地形測量用顕微鏡

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走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
Phenom Pure G6

倍率 : 160 unit - 175,000 unit
分解能: 0 nm - 15 nm

... 経済的で使いやすく、信頼性の高い自動化機能を備えたデスクトップSEM。 Thermo Scientific Phenom Pure 卓上型走査電子顕微鏡(SEM)は、光学顕微鏡から電子顕微鏡への移行に理想的なツールです。高分解能イメージングを経済的に実現し、クラス最高のイメージング結果を提供します。 Phenom Pure Desktop SEMは、長寿命、高輝度CeB6光源により高品質な画像を提供し、市場最速のローディングとイメージング時間を実現します。信頼性の高いオートフォーカスと自動ソースアライメントにより、市場で最も使いやすいシステムとなっています。 迷わないナビゲーション ユニークなネバーロストナビゲーションにより、ユーザーは常にサンプル上の位置を把握することができます。光学像と電子光学像のオーバービューは、常に明確な基準点を提供します。内蔵の電動ステージにより、試料を素早く移動することができます。 簡単操作 わずか10分の基本トレーニングで、すぐに撮影が可能です。様々なサンプルに対応できるよう、豊富なサンプルホルダーをご用意しています。特許取得済みのサンプル真空ローディング技術により、サンプルローディングは迅速かつ安全です。 SEMのカスタマイズ Phenom ...

走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
Phenom ParticleX TC

倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 0 nm - 10 nm

... 多目的デスクトップSEMによる部品クリーン度解析。 部品クリーン度解析用デスクトップSEM Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEMは、マイクロスケールでのテクニカルクリーンネスを可能にする多目的デスクトップSEMです。 材料特性評価 Phenom ParticleX Desktop SEMは、高品質な自社分析を可能にする汎用的なソリューションです。材料の特性評価、検証、分類を迅速に行うことができ、迅速かつ正確で信頼できるデータで生産をサポートします。また、操作が簡単で習得が早いため、より多くのユーザーに粒子・材料分析の門戸を開いています。 主な機能 技術的なクリーン度 自動車産業において、光学顕微鏡の範囲を超えた微小粒子の分析が求められる中、Phenom ...

走査型透過電子顕微鏡
走査型透過電子顕微鏡
SU9000II

倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.8, 0.4, 1.2 nm

超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 SU9000II コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。 SU9000IIは日立FE-SEMの最上位機種です。 低収差レンズの最高峰であるインレンズ型対物レンズを搭載したSU9000IIは、世界最高分解能 ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
電界放出形走査電子顕微鏡
電界放出形走査電子顕微鏡
SU5000

分解能: 1.2 nm

SU5000 & EM Wizardが創造するFE-SEMの新たな世界。 SEMを初めて使用されるユーザーに対しても「美しい像が得られる体験」、そして一人で習熟・熟達していける「成功体験」、熟達したユーザーにも豊富な機能で提供する新たな「体験」。 EM Wizardはさまざまな“User Experience”を提供し、新たなSEMの楽しさ、面白さを拓きます。 あらゆるユーザーに高分解能・再現性・スループットを提供する、新開発ユーザーインターフェース「EM ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡
SU series

倍率 : 5 unit - 800,000 unit
分解能: 15, 4, 3 nm

高性能を、ここまで使いやすく、ここまで多用途に 日立ハイテクの走査電子顕微鏡 SU3800/SU3900は、操作性と拡張性を両立させました。 数々の操作もオート化し、高性能を効率的に活用することができます。 多目的大型試料室を搭載し、In-Situ解析にも対応しました。 ①大型試料に対応 ■大型/重量試料対応ステージ • リスクを低減する試料交換シーケンス • スループットを向上する試料交換室 • 自由度を高める、ステージ移動制限解除機能* • ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
光デジタル顕微鏡
光デジタル顕微鏡
DVM6

... 故障解析、品質保証・管理、研究開発、フォレンジックに最適なデジタルマイクロスコープです。優れた光学系、直感的な操作性、インテリジェントなソフトウェアにより、ユーザーは信頼性の高い結果を得ることができます。 大きなズームレンジ(16:1)により、倍率を素早く変更することができます。0.18mmから35mmまで、リフォーカスすることなく被写界深度を変更することができます。チルトスタンド(-/+ 60°、アダプター使用で最大90°)と回転サンプルステージ(-/+180°)は、片手だけで簡単に操作することができます。高解像度1000万画素カメラと高速ライブ画像表示(30枚/秒)。2Dおよび3D測定、再現性のある結果、レポート作成が数クリックでできるインテリジェントなソフトウェア。 ...

分析用顕微鏡
分析用顕微鏡
ZEISS Smartproof 5

... 内蔵広視野共焦点顕微鏡ZEISS Smartproof 5は、品質保証と品質管理における表面分析のためのシステムです。 粗さや地形特性評価など、QA/QC部門、生産環境、R&Dラボで毎日出てくる幅広い産業用途に使用できます。 -高解像度と高速の完璧なバランス -国際規格に基づくデータ分析とレポート作成 -ワークフロールーチンによる操作が容易なシステム -指導可能な検査ジョブとワークフロー指向のグラフィカルユーザーインターフェイス -ユーザーに依存しないデータ収集の基礎として正確で再現性の高い結果 -完全統合システム:光学機器、電子機器、カメラはすべて顕微鏡に封入されています。 ...

光学顕微鏡
光学顕微鏡
Eclipse LV100ND

重量: 9.5 kg
長さ: 362 mm
: 251 mm

多彩な反射・透過照明観察に対応した正立顕微鏡シリーズ。電子部品や材料の検査をはじめ、幅広い分野でお使いいただける工業用顕微鏡です。 汎用性の高い反射/透過照明併用正立顕微鏡 ニコンCFI60-2の優れた光学系により、目視観察とデジタルイメージングのどちらにおいても優れた画像を提供。 さまざまな産業分野向けの工業顕微鏡の用途に合わせ、観察方法/目的に応じたスタンド部や照明部の選択を可能にし、多彩な観察方法に対応します。 ECLIPSE LV100NDA ...

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Nikon Metrology
AFM顕微鏡
AFM顕微鏡
CoreAFM

分解能: 5 nm - 100,000 nm

... お金に最適な価値を提供するコンパクトな研究 AF M CoreAFMは、AFMのコアコンポーネントをインテリジェントに組み合わせて最大限の汎用性と使いやすさを実現した結果です。 この基本的な設計アプローチにより、CoreAFMは最高の状態でAFMを実行するように装備されています。 最新の屈曲誘導式スキャナ、XYZサンプルステージ、カメラ、アクティブ振動絶縁テーブル、エアフローシールドを1つのオールインワンユニットに融合させたため、比類のないコンパクトなフットプリントを備えた完全なAFMシステムが実現します。 ...

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Nanosurf
光学顕微鏡
光学顕微鏡
CM EXPLORER

柔軟で総合的な測定ソリューション MarSurf CM explorer は、表面の正確な3次元計測と分析を行うためのコンパクトな共焦点顕微鏡で、 非接触、材料に依存せず、高速に測定することができます。 柔軟で総合的な測定ソリューション MarSurf CM エクスプローラーは、 堅牢な構造で環境の影響を受けにくいため、テストラボでの使用に適しており、生産環境での品質保証に必要な機能を備えています。 典型的な測定タスク ISO 4287 ...

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