複屈折測定システム Exicor® GEN series

Exicor® GEN5 および GEN6 システムは、Exicor の低複屈折測定技術と精密自動モーションコントロール素子をコアに構築された大型サンプル測定ユニットです。 これらのプラットフォームは、卓越した低レベル複屈折測定を提供し、LCD産業向けのディスプレイ関連材料（第5世代以上の補償フィルムやガラス基板など）の精密な特性評価をサポートします。 システム設計はより大きな材料に拡張可能で、ローテクシート材料や商業用窓ガラスなど、他の非ディスプレイ材料アプリケーションにも容易に適用できます。 1150 mm x 1375 mm のスキャン可能領域を持つ GEN5 システムは、特許取得済みのハイテンションワイヤグリッドステージを使用して、サンプルのたるみやたわみを最小限に抑えながら、サンプル上の測定可能領域を最大化します。 オプションの高速Scan In Motion™ (SIM) オプションを使用すると、通常のスキャンにかかる時間の何分の一かの時間でサンプルの特性評価を行うことができます（最短12分、推定）。