- 電気・電子機器
- 電子部品
- 直接接触式テストソケット
- JC CHERRY INC.
直接接触式テストソケット DCLC-QFP1414-100-P050ラッチロックねじ留め式
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特徴
- 特性
- 直接接触式, ラッチロック, ねじ留め式
詳細
デバイスのリードを基板に直接押し当てるコンタクト方式を採用し、高速伝送信号の測定を可能にしたテストソケット。
ソケットの蓋をラッチとネジで固定する「ラッチロック・ネジロックタイプ」は、QFPデバイスの寸法に合わせた標準品をラインナップ。
短納期対応が可能です。
用途
- 量産基板への実装
- 実環境での最終試験・検査
(自動車、ロボット、モビリティ用電装品など）
- ICの故障解析
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