ビジュアル検査機 AVI-lC-A025C

プリント基板エレクトロニクス産業用測定用

TZTEK VAVI-lC-A025C高精度自動外観検査装置は、サブミクロン精度の駆動制御プラットフォームを採用し、キャリブレーション、補正アルゴリズムなどの技術を統合して、より高い画像品質とアライメント精度を保証します。検出と測定を統合し、従来のアルゴリズムとA1アルゴリズムを組み合わせて、効果的に偽ポイントをフィルタリングします。分析精度は2.5μmに達することができます。