地形測量用顕微鏡

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X線顕微鏡
X線顕微鏡
Phenom Pure G6

倍率 : 160 unit - 175,000 unit
分解能: 0 nm - 15 nm
重量: 50 kg

... 信頼性の高い一貫した結果をデスクトップに自動配信 Thermo Scientific Phenom Pure、Pro、ProX G6デスクトップSEMは、作業のほとんどを自動化する経済的で使いやすいソリューションです。各機種は生産性を考慮して設計されており、高輝度六ホウ化セリウム(CeB6)光源を搭載し、優れた画質と長期にわたる信頼性を実現しています。 これらのSEMは、信頼性が高く、安定した結果を迅速に得ることができます。初心者の方でも、数分で高解像度の画像を得ることができます。 Phenom ...

X線顕微鏡
X線顕微鏡
Phenom ParticleX TC

倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 0 nm - 10 nm
重量: 75 kg

... 特に自動車のような厳しい製造環境では、工業環境でクリーンな状態を保つことは、言うは易く行うは難しです。Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEMは、従来の光学顕微鏡と比較して、マイクロスケールでより詳細な組成分析ができるだけでなく、他のシステムでは見逃されがちなガラスなどの半透明の粒子も確実に検出・分析できます。 このコンパクトなシステムの最大の特徴は、内蔵のThermo Scientific Perceptionオートメーション・ソフトウェアです。このソフトウェアは、ギアボックスなどの製品の摩耗率を高めるSiO2やコランダムなどの硬質粒子を自動的に分析・識別します。Perceptionソフトウェアは、検出された粒子の量と種類を、関連する清浄度仕様に適合させます。 最後に、Phenom ...

光デジタル顕微鏡
光デジタル顕微鏡
DVM6

... 故障解析、品質保証・管理、研究開発、フォレンジックに最適なデジタルマイクロスコープです。優れた光学系、直感的な操作性、インテリジェントなソフトウェアにより、ユーザーは信頼性の高い結果を得ることができます。 大きなズームレンジ(16:1)により、倍率を素早く変更することができます。0.18mmから35mmまで、リフォーカスすることなく被写界深度を変更することができます。チルトスタンド(-/+ 60°、アダプター使用で最大90°)と回転サンプルステージ(-/+180°)は、片手だけで簡単に操作することができます。高解像度1000万画素カメラと高速ライブ画像表示(30枚/秒)。2Dおよび3D測定、再現性のある結果、レポート作成が数クリックでできるインテリジェントなソフトウェア。 ...

走査型透過電子顕微鏡
走査型透過電子顕微鏡
SU9000 II

倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.8, 0.4, 1.2 nm

... 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 SU9000II コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。 SU9000IIは日立FE-SEMの最上位機種です。 低収差レンズの最高峰であるインレンズ型対物レンズを搭載したSU9000IIは、世界最高分解能 ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡
SU3800/3900 Family

倍率 : 5 unit - 800,000 unit
分解能: 15, 4, 3 nm

... 高性能を、ここまで使いやすく、ここまで多用途に 日立ハイテクの走査電子顕微鏡 SU3800/SU3900は、操作性と拡張性を両立させました。 数々の操作もオート化し、高性能を効率的に活用することができます。 多目的大型試料室を搭載し、In-Situ解析にも対応しました。 ①大型試料に対応 ■大型/重量試料対応ステージ • リスクを低減する試料交換シーケンス • スループットを向上する試料交換室 • 自由度を高める、ステージ移動制限解除機能* • ステージ移動の安全性を高める、チャンバスコープ* ■可動範囲を全域サポート、大型試料の全域観察を実現したSEM ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡
FlexSEM II

倍率 : 6 unit - 800,000 unit
分解能: 4, 15 nm

... 「先進のSEMをよりコンパクトに」 わずか45 cm幅のコンパクト設計ながら、4.0 nmの像分解能を実現。 新開発のユーザーインターフェース、電子光学系が高性能をさらに身近にします。 価格:お問い合わせください 取扱会社:株式会社 日立ハイテク FlexSEM 1000 IIは、新設計の電子光学系と高感度検出器により、加速電圧20 kVで像分解能 4.0 nmを実現しています。新開発のユーザーインターフェースは、明るさやフォーカスの自動調整機能の高速化により、短時間で多彩な観察を可能にします。また、電子顕微鏡の欠点であった視野探しの困難さを容易にする新ナビゲーション機能「SEM ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡
JSM-IT810

... JSM-IT810は、次世代型電子光学制御システム"Neo Engine"と、ZeromagやEDSインテグレーションなどの高い操作性を実現する"SEM Center"を搭載しています。さらに自動観察・分析機能"Neo Action"や自動校正機能は効率性や生産性の向上だけでなく、労働力不足の解消に貢献します。 対物レンズの違いにより、汎用FE-SEMであるハイブリッドレンズ〈HL〉、より高分解能観察や分析を可能にするスーパーハイブリッドレンズ〈SHL〉、対物レンズの下部に強い磁場レンズを形成するセミインレンズ〈SIL〉をラインナップしており、お客様の様々なニーズに応じた装置を提供します。 直感的な操作で、誰でも簡単にSEM観察やEDS分析を自動化することができます。 試料: ...

