MICRO-EPSILONのコンピュータ化された厚さ計

測定範囲: 1.5 mm - 3 mm
測定精度: 3 µm - 6 µm
測定周波数: 20 Hz - 5,000 Hz

... センサは対向面に鏡像配置でき、位置に依存した正確な 厚さ測定が可能です。セラミック基板により機械的・熱的負荷からセンサを保護し、温度安定性を確保します。

コントローラとインターフェース
センサチャネルは DT6220 等の コントローラで同期処理 されます（携帯用ケースは 2 チャネル コントローラを使用）。データ出力はアナログ出力およびデジタルインターフェース（Ethernet、EtherCAT）に対応し、統合 されたウェブインターフェースで設定と運用が可能です。
...

測定精度: 0.2 µm
測定周波数: 100 Hz
分解能: 10 nm

... 概要
静電容量式 厚さ測定システムTFG6220は、バッテリーフィルム等の導電性フィルムの 厚さを高精度で測定します。外部の真空装置が試料を保持・平滑化し、しわのない参照面を提供します。本体は組立済みで、オフラインのランダムサンプルによる品質検査向けに設計 されています。

特長

• フィルムの真空平滑化によりしわを除去し、再現性のある位置決めを確保
• 上下一対の静電容量センサを備えた測定ブラケットと、簡易参照用の測定インサート

測定範囲: 15 mm
測定精度: 1.2 µm
測定周波数: 500 Hz

... 工場校正済みで供給 されます。測定位置と待機位置を切り替えられ、待機位置でセンサ保護および完全自動の再校正が可能です。

ソフトウェアと演算
測定と計算は構成ファイルにより自動 化されます。オプションの3DInspectソフトウェアを使用すると、設定ファイルの作成・管理、測定パラメータとターゲット形状の選択、点群の位置合わせ・フィルタリング、対象領域の選択、解析ワークフローの自動化が可能です。

技術仕様

• 測定範囲（厚さ）：15

測定精度: 0.2 µm - 0.2 µm
測定幅: 0 mm - 1,250 mm

... O.IMSは、セパ レータ箔および電池被覆のインライン 厚さ測定のための コンパクトなセンサシステムです。システムは コンパクトなOフレーム構造で、フィルムを透過して測定する白色光干渉計を使用し、片側からの非接触測定を実現します。2本の搬送ローラがストリップを安定化して信頼性の高い測定を可能にします。

測定モードと用途
本システムは、トラバース（走査）測定または固定トラック測定（例：中心線測定、エッジ測定）で動作します。間欠フィルムや縦方向に被覆 されたフィルムに適しており ...

測定範囲: 3.6 mm - 7 mm
測定精度: 0.3 µm - 0.5 µm
測定幅: 0 mm - 800 mm

... 対応する 厚さ測定システムを提供しています。thicknessCONTROL の C フレームは、乾式コーティングなどの過酷な環境での使用を想定して設計 されています。堅牢なフレーム構造と内蔵の温度補償により、高い測定精度を高温環境でも維持します。システムは用途に応じた設計でさまざまなフィルム幅および最大 8 トラックまで対応可能です。

主な特徴

• 被覆された陽極箔および陰極箔の高精度な厚さ測定システム
• 採用センサ技術：共焦点（コンフォーカル

測定範囲: 2.5 mm
測定精度: 0.4 µm
測定周波数: 1 Hz - 10,000 Hz

... トラックでの測定（例：中心線の 厚さや端部の 厚さ測定）に使用できます。別の方法として、走査（トラバース）による厚み測定にも対応します。その汎用性により、thicknessGAUGE は間欠式フィルムや縦方向に被覆 されたフィルムの両方に適しています。

ソフトウェアと制御
本 コンパクトシステムは、モータ制御を含む一体型リニアユニット、 コンパクトなバス端子ボックス、自動校正装置、そしてソフトウェアがプリインストール されたマルチタッチ PCで構成 されています。ソフトウェアは任意位置 ...