光学式検査機 AVI-M series

ビジュアルプリント基板エレクトロニクス産業用

TZTEK AVI-Mシリーズ外観検査装置は、TZTEK光学検出、独立Cam解析、A1ディープラーニングなどの多くの技術を組み合わせ、従来のアルゴリズムとA1アルゴリズムを組み合わせて、効果的に偽点フィルタリングを行います。様々な解像度を持ち、様々なアプリケーションシーンに適応でき、PCB、FPC、5Gセラミックキャリアプレートなどの外観検査に広く使用できます。