イオン クロマトグラフィーデバイス用テストソケット

Kelvin直接接触式

SeikenのケルビンICソケットは、低抵抗測定における四端子測定法（ケルビン接続測定）を容易にし、従来の測定方法では実現が難しかった精度を確保します。わずか1mm以下の超小型チップにも対応可能なため、最新のミニチップや高密度集積回路にも柔軟に対応いたします。 ケルビンプローブを使用する際、特別な加工が必要です。Seikenは治具の設計・製作まで、お客様のご要望に合わせたトータルサポートを実現しています。 - 自由自在なピン配置、多チップ測定にも柔軟対応：一般的なICソケット同様にピッチ条件さえ満たせばピン配置に制限がなく、ピッチ条件を満たす限り、1チップあたり100～1000個の電極、または複数チップの同時測定にも柔軟に対応。 - 簡単ピン交換＆高メンテナンス性：ピン交換も従来通り垂直型ICソケット同様に簡単に行え、メンテナンス性も優れています。1台からでも製作可能なため、小ロットの試作や開発段階での利用にも最適。 用途例: - WL-CSP - QFN - SON - ディスクリート部品 など 関連製品: - ケルビン測定用技術: 1つの電極に2本の接点を確保し、高精度な抵抗測定を実現するコンタクトプローブ。最小0.1mmのギャップで極小電極への測定が可能。 - ケルビンプローブカード: 四端子測定法を採用し、電極ピッチP=0.35mm～、2端子間ギャップ0.1mmまで対応可能で、極小電極にもコンタクト。抵抗値を極限まで精密に測定できる高精度なケルビンプローブカード。 - ピンブロック（治具製作）: 電子機器の検査・試験に不可欠なピンブロックは、プローブを正確に固定し、確実な接触を実現。規格品から特注品まで対応し、高精度なプロービングを支える。 特長・仕様（Characteristics / Specifications）: - 四端子法（ケルビン接続測定）対応 - 1mm以下の超小型チップにも対応 - ピン配置自由、100～1000電極/チップ対応 - ピン交換が容易で高いメンテナンス性 - 小ロット試作・開発にも対応