直接接触式テストソケット

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イオン クロマトグラフィーデバイス用テストソケット
イオン クロマトグラフィーデバイス用テストソケット

... SeikenのケルビンICソケットは、低抵抗測定における四端子測定法(ケルビン接続測定)を容易にし、従来の測定方法では実現が難しかった精度を確保します。わずか1mm以下の超小型チップにも対応可能なため、最新のミニチップや高密度集積回路にも柔軟に対応いたします。 ケルビンプローブを使用する際、特別な加工が必要です。Seikenは治具の設計・製作まで、お客様のご要望に合わせたトータルサポートを実現しています。 - 自由自在なピン配置、多チップ測定にも柔軟対応:一般的なICソケット同様にピッチ条件さえ満たせばピン配置に制限がなく、ピッチ条件を満たす限り、1チップあたり100~1000個の電極、または複数チップの同時測定にも柔軟に対応。 - ...

ラッチロックテストソケット
ラッチロックテストソケット
DCL-QFP1414-100-P050

... デバイスのリードを基板に直接押し当てるコンタクト方式を採用し、高速伝送信号の測定を可能にしたテストソケット。 ソケットの蓋をラッチで固定する「ラッチロックタイプ」は、蓋を上から押すだけで着脱できるため、デバイスの交換作業が効率的に行えます。 QFP/SOPデバイスの寸法に合わせた標準品をラインナップしており、短納期での対応が可能です。 用途 - 量産基板への実装 - 実環境での最終試験・検査 (自動車、ロボット、モビリティ用電装品など) - ICの故障解析 ...

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JC CHERRY INC.
直接接触式テストソケット
直接接触式テストソケット
DCLC-QFP1414-100-P050

... デバイスのリードを基板に直接押し当てるコンタクト方式を採用し、高速伝送信号の測定を可能にしたテストソケット。 ソケットの蓋をラッチとネジで固定する「ラッチロック・ネジロックタイプ」は、QFPデバイスの寸法に合わせた標準品をラインナップ。 短納期対応が可能です。 用途 - 量産基板への実装 - 実環境での最終試験・検査 (自動車、ロボット、モビリティ用電装品など) - ICの故障解析 ...

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直接接触式テストソケット
直接接触式テストソケット

... QFP,SOP用回転レバータイプ カスタム製品 高速伝送信号測定が可能なテストソケット 高速伝送信号の測定が可能なテストソケットです。 高速伝送信号の測定が可能です。 レバーを回転させてソケットの蓋を固定する「回転レバー式」で、デバイスのセットから測定準備までのトルク管理が不要です。 主に多極デバイスの測定に適しています。 用途 - 量産基板への実装 - 実環境での最終試験・検査 (自動車、ロボット、モビリティ用電装品など) - ICの故障解析 ...

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