は、顕微鏡を作る機能をすべて備えた、純粋にデジタル顕微鏡です。 これは、アポクローム的に高度に補正された顕微鏡対物体と、5MP Sony IMX264センサーのピクセルに各物体を拡大する対応するチューブレンズを持っています。 また、同軸入射光イルミネーションと拡散環光灯が設置された。両方のライトは、内蔵カメラのUSB 3.1ポートを介して制御され、給電されます。特別に開発された制御エレクトロニクスにより、2つの光源を交互に動作させることができます。 ...

金属組織顕微鏡
金属組織顕微鏡
DS series

... 倒立顕微鏡は、コンパクトで耐久性があり、高倍率が必要な場合に使用されます。平坦な試料面を持つマウント試料の分析に最適で、BF、DF、DIC、POLの複数の光源を使用できるように装備されており、複数の分析を行うことができます。 硬さ試験などの一般用途向け倒立顕微鏡のエントリーモデル。 工業用や材料科学用の倒立顕微鏡で、不透明な試料(金属の粒径、粒界、相、変態、介在物、非金属などの微細構造の調査や研究、試料の前処理や処理など)用に設計されています。 メタログラフィーラボでの不透明試料用に特別に設計されています。お客様のお好みに合わせて自由に設定できるレンズ、FN24ハイアイポイント、無限遠補正光学系、同軸フォーカシング、メカニカルステージ、明るさを調整できるハロゲン12V/100Wの落射照明アタッチメントを搭載しています。頑丈で信頼性が高く、人間工学に基づいた位置にすべての主要なコントロールを装備し、20年以上の使用を可能にする長持ちする効率的なLED照明を備えています。 ...

原子間力顕微鏡
原子間力顕微鏡
LensAFM

... ナノサーフレンズAFMは原子間力顕微鏡で、光学顕微鏡やプロフィロメーターが解像度の限界に達したところを補います。通常の対物レンズのように取り付けられるため、これらの装置の分解能と測定能力を拡張します。LensAFMは3D表面形状情報を提供するだけでなく、測定サンプルの様々な物理特性の分析にも使用できます。 シームレスな統合 研究者が光学顕微鏡と原子間力顕微鏡の技術を組み合わせようとする場面は、ますます増えています。光学顕微鏡の使いやすさ、スクリーニング能力、必要最小限のサンプル前処理は、ほとんど比類のないものです。しかし、100倍の対物レンズの分解能では不十分な場合、LensAFMの出番となる。非常に小型の設計と巧妙な取り付け機構により、光学顕微鏡やプロフィロメーターのタレットを回転させるだけでスキャンを実行できます。 AFMで光学顕微鏡を強化し、高度な知見を得る 光学顕微鏡の分解能は光の波長によって制限されるため、光学システムで達成できる分解能には壁があります。このため、光学顕微鏡と原子間力顕微鏡の組み合わせが、ますます多くのアプリケーションで必要とされています。さらにAFMは、透明な試料や光学的な評価が困難な試料の特性評価の問題を克服する。しかし、興味深いのは試料の粗いトポグラフィーだけではない:AFMは、他の材料特性に関する知識も得ることができる、 ...

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