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... ガラス焼入れ機のプロセス制御のためのガラス検査システム 新しくなったガラス検査システムを使用すると、ガラス硬化プロセス中の温度変化を迅速に検出できるため、不良品を回避し、自動で品質の監視ができます。 下からのセンサーによる温度計測、標準・低放射率ガラスの自動放射率補正を備えたトップダウンGIS 640 Rシステムは、ガラス焼き戻し機のプロセス制御用に特別に開発されました。 ...
... シームビジョン 品質保証のためのシームモニタリング お客様の製品が品質検査のためにモニターされていることを知って、お客様に快適さを提供してください。これは、非接触イメージングと温度測定を必要とする標準システムと自動化システムのための継続的な分析です。 特徴とメリット 15インチのタッチスクリーンコンピュータ上の赤外線サーマルイメージングで、縫い目を継続的かつ一貫して監視します。 独自の縫い目検査ソフトウェアは、失敗した縫い目を警告するアラームを表示します。 あらゆるサイズの縫い目を正確に測定するための95の個別測定位置 熱風やホットウェッジを使った縫い目の検査 赤外線カメラ ...
... FOERSTER社が開発し特許を取得した分析原理は、スチールビレット、チューブ、レール、プロファイルの熱流束サーモグラフィーに新しい標準を打ち立てます。これにより、選択した深さの材料欠陥を確実に検出し、同時に誤った警告を最小化することができます。 DEFECTOVISION IRソフトウェアのモダンなグラフィックユーザーインターフェースは、人気の高いFOERSTER DSプラットフォームをベースに、新しい操作体系とディスプレイで拡張されました。これにより、シンプルで分かりやすい操作性を実現しています。検査に関連するデータはMicrosoft® ...
... FILL LEVEL CONTROL ブランドの防衛において容器の充填レベルを検出するのに理想的です。 検査システムは、不足している製品の流通による法的紛争を防止することを可能にする。 このシステムでは、充填レベルを検出し、アンダーフィルまたはオーバーフィルされた容器の拒絶処理を管理できます。 特長 外部システムからの除去信号の管理. どんな充填ラインにも簡単に取り付けられます。 騒音や振動を排除し、最大限の精度と最小限のメンテナンスを確保するための独立した構造 -追加の検査と統合するように設計 (モノブロック後に設置可能) キャッププレゼンスコントロール ハイ/コックキャッププレゼンスコントロール キャップカラーコントロール ...
FT SYSTEM
... ハイパースペクトル・イメージングを粉体やリヨケーキの検査に活用するには？ 目的 HypeRealは、試料の化学組成、残留水分率、その他の重要な品質基準を、試料を破壊したり変更したりすることなく、また有毒な試薬を使用することなく、間接的に評価するために使用できます。 市場 農業食品 製薬産業 化学 バイオテクノロジー 可能な分析 近赤外ケミカルイメージング (NIR-CI) 迅速で非破壊的なラボ分析 ガラスまたはプラスチック容器を通して直接測定 デジタルイメージングと光学分光法の組み合わせ スペクトル情報と空間情報のセット 医薬品有効成分または偽造品の同定 粉体混合物の特性評価 均質性の評価 コンタミネーションの検出 含水率の測定 INDATECH社が開発した独自の検査システムHypeRealは、固形製剤の迅速で非破壊的なラボスケール分析に理想的なツールです。 ...
... 各製品はマルチポイントNIR-SRS "近赤外空間分解技術 "プローブによって検査され、原薬濃度を予測し、3Dマイクロ波共振器によって個々の重量を測定することができます。様々な広範な再現性テストキャンペーンと産業事例研究により、予測値が予測された誤差の範囲内であることが示されています。このユニットには、カプセル化された計量セル、つまり[ ]が含まれています。 主な利点 - 製品の100％含有量均一性試験 - リアルタイムの判定が可能 - バッチまたはCMの最終品質証明に最適 - 不合格戦略プロセスの短縮 - ...
... - 17インチタッチスクリーンで制御、データ転送が可能。 - 重量単位を変更し、使用値に置き換えることができます。 - 貨物の実容積（水量）を測定できます。 商品の容積、重量、バーコード、画像などの情報を確認・保存することで、容積や重量に応じた料金の請求や、入庫時の数量不足、誤積み、完成品の欠品などをチェックすることができます。 - 上部の赤外線スキャナーがリニアガイドに沿って移動し、対象物の体積を測定します。 - 17インチタッチスクリーンによる制御とデータ送信 - 重量単位の変更 - 貨物の実際の体積（水量）の測定 - ...
... FRTの光学式検査装置MicroProf DIは、構造化されたウェーハと非構造化ウェーハを製造工程全体で検査することが可能です。2次元検査と計測を組み合わせることで、マイクロバンプ、RDL、オーバーレイ、スルーシリコンビア（TSV）などの欠陥検査やウェーハレベル計測など、さまざまなアプリケーションに1台の計測装置で対応することが可能です。 MicroProf DIには複数のモジュールが含まれており、同じツールプラットフォーム上で柔軟に組み合わせることで、すべてのウェーハ表面を高いスループットでカバーし、効率的なプロセス制御を実現します。モジュールには、シングルショットおよびステップカメラモジュールによる光学検査と欠陥の分類、高精度マイクロスコープによる欠陥のレビュー、さまざまなトポグラフィーおよび層厚センサーによる総合マルチセンサー計測が含まれます。また、ウェハー上の隠れた構造や介在物を光学的、非接触、非破壊で解析するために、赤外線光源と赤外線顕微鏡を備えた干渉型層厚センサーも用意されています。 ...
... 概要：塗装表面品質のオンライン検査システムは，生産工程における様々な一般的な表面欠陥を検出するために使用される。このシステムは，生産工程中に製品表面の欠陥情報を時間的に見つけることができ，生産ラインの表面の欠陥情報を随時反映することができる。 The on-line inspection system for coating surface quality is used to detect all kinds of common surface defects in the production ...