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分解能: 1 µm
MX63/MX63Lは最大300mmサイズのウエハーや液晶パネル、電子基板などのサンプルが検査できる大型の顕微鏡です。さまざまなアプリケーションに対応するモジュールを組み合わせることでお客様に有益なシステムを提供することができます。さらにOLYMPUS Stream画像解析ソフトウェアと組み合わせることで観察からレポート作成までのシームレスなワークフローを提供します。
倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.8, 0.4, 1.2 nm
... 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 SU9000II コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。 SU9000IIは日立FE-SEMの最上位機種です。 低収差レンズの最高峰であるインレンズ型対物レンズを搭載したSU9000IIは、世界最高分解能 ...
倍率 : 5 unit - 800,000 unit
分解能: 15, 4, 3 nm
... 高性能を、ここまで使いやすく、ここまで多用途に 日立ハイテクの走査電子顕微鏡 SU3800/SU3900は、操作性と拡張性を両立させました。 数々の操作もオート化し、高性能を効率的に活用することができます。 多目的大型試料室を搭載し、In-Situ解析にも対応しました。 ①大型試料に対応 ■大型/重量試料対応ステージ • リスクを低減する試料交換シーケンス • スループットを向上する試料交換室 • 自由度を高める、ステージ移動制限解除機能* • ステージ移動の安全性を高める、チャンバスコープ* ■可動範囲を全域サポート、大型試料の全域観察を実現したSEM ...
倍率 : 20 unit - 8,000,000 unit
分解能: 0.08, 0.1 nm
... 空間分解能と傾斜・分析性能を調和した、200 kV収差補正TEM/STEM 0.078 nmのSTEM空間分解能や、高試料傾斜・大立体角EDXを、シングルポールピースで実現しました。 走査透過電子顕微鏡｢HD-2700｣搭載の日立製球面収差補正器や、その自動補正機能、収差補正SEM像やシンメトリーDual SDDなどの特長を受け継ぐとともに、透過電子顕微鏡HFシリーズで培ってきた技術を結集・融合しました。 ハイエンドユーザーをはじめ幅広いユーザー向けに、サブÅレベルの空間分解能と高分析性能を、より多様な観察・分析手法とともにご提供します。 0.078 ...
倍率 : 10 unit - 5,480,000 unit
分解能: 0.7 nm - 3 nm
... JSM-IT800は、高分解能観察を実現するための "インレンズショットキーPlus電界放出形電子銃" と次世代型電子光学制御システム "Neo Engine"、高速度元素マッピングを実現するために使いやすさを追求したGUI "SEM Center" に自社製EDSを組込んだシステムを共通のプラットフォームとしています。 SEMの対物レンズをモジュールとして置き換えることで、お客様の様々なニーズに応じた装置を提供します。 JSM-IT800には、対物レンズの違いにより、汎用FE-SEMであるハイブリッドレンズバージョン ...
重量: 9.5 kg
長さ: 613 mm
幅: 251 mm
... 多彩な反射・透過照明観察に対応した正立顕微鏡シリーズ。電子部品や材料の検査をはじめ、幅広い分野でお使いいただける工業用顕微鏡です。 汎用性の高い反射/透過照明併用正立顕微鏡 ニコンCFI60-2の優れた光学系により、目視観察とデジタルイメージングのどちらにおいても優れた画像を提供。 さまざまな産業分野向けの工業顕微鏡の用途に合わせ、観察方法/目的に応じたスタンド部や照明部の選択を可能にし、多彩な観察方法に対応します。 ECLIPSE LV100NDA / LV100ND 電子部品、素材‧材料、光学部品などさまざまな用途でお使いいただける、反射‧透過照明を備えた工業顕微鏡です。 CFI60-2対物レンズ ニコンの革新的な設計により、高NAと長作動距離を両立。クリアな明視野、暗視野、簡易偏光、微分干渉、位相差観察を高い操作性で行えます。 顕微鏡デジタルカメラ ...