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Jeol
光学顕微鏡
光学顕微鏡
Eclipse LV100ND

重量: 9.5 kg
長さ: 657 mm
: 251 mm

... 多彩な反射・透過照明観察に対応した正立顕微鏡シリーズ。電子部品や材料の検査をはじめ、幅広い分野でお使いいただける工業用顕微鏡です。 汎用性の高い反射/透過照明併用正立顕微鏡 ニコンCFI60-2の優れた光学系により、目視観察とデジタルイメージングのどちらにおいても優れた画像を提供。 さまざまな産業分野向けの工業顕微鏡の用途に合わせ、観察方法/目的に応じたスタンド部や照明部の選択を可能にし、多彩な観察方法に対応します。 ECLIPSE LV100NDA / LV100ND 電子部品、素材‧材料、光学部品などさまざまな用途でお使いいただける、反射‧透過照明を備えた工業顕微鏡です。 CFI60-2対物レンズ ニコンの革新的な設計により、高NAと長作動距離を両立。クリアな明視野、暗視野、簡易偏光、微分干渉、位相差観察を高い操作性で行えます。 顕微鏡デジタルカメラ ...

光学顕微鏡
光学顕微鏡
UP-5000

分解能: 0.01 nm

... 大きなサンプル画像も 簡単に取得 大面積光学プロファイラー UP-5000 6-in-1画像解析 干渉計+共焦点+スペクトル 膜厚+暗視野+可変焦点+ AFM +ラマン 広い用途と高い正確性 光学プロファイラーUP-5000の技術、性能、解像度、および汎用性は、独自のクラスを作成します。高速スキャン、複数のイメージング技術、高解像度を備えたUP-5000は、大規模なサンプル表面イメージングに最適なソリューションを提供します。 ハイスピードカメラ 200FPSの業界をリードするカメラ。 ...

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RTEC Instruments
原子間力顕微鏡
原子間力顕微鏡
LensAFM

... ナノサーフレンズAFMは原子間力顕微鏡で、光学顕微鏡やプロフィロメーターが解像度の限界に達したところを補います。通常の対物レンズのように取り付けられるため、これらの装置の分解能と測定能力を拡張します。LensAFMは3D表面形状情報を提供するだけでなく、測定サンプルの様々な物理特性の分析にも使用できます。 シームレスな統合 研究者が光学顕微鏡と原子間力顕微鏡の技術を組み合わせようとする場面は、ますます増えています。光学顕微鏡の使いやすさ、スクリーニング能力、必要最小限のサンプル前処理は、ほとんど比類のないものです。しかし、100倍の対物レンズの分解能では不十分な場合、LensAFMの出番となる。非常に小型の設計と巧妙な取り付け機構により、光学顕微鏡やプロフィロメーターのタレットを回転させるだけでスキャンを実行できます。 AFMで光学顕微鏡を強化し、高度な知見を得る 光学顕微鏡の分解能は光の波長によって制限されるため、光学システムで達成できる分解能には壁があります。このため、光学顕微鏡と原子間力顕微鏡の組み合わせが、ますます多くのアプリケーションで必要とされています。さらにAFMは、透明な試料や光学的な評価が困難な試料の特性評価の問題を克服する。しかし、興味深いのは試料の粗いトポグラフィーだけではない:AFMは、他の材料特性に関する知識も得ることができる、 ...

走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡

... また、Microhone® CNC Tooling and Abrasive Systemをアジャイル環境で使用することで、品質をより正確に把握し、完成した部品が顧客の期待に応えられるかどうかプロセスをテストする機会も得られます。 PSS-研磨剤・工具部門の先端技術センターは、メーカーに試験、文書化、仕事の仕様を満たすために必要な統計データを提供します。試験の最終成果として、「シックス・シグマ」の手法を用いた一連の正式な報告書が作成され、お客様が達成できる測定結果や、そこに至る方法の青写真が文書化されます。 PATインコメーター|CNCハネウェル|CNCツーリング PATインコメータは、2.5ミクロン、1億分の1インチまでの穴の真円度、真直度(円筒度)を表示します。 表面形状測定機|CNC工具|株式会社 ...

光学顕微鏡
光学顕微鏡
CM EXPLORER

... 柔軟で総合的な測定ソリューション MarSurf CM エクスプローラーは、 堅牢な構造で環境の影響を受けにくいため、テストラボでの使用に適しており、生産環境での品質保証に必要な機能を備えています。 典型的な測定タスク • ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178に準拠した粗さ測定 • トポグラフィー測定(体積、摩耗、トライボロジーを含む) • 輪郭と形状 (2D, 3D) • 細孔、粒子分析 • 欠陥検出 • ... 最高のデータ品質 これは当社の最も重要な基準の一つであり、トレーサビリティと監査可能性を確保するための優れた精度、正確さ、繰り返し性、再現性、および文書化に相当します。お客様に対する当社の最大のサービスは、エンジニアリング、製品、プロセス設計、品質管理などの分野で確実に実装できる定量的な測定値を提供することです。 正しく、再現性のある測定 測定データは確実に記録され、複製が可能であるため、最高品質の生データとプロファイル精度が保証されます。 幅広いワークピースに対応 素材の反射性、吸収性、不透明性、透明性にかかわらず、あらゆる形状や表面特性を材質に依存せずに測定します。 直感的な操作性 既知の表面に対する測定プロトコルの使用を含む、すべての重要な測定パラメータに自動モードを備えたシンプルなユーザーガイド付きインタフェース。 ...

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