厚さ測定システム

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皮膜厚測定システム
皮膜厚測定システム
coatmaster Inline

... 工業用連続使用の非接触厚さ測定。 コートマスターオンライン プロセスのセットアップ時間を短縮します。 材料を節約します。 継続的にドキュメントを作成します。 コートマスター インライン 工業用連続使用のための精密な膜厚測定。 堅牢でコンパクトなファンレス測定光学系 高温の生産環境でも信頼性が高い ロボット組立に最適化 コーティングシステムへの組み込みが容易 技術データ 硬化前の粉体塗料 - 1 - ...

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coatmaster AG
皮膜厚測定システム
皮膜厚測定システム
SALUTRON

... 塗料・膜厚測定装置/ケーブルプローブ式 塗料・膜厚測定装置被膜 厚測定装置被膜厚測定が必要な理由 * 標準的かつ継続的に同じ塗料、塗装品質で塗装することができます。 * 塗装時間の追跡が容易になります。 * これは、塗料を節約します, 経済的. この装置は、磁性製品(鉄、鋼)および非磁性製品(アルミニウム、銅、青銅など)の塗料、金属コーティング、エナメル、テフロンなどの用途の乾膜厚を測定するためのものです。 * 使いやすさ * 高精度 ...

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MEP TEKNIK
厚さ測定機
厚さ測定機

... 概要:本システムは,上下に射出する2つのレーザー変位計で構成されています。上面と下面のセンサーがそれぞれ上面と下面の位置を測定します。測定された物体の厚さが計算されます。レーザー厚さ計の利点は、非接触測定を採用しているため、接触式厚さ計よりも精度が高く、摩耗による精度低下がないことです。 ...

厚さ測定システム
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OEG
厚さ測定システム
厚さ測定システム
C-Swan

... C-Swan ε-SINTは、厚さ測定のために設計された反射ゲージです。 このゲージの機能は静電容量技術に基づいており、バブルやダブルバブルの工場で、バブル上で直接測定できるように設置して使用することができます。 主な特長 ブローフィルム工場でのバブル上での厚み測定に最適 接触式または非接触式の両方のバージョンのゲージ バブルの揺れに追従するトラッキングアーム カテゴリセンサー 説明 SINTは、気泡を全周にわたって測定できる特殊な反転式円形スキャナに搭載されています。 伸縮自在のアームが静電容量式プローブを保持し、バブルの最適な付着状態を維持するために、バブルの変動に追従するように制御されます。 この反転式スキャナーは、幅広い直径に対応しており、あらゆるタイプのブローフィルムの設置に適しています。 ...

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Electronic SYSTEMS
厚さ測定システム
厚さ測定システム
MTP series

... 様々な長さのストリップ上の動作位置でスライドゲージとゲージ動作監視は、空気圧システムを使用したSIEMENSの自動駆動によって行われます。 測定されたストリップに永久に接触しているダイヤモンド接点の設計は、材料の外観を損なうことなく、長寿命を有することを確保する。 ストリップ上の接点の空気圧推力は連続的に制御することができる。 この連続ゲージは、測定されたストリップの公称厚さを機械的に再調整する必要のない絶対測定装置として開発されました。また、その絶対測定能力により、製造工程中の他の(非接触など)ゲージの精密校正にも使用できます。 ...

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UVB TECHNIK s.r.o.
幾何学測定システム
幾何学測定システム
SFM

... SFMとは ノギスや光学式コンパレータによる部分的な測定だけでなく、全体像を把握したいと考えるプロフェッショナルのためのものです。 Scan Fit and Measureは、プロファイル形状をオフラインで測定・検査する2Dシステムです。このシステムは品質管理ツールとして使用され、様々なタイプの生産施設で、コスト削減と製品の偏差を最小限に抑えることができます。フラットベッドスキャナ技術は、アルミニウム、プラスチック、ゴム、シリコン、医療用チューブの押し出しによるプロファイルの測定に適しています。 簡単な設定と操作で、お客様が事前に定義した豊富な幾何学的寸法と公差に基づいて、瞬時にPASS/FAIL評価を行うことができます。寸法、位置、肉厚、GD&T(幾何学的寸法許容差)の正確な測定に基づき、スキャン画像とCADモデルを視覚的に比較することができます。 300mm ...

厚さ測定システム
厚さ測定システム
CoatMaster

... コーティング厚さ測定システム CoatMaster 高度な熱光学法の操作 CoatMasterは、最初にコーティング層をウォームアップし、その結果として生じる表面温度冷却プロセスを記録します。 冷却プロセスは、コーティングの厚さおよび熱特性に依存する。 CoatMasterのアルゴリズムは、表面上の動的冷却プロセスを解析し、コーティングの厚さおよびその他の特性を返します。 すべてが完全に非破壊的で、テストされた表面に直接接触することなく起こります。 利点コーティング ラインおよび実験室でのコーティングプロセス中の自動測定 Ø2-50mmの測定点で5 ...

厚さ測定システム
厚さ測定システム

... 半導体産業チェーンの上流に位置する原料生産企業に対し、独自に開発した分光共焦点測定装置を用いて、半導体原料やエピタキシャルウエハーのサイズや平坦度を検出する。 製品の長所です。 広い応用範囲 各種材料、研磨条件の4~8インチのオリジナルウエハ、基板、エピタキシャルウエハに使用します。 高い測定精度 厚み範囲0~1mm 測定精度:±1μM 繰返し精度:0.2μm 短い測定時間 測定時間30s / PCS(お客様の検出軌跡に準ずる。) ...