Nikon Metrology
... 新しい「マシンビジョン顕微鏡」（MVM）は、顕微鏡を作る機能をすべて備えた、純粋にデジタル顕微鏡です。 これは、アポクローム的に高度に補正された顕微鏡対物体と、5MP Sony IMX264センサーのピクセルに各物体を拡大する対応するチューブレンズを持っています。 また、同軸入射光イルミネーションと拡散環光灯が設置された。両方のライトは、内蔵カメラのUSB 3.1ポートを介して制御され、給電されます。特別に開発された制御エレクトロニクスにより、2つの光源を交互に動作させることができます。 ...
... 倒立顕微鏡は、コンパクトで耐久性があり、高倍率が必要な場合に使用されます。平坦な試料面を持つマウント試料の分析に最適で、BF、DF、DIC、POLの複数の光源を使用できるように装備されており、複数の分析を行うことができます。 硬さ試験などの一般用途向け倒立顕微鏡のエントリーモデル。 工業用や材料科学用の倒立顕微鏡で、不透明な試料（金属の粒径、粒界、相、変態、介在物、非金属などの微細構造の調査や研究、試料の前処理や処理など）用に設計されています。 メタログラフィーラボでの不透明試料用に特別に設計されています。お客様のお好みに合わせて自由に設定できるレンズ、FN24ハイアイポイント、無限遠補正光学系、同軸フォーカシング、メカニカルステージ、明るさを調整できるハロゲン12V/100Wの落射照明アタッチメントを搭載しています。頑丈で信頼性が高く、人間工学に基づいた位置にすべての主要なコントロールを装備し、20年以上の使用を可能にする長持ちする効率的なLED照明を備えています。 ...
倍率 : 66 unit - 1,000,000 unit
分解能: 1.3 nm
長さ: 1,716 mm
... 大容量試料のクロススケールイメージングのための高速走査電子顕微鏡 CIQTEK HEM6000は、高輝度大電流ビーム電子銃、高速電子ビーム偏向システム、高電圧試料ステージ減速、ダイナミック光軸、液浸電磁＆静電コンボ対物レンズなどの技術を駆使し、ナノスケールの分解能を確保しながら高速画像取得を実現しました。 自動化された操作プロセスは、より効率的でスマートな大面積高分解能イメージングワークフローなどのアプリケーション向けに設計されています。撮像速度は、従来の電界放出型走査電子顕微鏡（fesem）の5倍以上に達します。 1.画像取得速度：10 ...
... SAM 400は、専用の高スループット解析、品質管理、研究アプリケーション向けの非破壊音響調査を可能にする高性能ツールです。 この製品は、新しい高速メンテナンス・フリー・ステージと、ユーザーフレンドリーなグラフィカル・インターフェースを介して制御される最大 400 MHz の新しい rf および探触子技術を備えています。 最新の生産および研究技術を活用したコアプラットフォームを中心とした半導体業界標準に基づいて構築されたSAM 400は、最大 300mmのウェハと最大 660x860x60mm（w/l/h）のサンプルを正確に処理できます。 ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... ZTX-S シリーズ ズームレンズの顕微鏡は光学イメージ投射システムを、高リゾリューションと、良い定義採用し、三次元の強い感覚は、容易な operation.The 顕微鏡良い精密部品の点検、アセンブリ、修理のための電子産業、農業および電子工学および器械使用工業の教授の半導体そして集積回路板で広く利用されています。 ...
... - オプションの内向き回転ターレットと作動距離の長い高品質対物レンズにより優れた操作性を実現。 - 半導体用プローバーステーションの顕微鏡ユニットとして最適。 - L-モデルおよびL4モデルは、266～1064nmのYAGレーザー波長域に対応し、薄膜や液晶基板のレーザー切断が可能。 - 人間工学に基づいたデザインで、粗動と拡大ファインフォーカス調整用ノブを装備。 ...