光学式検査機 AOI-M series

プリント基板エレクトロニクス産業用測定用

TZTEK AOI-Mシリーズ光学検査装置は、TZTEK光学検出、自律型Cam解析、A1ディープラーニングなど多くの技術と検出・測定統合装置を組み合わせています。従来のアルゴリズムとA1アルゴリズムを組み合わせ、効果的に偽点数フィルタリングを行うことができます。様々な解像度オプションがあり、異なるアプリケーションシナリオに適応でき、良好な検出効果、高度な自動化、低いメンテナンスコスト、PCB、FPC、ICキャリアボード回路検出に広く使用することができます。