Máquina de ensaio de acoplamento CT1000-SiPh

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Visão geral
O CT1000-SiPh é um equipamento de teste para chips ópticos de silício projetado para industrialização em alto volume. O sistema combina uma seção de teste dedicada e uma seção de carga/descarga para fornecer acoplamento e medição rápidos e precisos de arranjos de fibra (FA) a chips ópticos de silício. Integra um sistema de visão de alta resolução, um mecanismo de acoplamento de alta precisão e controlo dinâmico em malha fechada da força para garantir consistência de medição e produtividade.

Principais características

• Sistema de visão de alta resolução (resolução visual 50 nm)
• Mecanismo de acoplamento de alta precisão para alinhamento FA→chip
• Controlo dinâmico em malha fechada da força para acoplamento rápido e repetível
• Design altamente compatível que suporta vários tipos de chips e interfaces
• Carregamento/descarregamento em cesto automatizado para rendimento de produção

Vantagens

• Sistema de amortecimento por almofada de ar independente na seção de teste para isolar vibrações externas e de carga/descarga
• Manuseio automatizado em estilo cesto adequado para produção em massa
• Feedback de pressão terminal para controlo e monitorização precisos do processo
• Suporte a processos como expansão por filme de ar quente

Áreas de aplicação

• Fotónica
• Dispositivos de potência
• Dispositivos RF de micro-ondas
• Veículos de nova energia (módulos de transmissão e sensores)

Especificações

• Capacidade do carrinho: 25 anéis wafer de 8 polegadas
• Resolução visual: 50 nm
• Peso do equipamento: aprox. 1300 kg
• Fonte de pressão positiva: pressão ≥ 0,5 MPa; calibre de recepção: 8 mm
• Fonte de pressão negativa: grau de vácuo ≤ -80 KPa; calibre de recepção: 8 mm (bomba de vácuo opcional)