光学測定システム
光学測定システム
C12562-04

C12562は、関連装置への組み込みを前提に設計された非接触の膜厚測定装置です。半導体市場では貫通電極技術の採用によりシリコン厚の測定が重要視され、フィルム市場では接着層の薄膜化が進み、共に1 μm~300 μmの範囲での高精度な厚み測定が必要とされています。C12562の測定範囲は、500 nm~300 μmと幅広く、薄膜塗工厚からフィルム基板厚、さらには総厚まで測定可能です。また、最高100 Hzの高速測定も可能なため、高速ラインでの測定にも対応します。 • ...

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HAMAMATSU
光学測定システム
光学測定システム
C10178-03E

C10178は、分光干渉法を利用した非接触の膜厚測定装置です。分光干渉法により短時間で高感度・高精度に膜厚を測定します。また、弊社製品のマルチチャンネル分光器PMAを検出器として採用していますので、各種光学フィルタやコーティング膜などの膜厚測定と同時に、量子収率計測や反射計測、透過・吸収測定など多彩な測定項目を計測することが可能です。 • 高速・高精度解析(150 nm~50 μmの膜厚に対応) • リアルタイム測定 • 高さ変動に強い • 光学定数(n、k)解析 • ...

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HAMAMATSU
反射率測定システム
反射率測定システム
C11295

C11295は、分光干渉法を利用した膜厚測定装置です。半導体製造工程における膜厚測定をはじめ、半導体製造装置へ搭載するAPCやフィルムの品質管理のために膜厚の測定をする装置です。リアルタイムでのマルチポイント計測が可能で、多チャンバ同時計測やフィルム面上の多点計測を実現します。また、膜厚と同時に反射率(透過率)・物体色、それらの経時変化も測定することができます。 特長 • 最大15ポイントを同時計測 • リファレンスフリー • 光量変動補正による長時間安定測定 • ...

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HAMAMATSU
厚さ測定システム
厚さ測定システム
Accuthik

... 最高の自動厚み制御ソリューション 航空宇宙産業向けに特別に設計されたAccuthickは、軽量化とこの分野に必要な構造強度の最適なバランスを実現する部品加工を可能にします。 ...

厚さ測定システム
厚さ測定システム

... 直径、卵形、肉厚(単層および多層)、同心度、偏心度、アウトオブラウンド、長さなどの寸法パラメータや、膨張、静電容量、誘電強度(スパークテスト)、表面欠陥(塊、ネックダウン)などの物理的または電気的パラメータのための非接触測定および制御機器の包括的な範囲を提供しています。 ...

厚さ測定システム
厚さ測定システム
RX series

... レイヨニックの板厚計は、冷間および熱間アルミニウム圧延機や箔厚計システムでますます多く使用されています。鉄鋼業界では、薄板のプロセスラインでの使用が一般的です。 技術情報 材質 アルミニウム - アルミニウム - スチール 用途 箔圧延機 - 冷間圧延 - 製造ライン X線ソース TS40-SL - TS40-C - TS60-C 動作パラメーター 12.8 kV /0.6 mA - 40 kV /0.3 mA - 60 kV /0.5 mA 測定範囲 0.002 ...

皮膜厚測定システム
皮膜厚測定システム

... 膜厚測定と品質管理 パネル測定台は、ディファレンシャルエッチングプロセス後のエッチング分布や銅表面のメッキの盛り上がりを素早く判定することが可能です。測定は、入力パラメータを入力した後、抵抗センサーにより完全自動で行われます。 その後、測定ポイントはPCで評価され、統計ツールを含む3D図に変換されます。 正確で再現性の高い測定:完全自動化により、手作業や操作ミスを防止します。 高速:3.5分で100点の測定が可能 フレキシブル:様々なパネルフォーマットに対応 エッチングやメッキの品質管理 プロセスドリフトを簡単に検出し、修正することができます。 早期発見による歩留まり低下の抑制 寸法1200 ...

厚さ測定システム
厚さ測定システム
BDK

... ユニバーサルダブルシートメタルモニターBDK 二重シートメタルモニターや厚さ測定装置は、デスタッカー、ロボット、フィーダーなどの自動供給システムを備えた金属加工装置(プレス機など)において、鉄(Fe)または非鉄(NE)の金属シートの自動デスタックや分離を監視するものである。二重シートの検出や厚さ測定を行うことで、2枚以上のシートが張り付いていることを確実に検出し、工具や機械自体が破損する前に工程を停止させることができます。ユニバーサルBDKシステム、特に使い勝手の良いBDK ...

直径測定システム
直径測定システム
FDRF092

... PBL、ABL箔を用いたラミネートチューブの非接触スキャン、幾何学的パラメータ測定用 形状測定システムとは PBL箔やABL箔を使用したラミネートチューブの非接触スキャニングや形状パラメータ測定を行うためのシステムです。 特徴 - 測定径13~50mmまで対応 - 直径測定精度: ±10 µm FDRF092の用途 - 大量生産 仕様 測定径 13mm〜50mm 直径測定精度 ±10μm 箔厚範囲 0.05mm - 0.5mm 箔厚・溶着厚測定精度 ±5 ...

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