高周波数用テストソケット

イオン クロマトグラフィーデバイス用敷設溶接式

LSI実装評価用高周波ソケット LSI評価基板や量産基板での故障解析、試作、高速信号テストに最適です。 PAM4、PCIe Gen5、DDR5、USB3.0などをサポート 超短プローブで高周波性能を確保 オリジナルパッドへの直接実装により、実際の信号経路を再現 2種類のタイプを用意 - ネジ止め式 - 最小限の基板修正で簡単セットアップ - 最大1000ピン、14.5mmのコンパクトボディ - ファンモーターとヒートシンクのオプションあり - 表面実装： - 0.4mmピッチ対応 - 回転レバーとヒートシンク付属 - 生産用プリント基板への直接使用に最適 熱管理、ESD、エミッション解析をサポート ソケット穴のない基板用にカスタムハウジングオプションを用意 デバイス交換、ソフトウェア開発、評価に最適