- 電気・電子機器
- 電子部品
- QFPテストソケット
- JC CHERRY INC.
ラッチロックテストソケット DCL-QFP1414-100-P050QFPSOP直接接触式
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特徴
- 応用
- QFP, SOP
- 特性
- 直接接触式, ラッチロック
詳細
デバイスのリードを基板に直接押し当てるコンタクト方式を採用し、高速伝送信号の測定を可能にしたテストソケット。
ソケットの蓋をラッチで固定する「ラッチロックタイプ」は、蓋を上から押すだけで着脱できるため、デバイスの交換作業が効率的に行えます。
QFP/SOPデバイスの寸法に合わせた標準品をラインナップしており、短納期での対応が可能です。
用途
- 量産基板への実装
- 実環境での最終試験・検査
(自動車、ロボット、モビリティ用電装品など）
- ICの故障解析
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