半導体用顕微鏡

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走査型透過電子顕微鏡
走査型透過電子顕微鏡
SU9000II

倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.8, 0.4, 1.2 nm

超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 SU9000II コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。 SU9000IIは日立FE-SEMの最上位機種です。 低収差レンズの最高峰であるインレンズ型対物レンズを搭載したSU9000IIは、世界最高分解能 ...

走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡
SU series

倍率 : 5 unit - 800,000 unit
分解能: 15, 4, 3 nm

高性能を、ここまで使いやすく、ここまで多用途に 日立ハイテクの走査電子顕微鏡 SU3800/SU3900は、操作性と拡張性を両立させました。 数々の操作もオート化し、高性能を効率的に活用することができます。 多目的大型試料室を搭載し、In-Situ解析にも対応しました。 ①大型試料に対応 ■大型/重量試料対応ステージ • リスクを低減する試料交換シーケンス • スループットを向上する試料交換室 • 自由度を高める、ステージ移動制限解除機能* • ...

STEM顕微鏡
STEM顕微鏡
HF5000

倍率 : 20 unit - 8,000,000 unit
分解能: 0.08, 0.1 nm

空間分解能と傾斜・分析性能を調和した、200 kV収差補正TEM/STEM 0.078 nmのSTEM空間分解能や、高試料傾斜・大立体角EDXを、シングルポールピースで実現しました。 走査透過電子顕微鏡「HD-2700」搭載の日立製球面収差補正器や、その自動補正機能、収差補正SEM像やシンメトリーDual SDDなどの特長を受け継ぐとともに、透過電子顕微鏡HFシリーズで培ってきた技術を結集・融合しました。 ハイエンドユーザーをはじめ幅広いユーザー向けに、サブÅレベルの空間分解能と高分析性能を、より多様な観察・分析手法とともにご提供します。 0.078 ...

光学顕微鏡
光学顕微鏡
MX63 series

分解能: 1 µm

MX63/MX63Lは最大300mmサイズのウエハーや液晶パネル、電子基板などのサンプルが検査できる大型の顕微鏡です。さまざまなアプリケーションに対応するモジュールを組み合わせることでお客様に有益なシステムを提供することができます。さらにOLYMPUS Stream画像解析ソフトウェアと組み合わせることで観察からレポート作成までのシームレスなワークフローを提供します。

光デジタル顕微鏡
光デジタル顕微鏡
MVM

... 新しい「マシンビジョン顕微鏡」(MVM)は、顕微鏡を作る機能をすべて備えた、純粋にデジタル顕微鏡です。 これは、アポクローム的に高度に補正された顕微鏡対物体と、5MP Sony IMX264センサーのピクセルに各物体を拡大する対応するチューブレンズを持っています。 また、同軸入射光イルミネーションと拡散環光灯が設置された。両方のライトは、内蔵カメラのUSB 3.1ポートを介して制御され、給電されます。特別に開発された制御エレクトロニクスにより、2つの光源を交互に動作させることができます。 ...

金属組織顕微鏡
金属組織顕微鏡
DS series

... 倒立顕微鏡は、コンパクトで耐久性があり、高倍率が必要な場合に使用されます。平坦な試料面を持つマウント試料の分析に最適で、BF、DF、DIC、POLの複数の光源を使用できるように装備されており、複数の分析を行うことができます。 硬さ試験などの一般用途向け倒立顕微鏡のエントリーモデル。 工業用や材料科学用の倒立顕微鏡で、不透明な試料(金属の粒径、粒界、相、変態、介在物、非金属などの微細構造の調査や研究、試料の前処理や処理など)用に設計されています。 メタログラフィーラボでの不透明試料用に特別に設計されています。お客様のお好みに合わせて自由に設定できるレンズ、FN24ハイアイポイント、無限遠補正光学系、同軸フォーカシング、メカニカルステージ、明るさを調整できるハロゲン12V/100Wの落射照明アタッチメントを搭載しています。頑丈で信頼性が高く、人間工学に基づいた位置にすべての主要なコントロールを装備し、20年以上の使用を可能にする長持ちする効率的なLED照明を備えています。 ...

光学顕微鏡
光学顕微鏡
ZTX-S series

... ZTX-S シリーズ ズームレンズの顕微鏡は光学イメージ投射システムを、高リゾリューションと、良い定義採用し、三次元の強い感覚は、容易な operation.The 顕微鏡良い精密部品の点検、アセンブリ、修理のための電子産業、農業および電子工学および器械使用工業の教授の半導体そして集積回路板で広く利用されています。 ...

電界放出形走査電子顕微鏡
電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-F100

倍率 : 10 unit - 2,740,000 unit
分解能: 0.9, 1.3 nm

特長 JSM-F100は、定評のあるインレンズショットキーPlus 電界放出電子銃と電子光学系Neo Engineに加えて、新開発の操作GUI『SEM Center』とAI (人工知能) を応用した『LIVE-AIフィルター』を搭載し、高空間分解能観察と操作性の両立を実現しました。さらに自社製エネルギー分散形X線分析装置 (EDS) を標準搭載し、SEM Centerとフルインテグレーションすることにより、観察から元素分析まで、より楽にNonstopでデータを取得できます。高性能と使いやすさを進化・融合させたことにより作業効率50%以上の向上を実現し、日々の測定をハイスループット化します。 新機能 ...

偏極性顕微鏡
偏極性顕微鏡
ECLIPSE LV100N POL

重量: 17 kg
長さ: 490 mm
: 251 mm

材料の研究から検査まで、さまざまな用途に対応する偏光顕微鏡 ニコンCFI60-POLの優れた光学系に偏光顕微鏡用対物レンズをラインナップ。 接眼レンズでの観察とデジタルイメージングのどちらにおいても優れた画像を提供します。 LV100N POLは、豊富な専用アクセサリーにより、幅広い研究用途に対応可能です。Ci-POLは、コンパクトな透過偏光照明観察専用の顕微鏡です。 ECLIPSE LV100N POL / Ci-POL 薄片状の鉱物サンプルや偏光物質の組成/分布の観察が可能な偏光顕微鏡です。 CFI60-POL ...

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Nikon Metrology
分析用顕微鏡
分析用顕微鏡
SAM 400

... SAM 400は、専用の高スループット解析、品質管理、研究アプリケーション向けの非破壊音響調査を可能にする高性能ツールです。 この製品は、新しい高速メンテナンス・フリー・ステージと、ユーザーフレンドリーなグラフィカル・インターフェースを介して制御される最大 400 MHz の新しい rf および探触子技術を備えています。 最新の生産および研究技術を活用したコアプラットフォームを中心とした半導体業界標準に基づいて構築されたSAM 400は、最大 300mmのウェハと最大 ...

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PVA TePla Analytical Systems GmbH
光学顕微鏡
光学顕微鏡
FS series

... - オプションの内向き回転ターレットと作動距離の長い高品質対物レンズにより優れた操作性を実現。 - 半導体用プローバーステーションの顕微鏡ユニットとして最適。 - L-モデルおよびL4モデルは、266~1064nmのYAGレーザー波長域に対応し、薄膜や液晶基板のレーザー切断が可能。 - 人間工学に基づいたデザインで、粗動と拡大ファインフォーカス調整用ノブを装備。 ...

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