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... pelo in flight Beam Tracing™. • Navegação SEM sem esforço e precisa na amostra em ampliações tão baixas quanto 2 × sem a necessidade de uma câmera de navegação óptica adicional devido ...
Tescan GmbH
... disponíveis imediatamente, graças ao design óptico sem abertura da TESCAN, alimentado por In-flight Beam Tracing™ • Navegação SEM sem esforço e precisa na amostra em ampliações tão ...
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... soma espectral patenteado do TESCAN, de alta sensibilidade - Identificar e quantificar os minerais automaticamente - mesmo sem grande experiência - utilizando algoritmos gerados ou regras definidas pelo utilizador e ...
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... materiais em múltiplas escalas • Processamento FIB de grande área e alta produtividade até 1 mm • Preparação de microamostras sem implantação de Ga • Imagens e análises MEV-FEG de Ultra-alta Resolução livre de campo • ...
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MEV-FIB nano analítico versátil para expandir seus recursos de pesquisa de materiais • Preparação de microamostras de alta precisão • Imagem e nanoanálise MEV-FEG em Ultra-alta Resolução livre de campo • Campo de visão ampliado e ...
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Bancada avançada de nanofabricação para o seu laboratório de pesquisa • Excelente imagem em Ultra-alta Resolução • Coluna FIB de Ga com a melhor resoluçã • Ferramenta de nanomodelagem de alta precisão para feixes ...
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Uma solução alternativa para preparar lamelas criogênicas para o seu MET • Estação de trabalho MEV-FIB crio flexível para suas aplicações mais exigentes em condições criogênicas • Fluxo de trabalho otimizado para preparação de lamela ...
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... acabamento da mais alta resolução para aplicações em análise de falhas em encapsulamento • Seção transversal de grandes áreas sem efeito cortina para análise de falhas físicas em tecnologias avançadas de encapsulamento • ...
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